„Transmisyjna mikroskopia elektronowa”

Wykład monograficzny
„Transmisyjna mikroskopia elektronowa”
poświęcony teorii i praktyce transmisyjnej mikroskopii elektronowej ciała stałego
będzie odbywać się w sali D Instytutu Fizyki PAN al. Lotników 32/46 Warszawa,
w czwartki o godzinie 10:15. Pierwszy wykład 11 października 2012 roku.
dr hab. Piotr Dłużewski
[email protected]
Plan
11.10.- Wprowadzenie: Nobel 1986, podobieństwa i różnice mikroskopii świetlnej i elektronowej,
możliwości pomiarowe i tryby pracy współczesnych mikroskopów elektronowych.
19.10 - Budowa: działo elektronowe, monochromator, kondensor, uchwyt preparatu, korektor aberracji
sferycznej, przesłony kondensora, obiektywu, selekcyjna, rejestracja obrazu, spektrometry promieniowania
X i strat energii elektronów, układ próżniowy i chłodzenia, komputerowy system kontroli i sterowania.
25.10 – Optyka elektronowa, przybliżenie przyosiowe, aberracje układu optycznego, funkcja przenoszenia
kontrastu, centrowanie działa i przesłony kondensora, regulacja monochromatora, środek prądowy
i napięciowy, korekcja astygmatyzmu Ronchigram i Zemlin tableau.
08.11 - Kinematyczna teoria dyfrakcji: atomowy czynnik rozpraszania wiązki elektronowej, funkcja
rozkładu radialnego, sieć krystaliczna, przestrzeń odwrotna, konstrukcja Ewalda,
15.11 – wskaźnikowanie elektronogramów, linie Kikuchiego, uporządkowanie krótkozasięgowe
i rozpraszanie dyfuzyjne,
22.11 – kontrast dyfrakcyjny, kontury ekstynkcyjne, obrazy w jasnym i ciemnym polu, metoda słabej wiązki,
strukturalna analiza fazowa.
29.11 - Dynamiczna teoria dyfrakcji: przybliżenie kolumnowe, równania Howie-Whelana, przypadek
dwuwiązkowy, obserwacje pola odkształceń,
06.12 – rozwiązanie równania falowego metodami funkcji Blocha i wielokrotnych przecięć, zjawisko
anomalnej absorpcji,
13.12 – uzyskiwanie i interpretacja wysokorozdzielczych obrazów mikroskopowych i ich symulacje,
20.12 - wyznaczanie pola odkształceń, obrazy dyfrakcyjne wiązki zbieżnej, nanodyfrakcja, precesyjna
dyfrakcja elektronowa.
03.01 – Skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa: parametry wiązki skanującej, obrazy w
ciemnym i jasnym polu, wyznaczanie grubości preparatu, z-kontrast, ilościowa interpretacja obrazów.
10.01 - Analityczna mikroskopia elektronowa: przekrój czynny na jonizację powłoki atomowej,
charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie, analiza widma EDXS, zasada działania detektorów
energii kwantów promieniowania X.
17.01 – jakościowa i ilościowa analiza składu atomowego, metoda ZAF, spektroskopia strat energii,
absorpcja plazmonowa, bliska struktura krawędzi absorpcji, obrazowanie z filtracją energii, dwuwymiarowe
rozkłady koncentracji pierwiastka.
24.01 - Komputerowe programy do: obróbki obrazów, indeksowania elektronogramów, symulacji obrazów
wysokorozdzielczych, rekonstrukcji funkcji falowej z serii rozogniskowanych obrazów, analizy jakościowej
i ilościowej widm EDX.
31.01 - Metody wykonywania preparatów: mechaniczne, chemiczne, elektrochemiczne, wiązką jonową,
zogniskowaną wiązką jonową.