specjalność Elektroniczne Systemy Pomiarowe

Pytania na egzamin dyplomowy inŜynierski
specjalność Elektroniczne Systemy Pomiarowe
kierunek Mechatronika
I. PODSTAWY METROLOGII
1. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar SI. Jednostki podstawowe. Wzorce
2. Definicja i interpretacja niepewności pomiaru. Metody wyznaczania niepewności standardowych
pomiaru.
3. Zasady doboru przyrządów pomiarowych w wybranych zastosowaniach.
4. Rozkład normalny (Gaussa) i jego wykorzystanie w analizach niepewności.
5. Na czym polega i do czego jest stosowana metoda najmniejszych kwadratów oraz metoda regresji
liniowej? Jaka jest zaleŜność między nimi?
6. Parametry informacyjne sygnału analogowego i cyfrowego
7. Schemat funkcjonalny wybranego, prostego przyrządu pomiarowego.
II. METROLOGIA WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH
1. Wzorce długości – jednostka długości i jej odtwarzanie; wzorce kreskowe, inkrementalne i
kodowe; wzorce końcowe i ich dokładności.
2. Czujniki pomiarowe. Główne zespoły i ich funkcje. Rodzaje czujników wg typów
przetworników. Własności metrologiczne. Procedura pomiaru czujnikami – algorytm.
3. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe. Rodzaje sond pomiarowych – schematy, działanie,
dokładności.
4. Mikrogeometria powierzchni. Parametry i funkcje opisujące chropowatość i falistość
powierzchni. Metody pomiaru chropowatości powierzchni.
5. Makrogeometria powierzchni. Odchyłki kształtu – rodzaje, definicje, oznaczania. Metody
pomiaru odchyłek okrągłości i walcowości.
6. Pomiary kątów. Metody pomiaru pochyleń, zbieŜności, itp. Pośrednie metody pomiaru kąta
elementów stoŜkowych.
7. Pomiary interferencyjne. Rodzaje interferometrów, schematy, zastosowania, ustalanie wyniku
pomiaru, korekcja czynników zaburzających.
III. POMIARY WIELKOŚCI ELEKTRYCZNYCH
1. Wzorce wielkości elektrycznych
2. Oscyloskop elektroniczny analogowy. Zasada działania, struktura, parametry uŜytkowe.
3. Oscyloskop elektroniczny cyfrowy. Zasada działania, struktura, parametry uŜytkowe.
4. Woltomierze elektroniczne napięć zmiennych. Zasada działania, schematy strukturalne
(blokowe), właściwości uŜytkowe, skalowanie woltomierzy napięć zmiennych.
5. Woltomierze cyfrowe. Rodzaje przetworników AC/DC stosowanych w woltomierzach
cyfrowych. Właściwości, Parametry. Zastosowania.
6. Pomiary parametrów elementów i podzespołów. Pomiary rezystorów, kondensatorów i cewek
indukcyjnych, metody pomiaru.
7. Cyfrowe metody pomiaru czasu i częstotliwości. Zasada pomiaru, przyrządy, parametry
uŜytkowe, dokładność pomiaru.
IV. SENSORY, PRZETWORNIKI, SYSTEMY POMIAROWE
1. Pomiary temperatury. Metody. Przyrządy. Właściwości metrologiczne
2. Elektryczne metody pomiaru temperatury
3. Pomiary przepływu za pomocą przepływomierzy manometrycznych. Metody. Przyrządy.
Właściwości metrologiczne
4. Pomiary przepływu za pomocą przepływomierzy tachometrycznych. Metody. Przyrządy.
Właściwości metrologiczne
5. Przepływomierze o pełnym przelocie (elektromagnetyczne, ultradźwiękowe) – porównanie
właściwości metrologicznych i uŜytkowych.
6. Pomiary ciśnienia. Metody. Przyrządy. Właściwości metrologiczne
2
7. Przetworniki ciśnienia. Metody. Właściwości metrologiczne
8. Przepływomierze strumienia masy (Coriolis, termiczne). – porównanie właściwości
metrologicznych i uŜytkowych.
9. Inteligentne przetworniki pomiarowe. Zasada działania, sposób komunikacji między
przetwornikiem a urządzeniem nadrzędnym.
10. Systemy pomiarowe. Klasyfikacja, schemat blokowy i rodzaje sygnałów w cyfrowych systemach
pomiarowych.
V. NIENISZCZĄCE METODY BADAŃ
1. Charakterystyka ogólna metod badań nieniszczących pod kątem ich zastosowań i informacji
uzyskiwanej w wyniku wykonania badań.
2. Metody radiologiczne i penetracyjne. Charakterystyka, zastosowania.
3. Metody ultradźwiękowe Charakterystyka, zastosowania.
4. Metoda prądów wirowych. Charakterystyka, zastosowania.
Literatura
1. Laboratorium pomiarów wielkości geometrycznych. Skrypt Politechniki Warszawskiej.
Warszawa 1986. Praca zbiorowa pod redakcją E.Ratajczyka. Biblioteka wydziałowa.
2. E. Ratajczyk: Współrzędnościowa technika pomiarowa. Maszyny i roboty pomiarowe. Oficyna
Wydawnicza Politechniki warszawskiej. Warszawa 1994.
3. M.Dobosz: Wspomagana komputerowo statystyczna analiza wyników. Akademicka Oficyna
Wydawnicza EXIT. Warszawa 2001.
4. W.Jakubiec, J.Malinowski: Metrologia wielkości geometrycznych. Wydawnictwa Naukowotechniczne, Warszawa 2002.
5. J.Arendarski: Niepewność pomiarów. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej.
Warszawa 2003.
6. J. Dusza, G. Gortat, A. Leśniewski, Podstawy Miernictwa. Oficyna Wydawnicza Politechniki
Warszawskiej. Warszawa 1998.
7. Marcyniuk, Podstawy Miernictwa Elektrycznego. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice
2000
8. Chwaleba, M. Poniński, A. Siedlecki, Metrologia Elektryczna, Wydawnictwa NaukowoTechniczne, Warszawa 1994
9. M. Stabrowski, Miernictwo Elektryczne. Cyfrowa technika pomiarowa, Oficyna Wydawnicza
Politechniki Warszawskiej. Warszawa 1994
10. W.Mielczarek, Szeregowe interfejsy cyfrowe, Wyd. HELION, Gliwice, 1993
11. J. Rydzewski, Pomiary oscyloskopowe, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 1994
12. Lewińska-Romicka, Badania nieniszczące. Podstawy Defektoskopii. Wydawnictwa NaukowoTechniczne, Warszawa 2001
13. P. Lesiak, Inteligentna technika pomiarowa. Wydawnictwa Politechniki Radomskiej, Radom
2001
14. M. Turkowski, Przemysłowe sensory i przetworniki pomiarowe, Oficyna Wydawnicza PW,
Warszawa, wyd. I, 2000, wyd. II, 2002.
Na egzaminie dyplomowym Komisja przedstawia studentowi do omówienia jeden temat z grupy
przedmiotów I, II, i jeden temat z przedmiotu III , IV V.