WARSZTAT: „Zaawansowane „Zaawansowane

WARSZTAT: „Zaawansowane techniki obrazowania w
nanotechnologii”
(“Advanced methods of imaging in nanotechnology”)
nanotechnology”)
Prowadzący: dr inż. Jakub Karczewski z KFCS-CNA W.FTiMS
(Czas szkolenia: 15h (4 h wykładu + 11h zajęcia laboratoryjne)
Plan zajęć:
Wykład 1 (2h) Mikroskopia SPM (AFM i STM)
•
podstawy fizyczne,
•
podstawowe tryby obrazowania,
•
możliwości i ograniczenia metody,
•
przykładowe wyniki – prezentacja (on-line) działania układu
Wykład 2 (2h) Mikroskopia elektronowa (SEM)
•
podstawy fizyczne,
•
możliwości i ograniczenia metody,
•
analiza EDS
•
przykładowe wyniki – prezentacja (on-line) działania układu
Zajęcia laboratoryjne:
•
wprowadzenie – obsługa interfejsu programów edukacyjnych mikroskopów AFM i SEM (1h),
•
zajęcia indywidualne (2-3 osobowe grupy) prezentacja możliwości edukacyjnych mikroskopów
AFM i SEM,
•
analiza i interpretacja obrazów mikroskopowych
TERMINY WYKŁADÓW
Data
Dzień tygodnia
Godzina
Sala
2015-01-19
Pon
16.00-18.00
Wykład:3/07 C. Nanotechnologii
2015-01-20
Wt
16.00-18.00
Wykład: 3/06 C. Nanotechnologii
2015-01-21
Śr
16.00-19.00
Laboratorium: 0/20 C. Nanotech.
2015-01-22
Cz
16.00-19.00
Laboratorium: 0/20 C. Nanotech
2015-01-23
Pt
16.00-19.00
Laboratorium: 0/20 C. Nanotech
Projekt „Rozwój interdyscyplinarnych studiów doktoranckich na Politechnice Gdańskiej w zakresie nowoczesnych technologii” jest
współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego