załącznik nr 1.16: Opis przedmiotu zamówienia

Znak sprawy: RA-TL-Z – 07/2014
załącznik nr 1.16 do SIWZ
OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENI CZĘŚĆ - CZĘŚĆ 16
1. Tabela z wyszczególnieniem poszczególnych komponentów przedmiotu zamówienia.
Przedmiot zamówienia i jego składowe oraz wymagane minimalne parametry techniczne
Ilość
Komora do pomiarów w cieczy kompatybilna z posiadanym przez Zamawiającego
mikroskopem sił atomowych BioScope Catalyst produkcji Bruker – Nano Surfaces
Division*:
1. Komora ma umożliwiać obserwację przeźroczystych próbek za pomocą mikroskopu
optycznego.
2. Kontrola środowiska ma obejmować możliwość:
1) regulacji poziomu cieczy,
2) wymiany buforu w szalce Petriego,
3) wymiany gazu nad powierzchnią lustra cieczy,
4) współpracować z układem kontroli temperatury cieczy.
3. Zestaw powinien obejmować:
1) komplet rurek łączących,
2) regulator przepływu,
3) statyw zapewniający grawitacyjny przepływ cieczy,
4) pompkę perystaltyczną,
5) uchwyt sondy przystosowany do pracy w cieczy ze zintegrowanym czujnikiem
temperatury cieczy do pomiarów temperatury w pobliżu sondy,
6) komplet akcesoriów do pracy w trybie MFM z sondami, magnesem oraz próbką
testową.
1 szt.
*Zamawiający posiada Skaningowy Mikroskop Sił atomowych (AFM) BioScope Catalyst
produkcji Bruker – Nano Surfaces Division o parametrach technicznych:
1. Mikroskop sił atomowych pozwala na pracę w powietrzu i w cieczy w modzie
statycznym, w szczególności:
- w trybie kontaktowym,
- w trybie pomiaru sił bocznych(LFM)
2. Mikroskop umożliwia pracę w powietrzu i w cieczy w modzie dynamicznym w
szczególności:
- w trybie bezkontaktowym lub z przerywanym kontaktem,
- w trybie obrazowania fazowego z równoczesnym obrazowaniem topografii
powierzchni,
- w trybie modulacji sił,
- w trybie pomiaru krzywych siła – odległość,
- w trybie mapowania krzywych siła - odległość z równoczesnym wykonywaniem
mapy topograficznej powierzchni.
3. AFM jest przystosowany do połączenia z mikroskopem optycznym spektrometru
ramanowskiego. Połączenie to obejmuje pełną kompatybilność z kondensorem
pozwalającą na prowadzenie eksperymentów z jednoczesnym użyciem mikroskopu
optycznego. Konstrukcja mikroskopu sił atomowych umożliwia zmianę obiektywu bez
Projekt współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Lubuskiego Regionalnego Programu
Operacyjnego na lata 2007 –2013
Tytuł Projektu: „Park Naukowo – Technologiczny Uniwersytetu Zielonogórskiego”
Projekt realizowany w ramach Priorytetu II – Działanie 2.4 ”Transfer badań, nowoczesnych technologii i innowacji ze świata nauki do przedsiębiorstw”.
Strona 1 z 2
Znak sprawy: RA-TL-Z – 07/2014
załącznik nr 1.16do SIWZ
OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA - CZĘŚĆ 16
4.
5.
6.
7.
8.
9.
10.
11.
12.
13.
14.
15.
konieczności demontażu zintegrowanego systemu z mikroskopem optycznym np. za
pomocą rewolweru.
AFM jest wyposażony w uchwyty pozwalające pracować w cieczy z wykorzystaniem
szkiełek laboratoryjnych oraz szalek Petriego o średnicy do co najmniej 38 mm.
AFM jest wyposażony w układ umożliwiający wykonywanie pomiarów we wszystkich
trybach pracy także z celkami cieczowym.
Mikroskop sił atomowych posiada układ zmotoryzowanego zbliżania głowicy do
powierzchni próbki (niezależne od systemu zbliżania próbka – mikrobelka).
Układ optyczny do podglądu próbki z góry.
AFM charakteryzuje się poziomem szumów nie większym niż 0,2 nm RMS w osi Z
podczas obrazowania w cieczy.
Zmotoryzowane pozycjonowanie próbki umożliwia przesuwanie jej bez zdejmowania
głowicy skanującej w zakresie co najmniej 10 mm w kierunkach X oraz Y.
Głowica AFM jest wyposażona w diodę luminescencyjną oświetlającą mikrobelkę
światłem podczerwonym.
AFM posiada całkowicie rozdzielone skanery XY oraz Z z zakresami skanowania
odpowiednio 100 µm x 100 µm i 15 µm lub więcej. Skanery posiadają mechanizm
aktywnej linearyzacji położenia, np. za pomocą zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego.
AFM zapewnia rozdzielczość obrazowania dla każdej z osi skanowania co najmniej 16
bitów niezależnie od wielkości pola skanowania i jego odsunięcia od położenia
centralnego.
System pozwala na pomiar stałej sprężystości dźwigni w zakresie częstotliwości
próbkowania do 250 kHz.
Oprogramowanie zapewnia:
- pełne sterowanie funkcjami systemu oraz akwizycję i obróbkę danych pomiaru
sił i optycznych, a także nakładanie na siebie obrazów optycznych i
topograficznych,
- wykonywanie eksperymentów z zakresu nanolitografii oraz nanomanipulacji,
- automatyczne sortowanie wyników oraz dopasowywanie modeli sprężystości
polimerów do zarejestrowanej krzywej siła-odległość.
Sondy:
- do pracy w trybie kontaktowym
- do pracy w trybie z przerywanym kontaktem.
Projekt współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Lubuskiego Regionalnego Programu
Operacyjnego na lata 2007 –2013
Tytuł Projektu: „Park Naukowo – Technologiczny Uniwersytetu Zielonogórskiego” Projekt realizowany w ramach Priorytetu II – Działanie 2.4 ”Transfer badań,
nowoczesnych technologii i innowacji ze świata nauki do przedsiębiorstw”.
Strona 2 z 2