„Mikroskopia optyczna i elektronowa” studia I stopnia

Zestaw zagadnień obowiązujących przy zaliczaniu przedmiotu
„Mikroskopia optyczna i elektronowa” studia I stopnia
Wykładowca:
dr inż. Dariusz ZASADA (bud.34, p. 2, 683 76 28) [email protected],
konsultacje: środa 15.00 17.00 i piątek 8.00 – 9.00.
dr inż. Paweł JÓŹWIK; (bud.34, p. 9, 683 71 35) [email protected],
konsultacje: środa 8.00 – 9.00 i czwartek 15.30 – 17. 30.
1. Badania makroskopowe.
2. Badania mikroskopowe.
3. Przedstawić i scharakteryzować podstawowe techniki badań strukturalnych materiałów.
4. Eksperyment rozproszeniowy.
5. Główne parametry mikroskopów optycznych.
6. Zdolność rozdzielcza mikroskopów optycznych i elektronowych.
7. Układ optyczny mikroskopu świetlnego a wady odwzorowania obrazu przedmiotu.
8. Podział, budowa i zastosowanie mikroskopów metalograficznych.
9. Podstawowe metody badań stosowane w mikroskopii optycznej.
10. Zgład metalograficzny.
11. Preparatyka-etapy przygotowania próbek.
12. Trawienie.
13. Preparatyka – artefakty.
14. Oddziaływanie wiązki elektronów z ciałem stałym.
15.
16.
17.
18.
19.
Dlaczego używamy transmisyjnej mikroskopii elektronowej?
Budowa i zasada działania transmisyjnego mikroskopu elektronowego.
Tworzenie i formowanie wiązki elektronów.
Zdolnośd rozdzielcza w TEM i jej ograniczenia.
Transmisyjny mikroskop elektronowy a skaningowy odbiciowy mikroskop elektronowy
podobieostwa i różnice.
–
20. Budowa SEM i TEM.
21. Zasada powstawania obrazu w SEM, podstawowe rodzaje detektorów.
22. Przygotowywanie próbek do obserwacji w SEM.
23. Transmisyjny mikroskop elektronowy a prześwietleniowy mikroskop świetlny – podobieostwa i
różnice.
24. Obserwacje w polu jasnym i ciemnym – zasada powstawania obrazu
25. Dyfrakcja elektronów.
26. Preparaty stosowane w transmisyjnej mikroskopii elektronowej.
27. Wykonywanie cienkich folii
28. Wykonywanie replik.
29. Mikroskopia sond skanujących.
30. Efekt tunelowy.
31. Budowa i zasada działania STM.
32. Metody badań STM.
33. Budowa i zasada działania AFM.
34. Tryby pracy AFM.
35. Podział technik spektroskopowych.
36. Mikroanalizatory EDS i WDS.
37. Spektroskopia elektronów Augera - możliwości i ograniczenia.
38. Spektroskopia masowa.
39. Fraktografia.