P - lipec

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Politechniki Wrocławskiej
INŻYNIERIA
PRODUKCJI
Dr hab. inż. JAN FELBA
Profesor nadzwyczajny PWr
1
PROGRAM WYKŁADU
WSTĘP
ORGANIZACJA PRODUKCJI
STEROWANIE PRODUKCJĄ
LOGISTYKA
ZARZĄDZANIE JAKOŚCIĄ, TQM
KOMUNIKACYJNE ASPEKTY ZARZĄDZANIA
PLANOWANIE DOŚWIADCZEŃ DOE
INŻYNIERIA JAKOŚCI; PODEJŚCIE TAGUCHI’EGO
SYSTEM ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ ISO
2
ZASADY RACJONALNEJ ORGANIZACJI PROCESU
PRODUKCYJNEGO
ZASADA LINIOWOŚCI
lp
Il 
,
l rz
MIARĄ OCENY LINIOWOŚCI JEST
WSPÓŁCZYNNIK IL
lp – najkrótsza (w linii prostej) droga przemieszczania przedmiotów pracy,
lrz – rzeczywista droga ruchu przedmiotów (określana przy użyciu tzw. wykresów sznurkowych)
ZASADA CIĄGŁOŚCI
C p  Pp
Pp
Ot
Ic 

 1
 1 W ,
Cp
Cp
Cp
STOPIEŃ CIĄGŁOŚCI PROCESÓW
PRODUKCYJNYCH MOŻNA
SCHARAKTERYZOWAĆ
WSPÓŁCZYNNIKIEM Ic
Ot – okres technologiczny cyklu produkcyjnego,
Cp – cykl produkcyjny,
Pp – przerwy w cyklu produkcyjnym,
Wp – współczynnik przerw (przestoju) cyklu produkcyjnego
3
KOMPUTEROWO ZINTEGROWANE SYSTEMY WYTWARZANIA
CAP (Computer Aided Planning)
KOMPUTEROWO WSPOMAGANE PLANOWANIE PROCESÓW;
TECHNICZNE PRZYGOTOWANIE PRODUKCJI
DANE :
GEOMETRIA
PRZEDMIOTU (WYMIARY,
TOLERANCJE, TOPOLOGIA
– Z PROGRAMU CAD);
ILOŚĆ SZTUK, WIELKOŚĆ
SERII, ITP.
DANE OPISUJĄCE
WYMAGANIA POZA
GEOMETRYCZNE
OKREŚLONE (MATERIAŁ,
ZALECANĄ OBRÓBKĘ,
CHROPOWATOŚĆ
POWIERZCHNI),
DANE DOTYCZĄCE
MASZYN
TECHNOLOGICZNYCH
KONIECZNYCH DLA
OTRZYMANIA ZADANYCH
CECH
KONSTRUKCYJNYCH
WYROBU
ELEMENTY SZTUCZNEJ INTELIGENCJI (AI)
BAZUJĄCE NA SIECIACH NEURONOWYCH
SYSTEMY
EKSPERTOWE
4
ISTOTA STEROWNIA PRODUKCJĄ
STEROWANIE PRODUKCJĄ TO FUNKCJA KIEROWANIA, I REGULACJI
PRZEPŁYWU MATERIAŁÓW OBEJMUJĄCA CYKL WYTWARZANIA, POCZĄWSZY
OD OKREŚLENIA ZAPOTRZEBOWANIA NA SUROWCE, AŻ PO DOSTAWY
PRODUKTU FINALNEGO
STEROWANIE
PRZEPŁYWEM
PRODUKCJI
PLANOWANIE
PLANY STRATEGICZNE
PLANY OPERACYJNE :
PRZYDZIELANIE ZADAŃ PRODUKCYJNYCH,
DOSTARCZANIE WYPOSAŻENIA NARZĘDZIOWEGO,
MATERIAŁÓW, INSTRUKCJI
USTALENIE KOLEJNOŚCI I TERMINU
WYKONYWANIA ZADAŃ,
AKTUALIZACJA STANU ZAAWANSOWANIA PRAC,
KOREKCJA PROGRAMÓW,
BADANIA JAKOŚCI WYKONANIA,
BADANIE POZIOMU KOSZTU REALIZACJI
PLANY
TAKTYCZNE :
PLANY ZASOBÓW
MATERIAŁOWYCH I
PRODUKCYJNYCH,
PLANY
STEROWANI
JAKOŚCIĄ
PRODUKTÓW,
PLANY
UTRZYMANIA
RUCHU I
NIEZAWODNOŚCI
URZĄDZEŃ, SIECI I
INSTALACJI
PRODUKCYJNYCH5
ISTOTA LOGISTYKI
PODSTAWOWE SKŁADNIKI
PROCESÓW
LOGISTYCZNYCH:
FIZYCZNY PRZEPŁYW
STRUKTUR RZECZOWYCH,
PROCESY
INFORMACYJNODECYZYJNE,
UTRZYMYWANIE
ZAPASÓW RZECZOWYCH
INFRASTRUKTURA
PROCESÓW
LOGISTYCZNYCH:
ŚRODKI TECHNICZNE,
TAKIE JAK BUDYNKI,
BUDOWLE
MAGAZYNOWE, ŚRODKI
TRANSPORTU...
CELE LOGISTYKI:
ZAPEWNIENIE WŁAŚCIWEGO POZIOMU
OBSŁUGI KLIENTA,
UMOCNIENIE POZYCJI RYNKOWEJ,
REDUKCJA KOSZTÓW.
KOSZTY
LOGISTYCZNE
6
METODY I TECHNIKI ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ
DIAGRAM PRZYCZYNOWO-SKUTKOWY ISHIKAWY
PRZYCZYNY (5M)
MANPOWER (SIŁA ROBOCZA, CZŁOWIEK) – KWALIFIKACJE,
PRZYZWYCZAJENIA, ZADOWOLENIE Z PRACY, STAŻ, SAMOPOCZUCIE ITP.,
METHOD (METODA) – PROCEDURY, INSTRUKCJE, ZAKRES OBOWIĄZKÓW,
SPECYFIKACJE, NORMY, PRAWO, REGUŁY, KNOW-HOW, TECHNOLOGIA ITP.,
MACHINERY (MASZYNA) – LICENCJA, TRWAŁOŚĆ, NOWOCZESNOŚĆ,
WYDAJNOŚĆ, PRECYZJA, BEZPIECZEŃSTWO, WARUNKI PRACY ITP.,
MATERIAL (MATERIAŁ) – SUROWCE WEJŚCIOWE, PÓŁFABRYKATY,
ELEMENTY, SUBSTYTUTY ITP.,
MANAGEMENT (ZARZĄDZANIE, OTOCZENIE) – STRUKTURA ORGANIZACYJNA,
ORGANIZACJA PRACY, ZMIANOWOŚĆ, WARUNKI PRACY ITP.
7
METODY I TECHNIKI ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ
FMEA – ANALIZA SKUTKÓW I PRZYCZYN POTENCJALNYCH BŁĘDÓW
1.
OBLICZENIE WSKAŹNIKA OCENY RYZYKA C. Wskaźnik jest iloczynem P x Z x
T i może wynosić od 1 do 1000
1.
UPORZĄDKOWANIE MOŻLIWYCH BŁĘDÓW WEDŁUG ICH RANGI
(sugerowanie kolejności działań naprawczych)
1.
WSKAZANIA DZIAŁAŃ NAPRAWCZYCH (podjecie działań zapobiegawczych i
korygujących w kolejności:
wyeliminowania lub zminimalizowania prawdopodobieństwa wystąpienia błędu,
zredukowania znaczenia błędu dla klienta do minimum,
podwyższenie prawdopodobieństwa wykrycia błędu).



GŁÓWNY NACISK NALEŻY POŁOŻYĆ NA
ZAPOBIEGANIE BŁĘDU, A NIE NA ICH
WYKRYWANIE I PÓŹNIEJSZE KORYGOWANIE
8
METODY I NARZĘDZIA STATYSTYCZNE
HISTOGRAMY
PRZYKŁAD:
wartości 4,6,7,9,8,12,9,21.....
11,7 - (n=46, min 4, max 21)
ilość klas: 6
szerokość zakresu: 21 - 4 = 17+1 (!)
1.
2.
3.
szerokość klasy: 18/6 = 3
4.
arkusz kreskowy
5.
sporządzenie histogramu z
zaznaczeniem środków klasy
ZEBRANIE DANYCH POTRZEBNYCH
DO WYKRESU (co najmniej n = 30
wartości) I POLICZENIE ILOŚCI
PUNKTÓW POMIARU (n)
PODZIAŁ ZAKRESU POMIARU NA
KLASY
OKREŚLENIE SZEROKOŚĆ ZAKRESU
(ROZSTĘPU) RÓWNEGO RÓŻNICY
POMIĘDZY WARTOŚCIĄ NAJWIĘKSZĄ I
WARTOŚCIĄ NAJMNIEJSZĄ
USTALENIE SZEROKOŚCI KLASY =
ROZSTĘP/LICZBA KLAS
SPORZĄDZENIE ARKUSZU
KRESKOWEGO
20
15
10
5
0
5
8
11
14
17
20
9
ROZWÓJ DoE
PLANOWANIE DOŚWIADCZEŃ (Design of Experiments) JEST METODĄ
STATYSTYCZNĄ WPROWADZONĄ PRZEZ Sir RONALDA A. FISHERA W
ANGLII WE WCZESNYCH LATACH 20 UBIEGŁEGO WIEKU
OPTYMALNE WARUNKI WYDAJNOŚĆ UPRAW
NAWADNIANE, OPADY DESZCZU, SŁONECZNA POGODA,
NAWOŻENIE, JAKOŚĆ GLEBY
DOŚWIADCZENIA CZĘŚCIOWO-CZYNNIKOWE (lata 40)
RSM (Responce Surface Modeling) (lata 50)
JAPONSKIE „PROJEKTOWANIE JAKOŚCI” (lata 60-70); Genichi Taguchi
PROJEKTOWANIE NUMERYCZNE
tworzenie modelu numerycznego
optymalizowanego obiektu,
zaprojektowanie oraz wykonanie eksperymentu w
oparciu o metodę projektowania doświadczeń,
stworzenie przybliżonego modelu matematycznego
odpowiedzi obiektu, w oparciu o procedurę analizy
powierzchni odpowiedzi,
optymalizacji wybranej funkcji celu,
projektowania jakości w oparciu o analizę czułości
odpowiedzi oraz analizę tolerancji.
Obiekt prototypowy
Model numeryczny
Projektowanie eksperymentów
Analiza powierzchniowa odpowiedzi
Obiekt zoptymalizowany
10
INTERPRETACJA WYNIKÓW
UDZIAŁ PROCENTOWY
WARIANCJA ZWIĄZANA Z CZYNNIKIEM (INTERAKCJĄ)
ZAWIERA PEWIEN SKŁADNIK ZWIĄZANY Z BŁĘDEM
V A  V A'  Ve
V A'  V A Ve
'
w
a
r
t
o
ś
ć
o
c
z
e
k
i
w
a
n
a
w
a
r
i
a
n
c
j
i
d
l
a
p
o
j
e
d
y
n
c
z
e
g
o
c
z
y
n
n
i
k
a
(
A
)
V
A
SS
VA  A
A
 ' SS A'
V A 
A

SS 'A SS A

 Ve
A
A



SS A'  SS A Ve  A
'
o
c
z
e
k
i
w
a
n
a
s
u
m
ą
k
w
a
d
r
a
t
ó
w
c
z
y
n
n
i
k
a
(
A
)
SS
A
UDZIAŁ PROCENTOWY P CZYNNIKA
SS e'
P
 100%
SS T
SS A'
P
100%
SST
'
SS e'  SST  ( SS A'  SS B'  SS C'  SS AxB
<15%
!
50%
?
)
11
LITERATURA
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
9.
10.
11.
12.
13.
14.
Czesław Skowronek, Zdzisław Sariusz-Wolski, Logistyka w przedsiębiorstwie, Polskie
Wydawnictwo Ekonomiczne, Warszawa 2003
Marek Brzeziński (red), Organizacja i sterowanie produkcją; Projektowanie systemów i
procesów sterowania produkcją, Agencja Wydawnicza PLACET, Warszawa 2002
Dennis Lock, Podręcznik Zarządzania Jakością, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2002
Jarosław Witkowski (red), Logistyka w zarządzaniu przedsiębiorstwem, Wydawnictwo Akademii
Ekonomicznej we Wrocławiu, Wrocław 2002
Jenis J. Dahlgaard, Kai Kirstensen, Gopal K. Kanai, Podstawy zarządzania jakością,
Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2002
Piotr Blaik, Logistyka, Polskie Wydawnictwo Ekonomiczne, Warszawa 2001
Stanisław Nowosielski, Zarządzanie produkcją; ujęcie controllingowe, Wydawnictwo Akademii
Ekonomicznej we Wrocławiu, Wrocław 2001
Ranjit K. Roy, Design of experiments using the Taguchi approach, Jon Wiley & Sons, Inc, 2001
Jerzy Łańcucki (red), Podstawy kompleksowego zarządzania jakością TQM, Wydawnictwo
Akademii Ekonomicznej w Poznaniu, Poznań 2001
Michael R. Beauregard, Raymond J. Mikulak, Barbara A. Olson, Experimenting for
Breakthrough Improvement, Resource Engineering, Inc., 2000
Robin E. McDermott, Raymond J. Mikulak, Michael R. Beauregard, The basic of FEMA,
Resource Engineering, Inc., USA 1996
Marvin A. Moss, Applying TQM to product design and development, Marcel Dekker, Inc., 1995
Phillip J. Ross, Taguchi Techniques for Quality Engineering, McGraw-Hill Book Company 1988
L.M. Rumszycki, Matematyczne opracowanie wyników eksperymentu, Wydawnictwa NaukowoTechniczne, Warszawa 1973
12