Lider metrologii współrzędnościowej Skaner 3D światła

Lider metrologii współrzędnościowej
Oprogramowanie
Oprogramowanie specjalizowane
do pracy z chmurą punktów,
dedykowane inspekcji wymiarowej
oraz inĪynierii odwrotnej,
charakteryzujące siĊ intuicyjnoĞcią
obsáugi i unikatową wĞród
systemów CAD wydajnoĞcią.
Fotogrametria
Systemy fotogrametryczne
do szybkiej i precyzyjnej
kontroli charakterystyk
metrologicznych obiektów
wielkogabarytowych.
MobilnoĞü
Konstrukcja systemu predysponuje go
do analizy obiektów wielkogabarytowych
i/lub o znacznej masie, zwalnia
uĪytkownika z koniecznoĞci
transportu detalu do miejsca
posadowienia systemu.
Optyczna sonda
Sondy stykowe rozszerzające
moĪliwoĞci systemu o pomiar
obszarów detalu niedostĊpnych dla
optyki. Geometria sondy dobierana
jest zaleĪnie od specy¿ki detalu.
Obróbka danych
Specjalizowane platformy do inĪynierii
odwrotnej minimalizujące czas procesu
przejĞcia od etapu chmury punktów
do etapu modelu przy jednoczesnej
maksymalizacji wiernoĞci odwzorowania.
OBERON 3D
L.PIETRZAK I WSPÓLNICY
Oddziaá Warszawa
ul. Madziarów 25A
04-444 Warszawa, PL
Stolik obrotowy
Rozszerzenie systemu o stóá obrotowy
czyni go idealnym do kontroli maáych
obiektów, gdzie skaning caákowitej
powierzchni wymaga wiĊcej
niĪ jednej pozycji zamocowania.
Mocowania
Systemy mocowania detalu
cechujące siĊ prostotą uĪycia przy
równolegáym zachowaniu kluczowej
dla pomiarów wspóárzĊdnoĞciowych
stabilnoĞci kontrolowanego
elementu.
Skaner 3D Ğwiatáa biaáego
Oddziaá Katowice
ul. Boya-ĩeleĔskiego 68
40-750 Katowice
tel./fax: +48 32 220 02 46
[email protected]
www.oberon3d.pl
Zapraszamy na targi:
ITM Polska w Poznaniu, 4-7 czerwca