Zał. Nr A Opis przedmiotu zamówienia I. Przedmiotem zamówienia

Zał. Nr A Opis przedmiotu zamówienia I. Przedmiotem zamówienia

Zał. Nr A
Opis przedmiotu zamówienia
I. Przedmiotem zamówienia jest dostawa Spektrometru ICP-MS z ablacją
laserową wraz z wyposaŜeniem
I.1. Spektrometr ICP-MS spełniający następujące wymagania techniczne:
Generator
- całkowicie kontrolowany przez zewnętrzny komputer
- nie wymagający chłodzenia wodą (cewka i generator)
- umoŜliwiający ciągłą zmianę mocy w zakresie minimum od 600 do 1500 W
(automatyczne dostrojenie mocy w zaleŜności od wprowadzanej matrycy nieorganicznej i
organicznej)
- automatyczne zapalanie i gaszenie plazmy bez konieczności zmiany połoŜenia palnika
Jednosoczewkowy system optyczny o automatycznej optymalizacji w zaleŜności od
analizowanego jonu.
- moŜliwość zmiany rozdzielczości w czasie realnym w zaleŜności od analizowanego jonu
- przegroda (shadow stop) zabezpieczająca przed zanieczyszczeniem
elementów optyki i komory reakcyjnej
Kwadrupolowy system rozdziału mas z prętami ceramicznymi pokrytymi złotem
- Regulowana rozdzielczość w zakresie od 0,3 do 3 amu
Komora reakcyjna/zderzeniowa
- system zapewniający efektywne usuwanie interferencji powodowanych przez izobary i
jony wieloatomowe, posiadający układ filtrujący względem masy jonów (kwadrupolowy),
odcinający jony o masie niŜszej i wyŜszej od oznaczanego pierwiastka.
- Automatyczne skanowanie okna masy przepuszczanej w zaleŜności od analizowanego
pierwiastka zsynchronizowane z pracą głównego analizatora mas (kwadrupola).
3
9
- redukcja intensywności interferentów wynosząca 10 – 10 razy. Komora będąca
intergralną częścią spektrometru.
- Komora umoŜliwiająca pracę z róŜnymi gazami zaleŜnie od oznaczanych próbek i
pierwiastków, a takŜe szybkie całkowite opróŜnienie i pracę spektrometru w tybie
klasycznym w czasie pojedynczego pomiaru,
- Układ musi mieć moŜliwość pracy z dwoma gazami równocześnie
Detektor
- detektor dwustopniowy umoŜliwiajacy jednoczesną pracę w trybach impulsowego i
analogowego pomiaru sygnału, zabezpieczenie przed przeładowaniem zarówno w trybie
pracy impulsowej jak i analogowej,
System wprowadzania próbek
- system wprowadzania próbek umoŜliwiający stosowanie róŜnych rozpylaczy, komór
mgielnych oraz dysz palnika. Wszystkie elementy systemu zamontowane na uchwycie
bagnetowym.
Palnik
- palnik z wymiennymi dyszami,
- nie wymagający podczas zapalania, gaszenia i w czasie rutynowych analiz ustawień w
płaszczyznach x i y
- nie wymagający ustawienia w płaszczyźnie z
- stoŜki (sampler i skimmer) minimum niklowe
Zamknięty system chłodzenia
1
System utrzymania
turbomolekularną
próŜni
zawierający
minimum
pompę
klasyczną
próŜniową
i
MoŜliwość podłączenia dodatkowego oprzyrządowania: automatyczny podajnik próbek,
rozpylacz ultradźwiękowy, laserowy system odparowania próbek, system „flow injection”
Automatyczny podajnik próbek z opcją automatycznego rozcieńczania
- minimalna pojemność 200 próbek
- moŜliwość stosowania probówek o pojemnościach od kilku do kilkudziesięciu ml
- automatyczne płukanie igły pomiędzy próbkami zawsze, podawanym w sposób ciągły, świeŜym
roztworem płuczącym
I.2.Sterownik komputerowy z oprogramowaniem:
Oprogramowanie
pracujące w środowisku MS Windows XP, sterujące pracą spektrometru, zapewniające
w pełni automatyczną optymalizację spektrometru, przejmujące kontrolę nad wszystkimi
dodatkowymi akcesoriami, zbierające i przetwarzające otrzymane dane pomiarowe bez
konieczności ponownych pomiarów, pozwalające na przygotowanie raportu wg projektu
uŜytkownika, moŜliwość automatycznego przesyłania danych do innych pakietów
oprogramowania.
Markowy komputer np. Dell lub równowaŜy spełniający wymagania oprogramowania oraz
poniŜsze warunki:
Procesor dwurdzeniowy minimum 1.8 GHz, 1066 MHz FSB
Windows XP Pro ENG
1GB pamięci RAM
160GB twardy dysk
Karta video INTEL GMA 3000
DVD-+/-RW 16x
Floppy 3.5 ", 1.44 MB
19" monitor LCD
LAN 1 Gb
Drukarka laserowa
Specyfikacja minimalnych osiągów analitycznych
Granice wykrywalności (3 σ) dla pomiaru "peak hopping" dla 1 punktu masy i 3 sekundowego
czasu integracji :
poniŜej 10 ppt (ng/L) dla pierwiastków lekkich ( dla mas atomowych do 40)
poniŜej 1 ppt dla pierwiastków cięŜszych
poniŜej 0,2 ppt dla U i transuranowców
Czułość w milionach cps/mg/L (ppm)
Mg > 8
U > 30
24
56
Fe > 40 (w trybie komory zderzeniowej/reakcyjnej)
238
115
In > 40
Stosunki zawartości tlenków i podwójnie naładowanych jonów mierzone w tych samych
warunkach co granice wykrywalności i czułość powinny być mniejsze niŜ
CeO+/Ce < 3%
Ba++/Ba+ < 3%
Sygnał tła dla masy 220
dla masy 70.5
< 2 cps
< 2 cps (w trybie komory zderzeniowej/reakcyjnej )
2
Stabilność długookresowa: zdefiniowana jako odchylenie standardowe średniej sygnału dla
pierwiastków
lekkich i cięŜkich (tryb pomiaru standardowy lub tryb pomiaru komory
zderzeniowej/reakcyjnej ) w roztworze wielopierwiastkowym 1,0 µg/L (mierzonym raz na 10 minut
bez standardu wewnętrznego) jest mniejsza niŜ 4% RSD dla 4 godzin.
Stabilność krótkookresowa: zdefiniowana jako odchylenie standardowe średniej sygnału dla
pierwiastków
lekkich i cięŜkich (tryb pomiaru standardowy lub tryb pomiaru komory
zderzeniowej/reakcyjnej ) w roztworze wielopierwiastkowym 1,0 µg/L, 3 sekundowy czas
integracji bez standardu wewnętrznego jest mniejsza niŜ 4% RSD.
107
109
Precyzja stosunku izotopowego definiowana jako stosunek izotopowy
Ag/ Ag uzywając
roztwór 50 µg/L otrzymana dla pomiaru peak hopping w ciągu 5 minut poniŜej 0,1 % RSD
Stabilizacja kalibracji masy mierzona stosując 10 µg/L wielopierwiastkowy roztwór zawierający
103
208
Mg, Rh i Pb, definiwana jako przesunięcie maksymalnej intensywności piku dla kaŜdego
pierwiastka poniŜej 0,05 AMU w ciągu 8 godzin ciągłej pracy
24
Skuteczność płukania, mierzona po wprowadzeniu dowolnego pierwiastka w 1% roztworu
kwasu azotowego natychmiast po ciągłym zasysaniu ma spadać o trzy rzędy wielkości w ciągu 1
minuty np. Rh, In lub U
II.1 Laser
Nd: YAG, o długości fali nie większej niŜ 266 nm
>9,0 mJ/impus, 1% RSD RMS, kontrolowany przez komputer
Płaski przekrój energetyczny wiązki
Szerokość impulsu: nie większa niŜ 6 ns
Szybkość powtórzeń w przedziale co najmniej 1 –20 Hz
Optyczny system kontroli
MoŜliwość przełączenia na profil płaski lub gausowski
Średnica wiązki laserowej co najmniej 10-200 µm,
II.2 System optyczny
Współosiowy system obserwacji próbki oraz optyki laserowej z pojedynczą soczewką
Kontrolowany komputerowo system mikroskopowy w zakresie 60 – 600 X
Wbudowana kamera video z zoom’em optycznym 60 – 600 X
Iluminator zawierający dwie lampy, światłowodowy system iluminacji próbki
MoŜliwość obserwacji próbki w świetle odbitym i przechodzącym
II.3 System pobierania próbki
Komora próbki o minimalnych wymiarach: 50 mm średnica, 50 mm wysokość
Zmotoryzowany (trzy kierunki poruszania XYZ) stolik komory pomiarowej
Rozdzielczość 0,25 µm, w krokach począwszy od 0,25 µm
Automatyczne przedmuchiwanie typu by-pass lub do ICP
Oprogramowanie pozwalające na skanowanie próbki
Kontrola ostrości automatyczna i manualna
Komora z usuwalnym okienkiem kwarcowym ułatwiająca czyszczenie i konserwację
3
II.4 Oprogramowanie
Zintegrowane oprogramowanie z komputerem sterującym ICP-MS
Wyświetlane na ekranie statusu lasera oraz stanu zabezpieczeń systemu
Co najmniej 6 sposobów odparowania i skanowania próbki
Pomiar wielkości powierzchni odparowania
Automatyczna kontrola energii wyjściowej
MoŜliwość pojedynczego odparowania lub automatycznego powtarzania
Kontrolowana komputerowo powierzchnia odparowania
Automatyczne powiększanie obrazu (zoom) oraz ruch próbki
Komputerowa kontrola penetracji próbki poniŜej 0,25 µm
III. Części zapasowe na minimum 1 rok ciągłej pracy
stoŜki, zapasowy palnik, o-ringi, itd., węŜyki do pompy perystaltycznej, itp., roztwory wzorcowe
wielopierwiastkowe niezbędne do instalacji, uruchomienia i kalibracji aparatu i pozwalające na
wyznaczenie stęŜeń pierwiastków.
4