Specyfikacja techniczna, załącznik nr 8

Transkrypt

Specyfikacja techniczna, załącznik nr 8
Załącznik nr 8
SPECYFIKACJA TECHNICZNA
Zakup i dostawa i instalacja spektrometru emisyjnego typu ICP OES
oraz zestawu spektrometru ICP- MS z laserową ablacją.
1. WYMAGANIA TECHNICZNE
1.1. Założenia ogólne
Przedmiotem zakupu oraz dostawy jest spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem
plazmowym typu ICP OES - równoczesny spektrometr emisyjny z plazmą indukcyjnie
sprzężoną ICP z podwójnym systemem obserwacji plazmy poziomej oraz zestawu
spektrometru ICP-MS z laserową ablacją wraz z wyposażeniem oraz instalacją i
instruktażem stanowiskowym pracowników w miejscu użytkowania dla Laboratorium
Międzyuczelnianego w Stalowej Woli.
W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy wpisać
do tabeli opis parametrów oferowanych oraz dołączyć do oferty broszury producenta,
które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno –
techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego.
Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE” - znak CE,
oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych.
1.2. Parametry techniczne urządzenia
1.2.1. CZĘŚĆ I - PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE
Spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem plazmowym typu ICP OES. Fabrycznie nowy
spektrometr ICP-Dual (równoczesny spektrometr emisyjny z plazmą indukcyjnie
sprzężoną ICP z podwójnym systemem obserwacji plazmy poziomej) wraz z
wyposażeniem oraz instalacją i instruktażem stanowiskowym pracowników w miejscu
użytkowania.
1.2.2. PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE
TYPU ICP OES
Lp.
Nazwa parametru
Spektrometr emisyjny ICP musi być równoczesny,
czyli powinien zapewniać jednoczesny dostęp do
linii emisyjnych:
a. analizowanych pierwiastków,
b. pierwiastków stosowanych jako wzorce
1.
wewnętrzne,
c. pierwiastków stosowanych do
międzypierwiastkowej korekcji interferencji
oraz umożliwiać jednoczesny pomiar tła
występującego po obydwu stronach
rejestrowanych linii emisyjnych.
Jednoczesny dostęp do wyżej wymienionych linii
emisyjnych musi zapewniać system optyki typu
2.
Echelle z detektorem lub detektorami
półprzewodnikowymi.
SPEKTROMETRU EMISYJNEGO
Wielkość parametru
TAK
TAK
Lp.
Nazwa parametru
3. Zakres spektralny.
4.
5.
6.
7.
8.
9.
10.
11.
Wymagany dostęp do co najmniej 90% widma
w oferowanym zakresie.
System plazmy o geometrii poziomej
z podwójnym systemem obserwacji: osiowym,
zapewniającym niskie granice wykrywalności oraz
radialnym, korzystnym przy oznaczaniu
pierwiastków o niskich potencjałach wzbudzenia w
szerokim zakresie stężeń gwarantującym liniowość
kalibracji przy pracy z dużymi stężeniami tych
pierwiastków w analizowanych próbkach.
Półprzewodnikowy generator wysokiej
częstotliwości RF.
Cewka indukcyjna i półprzewodnikowy generator
wysokiej częstotliwości RF 27 MHz chłodzone
wodą za pomocą jednego zamkniętego układu
chłodzenia.
Palnik
Poziomy, rozbieralny lub semi-rozbieralny palnik
kwarcowy duo, z kwarcową centralną rurką
wtryskiwacza, cyklonową komorę mgielną do pracy
z roztworami wodno-kwaśnymi, szklany ncbulizcr
koncentryczny oraz przynajmniej 3-kanałowa
pompa perystaltyczna.
Oprogramowanie
Oprogramowanie spektrometru powinno
umożliwiać:
a. rejestrację sygnałów zmiennych w czasie np.
chromatograficznych lub uzyskiwanych przy
stosowania analizy przepływowo-wstrzykowej,
b. wbudowane funkcje kontroli jakości pomiarów,
c. powiązanie dostępnych danych z niezbędnymi
elementami kontroli jakości badań
gwarantujących zachowanie właściwych
parametrów metod pomiarowych,
d. dostęp do rezultatów przez połączenie
sieciowe.
Wyposażenie dodatkowe
Elementy eksploatacyjne:
a. części zużywalne ukł. podaw. prób – min.1 szt.
b. zestaw do standardu wewnętrznego – min. 10
szt.
c. palnik do ICP – min. 5 szt.
d. nebulizer – min. 2 szt.
e. komora mgielna – min. 3 szt.
f. rurki na pompę do próbki – min. 6 kompletów,
g. rurki na pompę do ścieków – min. 6 kompletów,
h. rurka wtryskiwacza 2 mm – min. 2 szt.
Recyrkulator wody chłodzącej.
Wielkość parametru
co najmniej od 166 nm
do 800nm
TAK
TAK
27 MHz
TAK
TAK
TAK
TAK
TAK
12. Automatyczny podajnik próbek.
min. 240 pozycji
13. Zestaw do generacji wodorków do ICP.
Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie
14.
systemem z drukarką.
co najmniej 2 szt.
TAK
1.2.3. WYMAGANIA DODATKOWE
Lp.
1.
2.
3.
Nazwa
Opis
Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu,
urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w
miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym
przez obie strony (dla min. 2 osób)
Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie
zaawansowanej
obsługi
aparatu
i
użytkowania
oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury lub
zewnętrznym ośrodku w terminie uzgodnionym przez obie
strony (dla min. 2 osób)
Instrukcja obsługi w języku polskim.
1
TAK
TAK
TAK
4.
Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 72 godziny
TAK
5.
Gwarancja: minimum 24 miesiące
TAK
2.2.1. CZĘŚĆ II - PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE
Fabrycznie nowy zestaw spektrometru ICP-MS z przystawką do odparowania
laserowego i specjacji,
wraz z wyposażeniem oraz instalacją i instruktażem
stanowiskowym pracowników w miejscu użytkowania.
2.2.2. PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE ZESTAWU SPEKTROMETRU ICP-MS Z
PRZYSTAWKĄ DO ODPAROWANIA LASEROWEGO I SPECJACJI.
Lp.
Nazwa parametru
Wielkość parametru
I. Spektrometr mas z jonizacją w plazmie indukcyjnie sprzężonej (ICP-MS)
1.
Układ wprowadzania próbki
a) rozpylacz koncentryczny,
b) komora mgielna stabilizowana
temperaturowo, chłodzona,
termoelektrycznie za pomocą efektu
Peltiera w zakresie temperatur co
najmniej od -5°C do +20°C;
c) opcja drenażu komory mgielnej,
d) zintegrowany system rozcieńczania
gazem obojętnym,
e) system mocujący elementy układu
wprowadzania próbki i palnika
plazmowego umożliwiający łatwy i szybki
demontaż, jak również odtwarzalny
montaż systemu,
f) automatyczny podajnik próbek ciekłych
do ICP-MS o pojemności powyżej 100
prób,
1 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca
zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji
telefonicznych.
Lp.
2.
Nazwa parametru
Plazma
3.
Obszar separacji jonów
4.
Komora kolizyjno-reakcyjna
5.
Analizator mas
6.
Detektor
7.
System próżni
Wielkość parametru
a) palnik - kwarcowy, łatwy do
zdemontowania, wymiany i czyszczenia,
b) 3 - kierunkowa regulacja palnika ICP
(X,Y,Z) włączając głębokość
próbkowania musi być kontrolowana
automatycznie komputerowo z poziomu
oprogramowania ICP-MS,
c) generator prądu wysokiej
częstotliwości 27 MHz w pełni
kontrolowany przez oprogramowanie
spektrometru o mocach w zakresie co
najmniej od 500 do 1600W, w odstępach
10 W,
d) dodatkowa linia gazu nośnego (O2/Ar)
do roztworów organicznych lub He do
systemu ablacji laserowej.
a) stożki - układ dwóch stożków
niklowych, łatwych do wymiany i
czyszczenia bez konieczności likwidacji
próżni. Stożek próbkujący o średnicy nie
większej niż 1mm, zbierający o średnicy
nie większej niż 0,4mm,
b) soczewki jonowe – ułożone
niewspółosiowo, łatwe do wymiany i nie
wymagające rutynowego czyszczenia,
oddzielające fotony i cząstki neutralne od
wiązki jonów.
a) komora o budowie oktupola,
usuwająca efektywnie interferencje
spektralne z użyciem czystego helu,
b) komora powinna również posiadać
dodatkową linię dla gazów reakcyjnych.
a) tandemowy spektrometr mas, o
następującej budowie: dwa
kwadrupolowe analizatory mas z prętami
o przekroju hiperbolicznym, pomiędzy
którymi znajduje się komora kolizyjnoreakcyjna.
b) umożliwiający pracę w trybie MS/MS.
Pierwszy kwadrupol umożliwia pełną
kontrolę jonów (odpowiednich stosunków
m/z) docierających do komory, drugi
wybiera jony docierające do detektora.
a) detektor w postaci powielacza
elektronów, pracujący w trybie pulsowym
i analogowym,
b) pozwala na jednoczesne oznaczanie
pierwiastków na poziomie śladowym (ppt)
i wysokich stężeń (kilkaset ppm).
Minimum 9 rzędów zakresu
dynamicznego.
System próżniowy oparty na
zastosowaniu pompy wstępnej i
turbomolekularnej. Kontrola próżni musi
zabezpieczać system próżni przed
nagłym brakiem dopływu zasilania.
Lp.
Nazwa parametru
8.
Układ chłodzenia
9.
Specyfikacja minimalnych wymogów
analitycznych
10.
Budowa (typ) instrumentu
11.
System komputerowy i
oprogramowanie
12.
Zestaw materiałów dodatkowych i
zapasowych
Wielkość parametru
Chiller chłodzący- system zamknięty wraz
ze wszystkimi niezbędnymi
przyłączeniami.
a) granice wykrywalności (3 ) w ng/L
(ppt), nie gorsze niż:
 9Be ≤0,1 (bez gazu w komorze)
 115In ≤ 0,05 (bez gazu w komorze)
 78Se ≤ 1 (w trybie MS/MS)
 238U ≤ 0,05 (bez gazu w komorze)
 75As ≤ 20 (z helem w komorze),
b) czułość (Mcps/ppm) minimum:
 Li (7) : 100
 Y (89) : 350
 Tl (205) : 200,
c) stosunek tlenków nie większy niż
CeO+ ≤ 1,5%,
d) czułość abundancji w trybie MS/MS dla
Cs (133) 1x10-10, po niskiej i wysokiej
stronie masy;
a) system typu benchtop- stojący na
stole,
b) wymiary: szerokość x wysokość x
głębokość w mm nie większe niż 1100 x
600 x 650,
c) ciężar nie większy niż 150 kg.
a) parametry komputera sterującego
muszą umożliwiać prawidłową pracę
urządzenia, 2 monitory LCD 22’’,
możliwość rozdzielenia widoku pulpitu na
dwa monitory, drukarka laserowa
bezprzewodowowa kolor duplex,
klawiatura, mysz optyczna,
b) oprogramowanie sterowania
spektrometrem i obróbki wyników danych
pomiarowych.
Minimum:
a) 60 wężyków pompy perystaltyczne,j
b) komora mgielna wraz z wężykiem do
drenażu,
c) palnik 2,5mm,
d) 2 komplety stożków Niklowych,
e) komplet stożków Pt,
f) olej i filtr do pompy wstępnej,
g) zestaw do wprowadzania próbek
organicznych,
h) papier do czyszczenia stożków,
i) roztwór do strojenia spektrometru,
j) zestaw do przeglądu serwisowego,
k) stół pod spektrometr z kontenerkiem
przejezdnym z szufladami, biurko pod
komputer, krzesło w podłokietnikami.
II. Przystawka do odparowania laserowego (LA)
Lp.
Nazwa parametru
1.
Laser
2.
System optyczny
3.
Komora ablacyjna
4.
Sterowanie
5.
Oprogramowanie
6.
Materiały zapasowe i wyposażenie
dodatkowe
Wielkość parametru
a) Nd: YAG o długości fali 213 nm;
b) Szybkość powtórzeń w przedziale co
najmniej 1-20 Hz,
c) płaski przekrój energetyczny wiązki;
d) średnica wiązki laserowej: 13 wielkości
o średnicy pomiędzy 4-250 µm,
e) moc w J/cm2 >25, na powierzchni
próbki,
f) wiązka wewnętrznie jednorodna.
a) wysokiej rozdzielczości kamera
cyfrowa o powiększeniu 15x do 60x (z
obiektywu do kamery), rozdzielczość
optyczna <2µm,
b) 25mm pole widzenia optyki
nawigacyjnej z ekranem dotykowym,
c) Iluminator zawierający 3 lampy LED
kontrolowane z poziomu
oprogramowania,
d) kontrolowany z poziomu
oprogramowania obrotowy polaryzator,
e) przesłona umożliwiająca wytworzenie
wiązki o przekroju prostokątnym.
a) wymiary minimum 100mm x 100mm,
b) możliwość doposażenia o większą
komorę 150mm x 150mm,
c) opcja komory ablacyjnej wolna od
wszelkich elementów magnetycznych.
a) komputer sterujący i oprogramowanie,
b) interfejs (kabel) łączący.
Oprogramowanie do przetwarzania
danych, integracji, obróbki danych
pomiarowych.
2x filtr do wody, 2x lampa typu flash
Stół pod przystawkę z szufladami
III. Chromatograf cieczowy (HPLC) z zestawem do specjacji
1.
Ogólne
2.
Pompa gradientowa
Chromatograf, w pełni kompatybilny ze
spektrometrem ICP-MS, o budowie
modułowej z interfejsem i
oprogramowaniem, pozwalającym na
adaptację spektrometru ICP-MS jako
detektora masowego w HPLC i użycie
zestawu do analiz specjacyjnych.
Pompa gradientowa min 2-tłokowa z
możliwością mieszania 4 różnych
składników w tym samym czasie z
wbudowanym degazerem próżniowym
czterokanałowym, o precyzji przepływu
<0,07 % RSD, zakres przepływu: 0,001 –
10,000 ml/min, dokładność przepływu nie
gorsza niż 0,001 ml/min, wymagana
zintegrowana wymiarami nadstawka na
rozpuszczalniki. Ciśnienie robocze min
600 bar.
Lp.
Wielkość parametru
Nazwa parametru
3.
Autosampler
4.
Termostat kolumn
5.
Detektor
6.
Kolumny
7.
Zestaw łączący LC-ICP-MS
8.
Dodatkowe
Autosampler na minimum 100 próbek o
zakresie nastrzyku 0,1-100ul o precyzji
nastrzyku nie gorszej niż 0.25% RSD,
błąd przenoszenia (carry over) nie gorszy
niż 0.1 %.
Termostat kolumnowy o zakresie
temperatur: co najmniej od 10 C poniżej
temp otoczenia do + 80 C, stabilność
temperatury nie gorsza niż: ± 0.15 °C,
dokładność temperatury nie gorsza niż : ±
0.8°C. Termostat powinien posiadać 2
niezależnie kontrolowane bloki
chłodzące/grzejne umożliwiające
podgrzewania fazy ruchomej przed
kolumną i jednocześnie chłodzenie jej za
kolumną.
Detektor typu UV-Vis; detektor
konduktometryczny;
Minimum 3 kolumny chromatograficzne
do specjacji np. Cr, As, Hg.
Zestaw łączący spektrometr ICP-MS z
HPLC, wraz ze wszystkimi niezbędnymi
przyłączeniami.
 Możliwość rozbudowy systemu HPLC
o detektor mas do związków
organicznych, typu potrójnego
kwadrupola, czasu przelotu lub
kwadrupol-analizator czasu przelotu.
 Wózek pod chromatograf z min. 2
półkami na moduły, biurko pod
komputer, krzesło w podłokietnikami
2.2.3. WYMAGANIA DODATKOWE
Lp.
Nazwa
Opis
Minimum 5 dni szkolenia z zakresu pomiarów i analizy
danych pomiarowych w układzie LA-ICP-MS, w tym:
 analiza punktowa, skan liniowy, mapping, analiza
wgłębna,
1.
2.
3.
4.

obróbka i przetwarzanie danych pomiarowych z
wyżej otrzymanych wyników

tworzenie map stężeń pierwiastków i obrazów
określających stężenie danego pierwiastka w danym
obszarze analizowanej próbki
Szkolenie dla każdego typu aparatury z zakresu obsługi i
oprogramowania: ICP-MS, HPLC, Ablacji laserowej (LA)
(dla min. 2 osób)
Szkolenie z zakresu analizy próbek ciekłych za pomocą
ICP-MS i LC-ICP-MS – minimum 15 dni (dla min. 2 osób)
Jeden przegląd w czasie trwania gwarancji dla ICP-MS,
drugi po upływie gwarancji w terminie podanym przez
użytkownika.
TAK
TAK
TAK
TAK
Lp.
Nazwa
Opis
5.
Przegląd przed upływem gwarancji dla przystawki do ablacji
laserowej
TAK
6.
Instrukcja obsługi w języku polskim.
TAK
2
7.
Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 72 godziny
TAK
8.
Gwarancja: minimum 24 miesiące
TAK
3. PARAMETRY TRANSPORTOWO – INSTALACYJNE
Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca.
4. TERMIN WYKONANIA
Czas realizacji dostawy urządzenia: do 4 miesięcy od dnia podpisania umowy.
2
Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta
do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na
drodze konsultacji telefonicznych.