CZUJNIKI PIEZOELEKTRYCZNE - POMIARY DRGAŃ
Transkrypt
CZUJNIKI PIEZOELEKTRYCZNE - POMIARY DRGAŃ
Przetworniki piezokwarcowe 1. Zjawisko piezoelektryczne Zjawisko piezoelektryczne polega na powstawaniu ładunków elektrycznych na pewnych powierzchniach ograniczających niektóre rodzaje kryształów przy ich rozciąganiu lub ściskaniu wzdłuŜ określonych osi. Własności piezoelektryczne, odkryte w 1880 r. przez braci Curie, wykazują takie kryształy naturalne jak np. kwarc, SiO2, turmalin jak i sztuczne np. tytanian baru BaTiO3, winian sodowo-potasowy (sól Seignette’a) NaKC4H4O6*4H2O. W budowie przetworników do pomiaru szybkozmiennych ciśnień najbardziej rozpowszechnił się kwarc ze względu na duŜa wytrzymałość, dobre własności izolacyjne oraz niezaleŜność charakterystyki piezoelektrycznej w stosunkowo szerokim zakresie temperatur. Kwarc krystalizuje w układzie heksagonalnym, przy czym elementarna komórka strukturalna jest pryzmat. Uproszczony schemat kryształu kwarcu przedstawiono na rys.1. W krysztale wyróŜnia się trzy osie główne pokazane na rys.1. Są to osie: 1. z - z - oś podłuŜna (optyczna) - równoległa do krawędzi granianiastosłupa, 2. x - x - oś elektryczna - prostopadła do osi podłuŜnej i przechodząca przez krawędzie sześciennego pryzmatu, 3. y - y - oś mechaniczna - prostopadła do płaszczyzny przechodzącej przez osie x-x i z-z. W krysztale istnieją jedna os z-z oraz trzy pary Rys.1. Oznaczenie osi kryształu kwarcu osi x-x i y-y przesunięte względem siebie o kąt 120o. Wycięta z kryształu kwarcu płytka prostopadłościenna (rys.1), której krawędzie są odpowiednio równolegle do osi optycznej, elektrycznej oraz mechanicznej, poddana obciąŜeniu wzdłuŜ którejkolwiek osi prostopadłej do osi optycznej wykaŜe na płaszczyznach prostopadłych do kierunku obciąŜenia ładunki elektryczne. Przy działaniu obciąŜenia wzdłuŜ osi optycznej ładunki nie powstaną. Schematy odkształcenia kryształu przy jego obciąŜeniu przedstawiono na rys.3. Ładunki elektryczne powstają wiec tylko przy działaniu obciąŜenia w kierunkach osi x-x, tj. osi elektrycznej oraz osi y-y tj. osi mechanicznej kryształu. Zjawisko piezoelektryczne powstające przy działaniu siły skierowanej wzdłuŜ osi elektrycznej x-x nazywa się zjawiskiem piezoelektrycznym podłuŜnym (rys.2a). 1 Wartość ładunków powstających na powierzchniach prostopadłych do osi x-x pod wpływem działania siły skierowanej wzdłuŜ osi elektrycznej nie zaleŜy od wymiarów geometrycznych płytki: Q = k ⋅ Ax ⋅ P x = k ⋅ P x Ax gdzie: Q - ładunek na powierzchni prostopadłej do osi elektrycznej, k - moduł piezoelektryczny np. dla kwarcu k=2.3*10-12 [As/N], Px - siła zgodna z kierunkiem osi elektrycznej, Ax - powierzchnia płytki prostopadła do osi elektrycznej. Natomiast zjawisko piezoelektryczne powstające przy a) działaniu siły skierowanej wzdłuŜ osi mechanicznej Px y-y nazywa się zjawiskiem piezoelektrycznym poprzecznym (rys.2b) i korzysta się z tego zjawiska nieraz w celu zwiększenia czułości przetworników Si O2 O2 przez zwiększenie stosunku wymiarów a/b płytki, Si Si O2 gdyŜ w tym przypadku ładunki powstające na płaszczyznach prostopadłych do osi elektrycznej zaleŜą od wymiarów płytki. Px b) b Py Q = - k ⋅ Ax ⋅ = - k ⋅ P y ⋅ a a Ay gdzie: Q - ładunek na powierzchni prostopadłej do osi Py Si elektrycznej, O2 O2 Py k - moduł piezoelektryczny b Si Si Py- siła zgodna z kierunkiem osi mechanicznej, O2 Ax- powierzchnia płytki prostopadła do osi elektrycznej. Ay- powierzchnia płytki prostopadła do osi mechanicznej, Rys.2. Schemat odkształceń kryształu a,b - wymiary geometryczne płytki. kwarcu przy jego obciąŜaniu wzdłuŜ róŜnych osi: a) podłuŜne zjawisko Tak, więc wartość ładunku w przypadku obu zjawisk piezoelektryczne, b) poprzeczne zjawisko zaleŜna jest od obciąŜenia, a w przypadku zjawiska piezoelektryczne. poprzecznego dodatkowo takŜe od wymiarów geometrycznych płytki. Oczywiście w obu przypadkach wartość ładunku jest proporcjonalna do odkształcenia w granicach zaś odkształceń spręŜystych - do nacisku. 2. Zasady budowy przetworników piezoelektrycznych W budowie przetworników piezokwarcowych wykorzystuje się głównie podłuŜne zjawisko piezoelektryczne. Płytki kwarcowe wykonywane są w postaci walców, w których wysokość jest mniejsza od średnicy, przy czym osią walca jest oś x-x kryształu kwarcu. Przy wykorzystaniu zjawiska podłuŜnego, aby zwiększyć ładunek buduje się obecnie stosy płytek nakładanych jedna na drugą i połączonych ze sobą równolegle (rys.3). 2 Dzięki bardzo pomysłowemu łączeniu płaszczyzn płytek zsumowano wszystkie pojawiające się ładunki dodatnie i ujemne, co umoŜliwiło powiększenie czułości przetwornika. Pomiary w przestrzeniach o wysokich temperaturach mogą mimo chłodzenia przetwornika spowodować nagrzanie się kwarcu. Pociąga to za sobą zmiany w oporności własnej kwarcu oraz jego stałej piezoelektrycznej. ZaleŜność oporności właściwej kwarcu od temperatury przedstawiono na rys.4. Rys.3. Schemat łączenia stosu płytek kwarcowych w przetwornikach AVL [6] Oporność kwarcu w temperaturze 20oC wynosi ok. 1014Ω/cm3, natomiast przy wzroście temp. do 100oC wynosi juŜ tylko 1013Ω/cm3. Przy podgrzaniu kwarcu do Rys.4. Zmiana oporności właściwej kwarcu w temperatury powyŜej 573oC traci on swoje funkcji temperatury własności piezoelektryczne. Spadek stałej piezoelektrycznej wynosi 3 ÷ 10 % przy temperaturze 200oC. Z tych teŜ względów nie dopuszcza się do większego nagrzewania płytek kwarcowych, aby nie wprowadzać zmiany w charakterystykach przetworników. Jedna z najistotniejszych cech przetwornika, która w zasadzie decyduje o jego przydatności do pomiarów, jest liniowość wskazań w całym zakresie pomiarowym. Zjawisko piezoelektryczne jest w granicach odkształceń spręŜystych proporcjonalne do nacisku. Jeśli ta zaleŜność nie jest spełniona, w przewaŜającej liczbie przypadków jest to spowodowane przez mechaniczna stronę konstrukcji przetwornika bądź przez kanał pomiarowy. Nieliniowość przetwornika nie powinna przekraczać w całym zakresie pomiarowym ±1%. Przy szczególnie starannym wykonaniu i selekcji płytek moŜna ja zmniejszyć do ± 0,2%. W celu zapewnienia dobrej liniowości przetwornika wszystkie płaszczyzny styku zarówno płytek kwarcowych, jak i części metalowych musza być optycznie polerowane w celu uzyskania idealnie gładkich płaszczyzn. Chodzi tu o to, by nie pozostały Ŝadne nierówności na płaszczyznach przylegania, gdyŜ podczas obciąŜenia przetwornika w warunkach pracy powierzchnia styku ulegałaby powiększeniu (przez „rozgniatanie” nierówności), a to wywołałoby zwiększenie czułości przetwornika. 3 MontaŜ przetworników odbywa się w pomieszczeniach całkowicie pozbawionych kurzu, gdyŜ nawet najmniejsze zanieczyszczenia, które mogłyby się dostać pomiędzy przylegające płaszczyzny mogą spowodować wyraźne pogorszenie liniowości przetwornika. Ponadto w celu zapewnienia duŜej liniowości przetwornika elementy kwarcowe są podczas montaŜu poddane trwałemu obciąŜeniu ściskającemu, przez zastosowanie dwuczęściowej konstrukcji kadłuba i skręcenie obu części odpowiednio duŜym momentem. ObciąŜenie płytek kwarcu wywierane jest poprzez membranę zamykającą przetwornik od strony przestrzeni pomiarowej (czujniki ciśnień) lub przez masę sejsmiczna w przypadku akcelerometrów. Typowe konstrukcje przetworników kwarcowych przedstawiono na rysunkach 5 i 6. Na rys.5 zilustrowano budowę przetwornika do pomiarów ciśnienia gazu w silnikach spalinowych. Czujnik taki musi reagować na ciśnienie mniejsze, jak i większe od atmosferycznego, tak jak to jest w cylindrze silnika, dlatego płytki kwarcowe poddane są wstępnemu naciskowi za pomocą spręŜyny. Dwie płytki kwarcu 1 o przekroju kołowym są umieszczone miedzy stalowymi przekładkami 2 i znajdują się w cienkościennej spręŜystej tulei 3. Na zewnątrz tej tulei przepływa strumień wody przechodzący przez wlot i wylot 7; strumień ten ma chłodzić otoczenie płytek kwarcowych. Siła nacisku F jest przekazywana na tuleje za pomocą membrany 4, która jednocześnie nie przepuszcza gazu do środka przetwornika. Sygnał z czujnika jest odprowadzony przez przewód 5 prowadzony w izolatorze 6. Rys.6. Konstrukcja piezokwarcowego przetwornika do pomiaru przyśpieszeń Rys.5. Konstrukcja piezokwarcowego przetwornika do pomiaru ciśnień Na rys.6 pokazano przekrój typowego piezokwarcowego czujnika drgań. Jest to przetwornik elektromechaniczny, którego podstawę 6 mocuje się do drgającego elementu. Siły bezwładności masy 3 odkształcają element piezokwarcowy 4 i wskutek tego generują w nim napięcie proporcjonalne do przyspieszenia mierzonych drgań. SpręŜyna 2 jest potrzebna dla uzyskania wstępnego docisku elementu piezokwarcowego. Zakres pomiarowy takich czujników zawiera się w przedziale 2 Hz do 15 kHz. Przykład nowoczesnego przetwornika ciśnień szybkozmiennych firmy KISTLER [2] typ 6061 wraz z jego danymi technicznymi pokazano na rys.7. 4 Zakres pomiarowy Kalibrowane zakresy częściowe - [bar] - [bar] - [bar] Dopuszczalne przeciąŜenie - [bar] Czułość - [pC/bar] Częstotliwość drgań własnych - [kHz] Liniowość, wszystkie zakresy - % FSO Dopuszczalny zakres temperatur pracy bez chłodzenia - [ oC ] o Zmiany czułości ( w zakresie 20...100 C) -[%] ( w zakresie 20...350oC) -[%] o ( przy 200 ± 50 C) -[%] Oporność izolacji przy 20oC - [Ω] Pojemność - [ pF] Masa -[g] Średnica gwintu - [ mm] 0. .200 0...20 0...2 250 ≅ 25 > 90 ≤ ± 0,8 -196...350 ≤ ±1 % ≤ ±3.5 % ≈1% ≥1013 7 14 M10 * 1 Rys.7. Piezokwarcowy przetwornik ciśnienia KISTLER 6061 [2] Charakterystykę cechowania tego przetwornika oraz zaleŜność czułości od temperatury pokazano na rys.8. 5 Rys.8. Charakterystyka cechowania przetwornika KISTLER 6061 wraz zaleŜnością czułości od temperatury[2] 6 3. Czujnik piezokwarcowy w układzie pomiarowym Przetwornik piezokwarcowy, po umieszczeniu na powierzchniach jego płytek (prostopadłych do osi elektrycznej) metalowych elektrod, w obwodzie elektrycznym będzie zachowywał się jak kondensator o pojemności C ze zgromadzonym ładunkiem Q: ε ⋅ε o ⋅b ⋅ c C= a gdzie: ε - względna przenikliwość dielektryczna kwarcu = 4,5, εo - przenikliwość dielektryczna próŜni = 8,87*10-12 F/m2. JeŜeli pod wpływem siły Px na powierzchniach płytki pojawi się ładunek Q to wywoła on róŜnice potencjałów: Q k ⋅ Px U= = C C W rzeczywistości do pojemności C naleŜy dodać równolegle połączona pojemność układu pomiarowego Co (przewody pomiarowe, miernik) co daje: k ⋅ Px Q U= = C + Co C + Co Czułość przetwornika definiowana jest jako: dU k S= = dPx C + C o Czułość przetwornika moŜna wiec zwiększyć zmniejszając pojemność Co. Przetwornik, traktowany jako kondensator naładowany do napięcia U ładunkiem Q, podłączony jest do wejścia wzmacniacza, który posiada pewna skończona wartość rezystancji wejściowej Rz. Schemat zastępczy układu połączeń przetwornika przedstawiano na rys.9. Rys. 9. Schemat zastępczy pracy układu przetwornika piezokwarcowego Ładunek elektryczny powstający na jego powierzchniach w chwili przyłoŜenia siły P zachowuje się tak długo, jak długo działa siła Px - pod warunkiem, Ŝe nie ma upływu. W rzeczywistości 7 jednak ulegnie rozładowaniu poprzez oporność Rz. Napięcie na elektrodach przetwornika będzie malało zgodnie z zaleŜnością: t U = U p ⋅ e- T gdzie: Up - napięcie początkowe = Q/Cz, T - stała czasowa = RzCz. WyraŜenie e-t/T moŜna zastąpić dwoma pierwszymi wyrazami szeregu potęgowego, w który moŜna je rozwinąć: t t t e T ≅ 1- ≅ 1T Rz ⋅ C z Uwzględniając powyŜszą zaleŜność otrzymamy: U t t = 1= 1T Up Rz ⋅ C z Z pomiarowego punktu widzenia zaleŜy nam na tym, aby mierzyć wartość napięcia Up, które jest napięciem dokładnie odzwierciedlającym stan obciąŜenia (ciśnienie, przyspieszenie) przetwornika piezokwarcowego. Napięciem mierzonym jest jednak napięcie U. RóŜnica pomiędzy nimi mówi nam o błędzie wprowadzonym przez układ pomiarowy. Aby upływ był moŜliwie niewielki naleŜy dąŜyć do tego, aby stała czasowa układu była moŜliwie duŜa. Przyjmując dopuszczalne zmniejszenie potencjału w danym przedziale czasu określić moŜna niezbędne wartości Rz. Przyjmijmy, Ŝe po czasie t = 60s upływ będzie wynosić 1 % (napięcie U spadnie do wartości 0,99Up). Z równania (9) wynika, iŜ stała czasowa T = CzRz zapewniająca tak powolne rozładowanie kondensatora o pojemności Cz musi wynosić T = 6000s, czyli niezbędna oporność wejściowa wzmacniacza przy pojemności Cz=100pF zapewniająca tę stałą czasową: T = 6 ⋅ 1013 Ω Rz = Cz Z powyŜszego wynika, iŜ wzmacniacz powinien charakteryzować się: • małą pojemnością wejściowa (dla zapewniania duŜej czułości), • duŜą rezystancja wejściowa (dla zapewnienia małego upływu ładunku. Konsekwencja tego jest to, iŜ przetwornika piezoelektrycznego nie moŜna bezpośrednio podłączyć do Ŝadnego przyrządu pomiarowego, który nie odznacza się określonymi powyŜej parametrami wejścia. Tak duŜe rezystancje wejściowe zapewniają specjalne układy elektroniczne zwane przedwzmacniaczami pracującymi w układzie pokazanym na rys.10. Zadaniem przedwzmacniacza jest przede wszystkim transformacja wysokiej impedancji wymaganej na jego wejściu z punktu widzenia skuteczności pomiaru do Rys.10. Schemat układu połączeń przetwornika piezokwarcowego niskiej impedancji na z miernikiem wyjściu wymaganej dla prawidłowej współpracy z przyrządami pomiarowymi i analizującymi. W większości przypadków przedwzmacniacz umoŜliwia takŜe wzmocnienie sygnału mierzonego. 8 4. Wzmacniacze ładunku Wzmacniacze słuŜące do pomiaru sygnału z przetwornika piezoelektrycznego noszą nazwę wzmacniaczy ładunku. Zasada ich działania polega na pomiarze napięcia na wewnętrznym kondensatorze o znanej pojemności Cz. Stosowane są dwie struktury wzmacniaczy ładunku (rys.11): • z kondensatorom Cz w obwodzie wejściowym, zwane wzmacniaczami elektrometrycznymi lub wzmacniaczami napięcia, • z kondensatorom Cz w obwodzie sprzęŜenia zwrotnego, zwane wzmacniaczami ładunku. a) Zerowanie b) Rz Zerowanie Cz Iwe ICz W Q W ICw Rw Cw Cz Q Uwe Uwy Cw Uwe Uwy Rys.11. Schematy blokowe wzmacniaczy ładunku: a) z kondensatorom pomiarowym na wejściu, b) z kondensatorom pomiarowym w obwodzie sprzęŜenia zwrotnego; ( Q - ładunek sygnału wejściowego, Cw- pojemność wypadkowa (suma pojemności przetwornika, kabla łączącego przetwornik ze wzmacniaczem oraz pojemności wejściowej wzmacniacza), Cz - pojemność kondensatora zakresu pomiarowego, Rw - rezystancja wypadkowa wejściowa, Rz - rezystancja determinująca stała czasowa układu). Działanie układu przedstawionego na rys.11.a. jest następujące: ładunek Q generowany przez przetwornik ładuje wybrany dla danego zakresu pomiarowego kondensator o pojemności Cz= C1...Cn do napięcia wejściowego określonego równaniem: Q U= Cz + Cw Na wyjściu wzmacniacza o wzmocnieniu K uzyskuje się napięcie: Q U wy = K Cz + Cw Napięcie to, jak widać, zaleŜy od równieŜ od pojemności kabla łączącego przetwornik ze wzmacniaczem ładunku. Jest to „pomiarowo” bardzo niekorzystne, poniewaŜ wymaga kaŜdorazowego wzorcowania w komplecie z kablem uŜywanym podczas pomiarów, gdyŜ kaŜda zmiana jego pojemności powoduje pojawienie się na wyjściu wzmacniacza napięcia zakłócającego pomiar. Dolna częstotliwość graniczna sygnału mierzonego moŜna określić z zaleŜności na stała czasowa obwodu wejściowego wzmacniacza Tw= Rw(Cw+Cz). 9 Bardzo dobrym wzmacniaczem ładunku jest układ przedstawiony na rys.11.b. Kondensatory zakresu pomiarowego o pojemnościach Cz= C1...Cn znajdują się w pętli sprzęŜenia zwrotnego. Napięcie wyjściowe wzmacniacza obliczyć moŜna w następujący sposób: Q z C z ⋅ ( U we - U wy ) = I cz = ∆t ∆t a uwzględniając, Ŝe: U wy U wy K = → U we = K U we otrzymujemy: 1 U wy ⋅ 1+ I cz = - C z ⋅ ∆t K Analogicznie: Q w C w ⋅ U we 1 U wy = = - ⋅Cw ⋅ I cw = ∆t ∆t K ∆t Uwzględniając, Ŝe Iwe= Icz + Icw, przy pominięciu prądu wyjściowego wzmacniacza i przy załoŜeniu, Ŝe R→∞ otrzymuje się równanie: Q 1 1 U wy I we = I cz + I cw = = - 1 + C z + C w ∆t K K ∆t Stad moŜna wyznaczyć napięcie wyjściowe: Q U wy = 1 1 1+ + C w K K Zwykle we wzmacniaczu scalonym monolitycznym bądź hybrydowym współczynnik wzmocnienia K>>106 i przy tym załoŜeniu wzór na napięcie wyjściowe moŜna uprościć do postaci: Q U wy ≅ Cz Napięcie wyjściowe zaleŜy, więc tylko od pojemności Cz określającej zakres pomiarowy, a nie zaleŜy od pojemności wypadkowej Cw. Rezystory o wartościach Rz = R1...Rn słuŜą do wybierania stałej czasowej układu determinującej wartość dolnej częstotliwości granicznej sygnału mierzonego. Ograniczenie wzmocnienia sygnału przy najmniejszych częstotliwościach powoduje zmniejszenie dryfu i zwiększenie stabilności wzmocnienia. Przyczynami dryfu wzmocnienia są napięcie niezrównowaŜenia i prąd wejściowy. Napięcie niezrównowaŜenia powoduje przepływ prądu przez kondensator Cz w obwodzie sprzęŜenia zwrotnego i wskutek tego napięcie wejściowe zmienia się w przybliŜeniu liniowo w kierunku dodatnim lub ujemny, zaleŜnie od znaku napięcia niezrównowaŜenia. Np. przy napięciu niezrównowaŜenia 10mV i rezystancji 1013 Ω otrzymuje się prąd dryfu 10-15A, co przy pojemności Cz = 100 pF, powoduje zmianę napięcia wejściowego o 0,01 mV/s. W omawianym przypadku po czasie 105s napięcie dryfu na wyjściu będzie wynosiło 1V. Prąd wejściowy wzmacniacza ładunku płynie bezpośrednio do kondensatora do kondensatora Cz w pętli sprzęŜenia zwrotnego. Powstałe wskutek tego napięcie na kondensatorze stanowi napięcie dryfu na wyjściu układu. Przy wartości tego prądu 10-13A napięcie dryfu 1 V (przy Cz =100pF) uzyska się po czasie 103s. Omawiany wzmacniacz ładunku dzięki sprzęŜeniu zwrotnemu charakteryzuje się bardzo małymi zniekształceniami nieliniowymi w szerokim zakresie częstotliwości. 10