SPECYFIKACJA TECHNICZNA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA
Zakup i dostawa
konfokalnego spektrometru ramanowskiego
i mikroskopu AFM.
1. WYMAGANIA TECHNICZNE
1.1. Założenia ogólne
Przedmiotem zakupu oraz dostawy spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym oraz
skaningowy mikroskop sił atomowych (AFM) dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej
Woli.
W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy do oferty dołączyć opisy w formie papierowej, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry
eksploatacyjno – techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego.
Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE” - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych.
1.2. Parametry techniczne urządzenia
1.2.1. PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE – SPEKTORMETR RAMANOWSKI
Lp.
Nazwa parametru
1
.
2
.
3
.
4
.
Wielkość parametru
Spektrometr ze wzbudzaniem światłem laserowym o długości fal
λ=325nm, λ=532nm, λ=785nm i λ=1064nm
podwójny tor
detekcyjny z
jednostopniowym
Spektrograf wyposażony w podwójny tor detekcyjny
przejściem wiązki, o
ogniskowej max. 250
mm
rozmiar plamki lasera
Płynna regulacja plamki lasera z całkowicie
1-300 µm
(zależnie od obiektywu i
zoptymalizowaną drogą wiązki laserowej.
długości fali)
Zmotoryzowany zestaw neutralnych filtrów szarych do
zakres mocy
regulacji poziomu mocy promieniowania lasera
od 0.00001% do 100%
wzbudzającego.
Zestaw wymiennych zmotoryzowanych soczewek montowanych kinematycznie, niezbędnych do optymalizacji zdolnoTAK
ści rozdzielczej spektrometru w zakresie UV, VIS i NIR
Lp.
Nazwa parametru
Wielkość parametru
5
Automatyczny system zmiany filtrów odcinających
.
Rayleigha.
TAK
dolny limit rejestracji
widma dla każdego z
nich 50 cm-1
dolny limit rejestracji
widma dla każdego z
nich 250 cm-1
dolny limit rejestracji
widma dla każdego z
nich 70 cm-1
6
Zestaw krawędziowych filtrów służących do odcięcia linii
.
Rayleigha fal λ=532nm, λ=785nm
7 Krawędziowy filtr służących do odcięcia linii Rayleigha fali
. λ=325nm
8
Krawędziowy filtr służących do odcięcia linii Rayleigha fali
.
λ=1064nm
9
Stolik do zamocowania kompletu siatek dyspersyjnych z
.
elektroniczną kontrolą położenia
1
0 Holograficzne siatki dyspersyjne montowane na
. zmotoryzowanym stoliku
1 Detektor CCD z matrycą o zwiększonej grubości warstwy
1 światłoczułej oraz zwiększonej czułości w zakresie UV i
. VIS. Chłodzenie termoelektryczne (moduł Peltiera), bez
konieczności chłodzenia wodą lub ciekłym azotem.
TAK
ilość linii/ mm dla siatek
dyspersyjnych
3600 linii/mm,
1800 linii/mm,
1200 linii/mm ,
830 linii/mm
• zakres roboczy detektora: 200 -1000
nm
• minimalny wymiar
matrycy: 1024 x
256pikseli
• temperatura chłodzenia : –700 C
•
•
1 Detektor liniowy typu InGaAs, o minimalnym rozmiarze 512
2 x 1 pikseli, rozmiar piksela min: 25x500 µm , szybkości
. rejestracji min. 170 widm/s, chłodzony termoelektrycznie
bez konieczności chłodzenia ciekłym azotem.
•
•
System pomiarów konfokalnych z możliwością ciągłego
1
strojenia, ze zmotoryzowaną szczeliną oraz automatyczną
3
optymalizacją sygnału. Automatyczna zmiana trybu pracy
.
pomiar konfokalny/ standardowy.
zakres spektralny:
0.6 do 1.7 µm
minimalny wymiar
matrycy: 512 x 1
pikseli
temperatura chłodzenia : –900 C
wydajność kwantowa: 85%
TAK
Lp.
Nazwa parametru
System detekcji umożliwiający płynny pomiar z wysoką rozdzielczością w rozszerzonym zakresie spektralnym bez
„zszywania ” widm z kolejnych zakresów spektralnych.
1 Zmieniająca się zdolność rozdzielcza kontrolowana przez
4 CCD, wysoka czułość detektora.
.
Wielkość parametru
Zakres spektralny :
a) dla λ=532nm: 50 4100 cm-1
b) dla λ=785nm: 50 3200 cm-1
Rozdzielczość
spektralna dla 532 nm:
≤ 0.5 cm-1
Automatyzacja modułu ramanowskiego
1
5 Automatyczna regulacja i optymalizacja mocy wiązki
. laserowej padającej na próbkę
1
Automatyczna zmiana i regulacji średnicy wiązki przecho6
dzącej przez szczelinę kołową modułu teleskopowego
.
(„beam expander”)
1
7 Automatyczna regulacja parametrów systemu przy użyciu
. wewnętrznej próbki referencyjnej
1
Kalibracja osi częstości oraz korekcja intensywności przy
8
użyciu wbudowanego źródła światła białego oraz lampy
.
neonowej
1
9 Automatyczne przełączanie między obrazem w świetle
. białym a pomiarem w świetle lasera.
Obrazowanie ramanowskie
Spektrometr ramanowski musi zapewniać możliwość
obrazowania/mapowania ramanowskiego:
2 • punktową,
0 • liniową,
. • szybkie obrazowanie typu streamline lub linescan wraz z
pakietem do analizy chemometrycznej
• szybkie obrazowanie punktowe w trybie wysokiej rozdzielczości < 300 nm
TAK
TAK
TAK
TAK
TAK
TAK.
Mikroskop
(Specjalnie przystosowany konfokalny mikroskop optyczny klasy Research Grade zintegrowany ze spektrometrem Ramana, zawierający jak wyszczególniono niżej)
2
1 Osłonę mikroskopu z automatyczną blokadą emisji lasera
TAK
. zgodną z I klasą bezpieczeństwa
2
2
Iluminację światłem odbitym
.
TAK
Lp.
Nazwa parametru
Wielkość parametru
2
3 Głowicę trójobiektywową - binokular + kolorowa kamera
. video
TAK
2
4
Cztery obiektywy ze standardową ogniskową
.
Powiększenia
obiektywów: x5, x20,
x50, x100
Powiększenia obiektywów:
• x20, NA 0.40, WD
12.00,
• x50, NA 0.50, WD
10.60,
2
5
Dwa obiektywy z długą ogniskową
.
2
6
Obiektyw UV
.
Powiększenie
obiektywu: X40
•
Zmotoryzowany stolik mikroskopowy XYZ z aktywnymi
2
funkcjami mapowania punktowego i liniowego oraz
7
obrazowania objętościowego 3D. Mikroskop musi posiadać
.
funkcję autofocus do automatycznego badania próbek
chropowatych.
2
8 Joystick do pozycjonowania próbki oraz oprogramowanie
. sterujące do stolika i mapowania.
2
9 Wyposażenie do ogniskowania liniowego ( line focus
. accessory)
•
•
Minimalny krok w
osiach XY/Z : 0.1/
0.2 µm (dla obiektywu x100)
Rozdzielczość lateralna XY: ≤ 1µm
(dla obiektywu
x100)
Rozdzielczość konfokalna w osi Z:
< 2.5µm
TAK
TAK
Lasery
3
0
Laser He-Cd pracujący na linii 325nm
.
Moc wyjściowa lasera
(CW): 25 mW
3
1
Laser Nd:YAG 532nm , chłodzony powietrzem
.
Moc wyjściowa lasera
(CW): 20 mW
3
2 Laser diodowy o linii 785 nm, z filtrem plazmowym i
. integralnym systemem chłodzenia powietrzem
Moc wyjściowa lasera
(CW): 300 mW
Lp.
Nazwa parametru
3
3
Laser Nd:YAG pracujący na linii 1064nm
.
Wielkość parametru
Moc wyjściowa lasera
(CW): 100 mW
Wyposażenie dodatkowe
3 Spektrometr musi być wyposażony w sondę światłowodową
4 dla długości fali 758nm, z integralnym filtrem Rayleigh’a do
. min. 150 cm-1, wyposażona w światłowód o długości min.
2m sprzężony ze spektrometrem.
3
5
Stół optyczny z pasywną wibroizolacją.
.
3
Stanowisko robocze zawierające: biurko i fotele
6
pracownicze zgodne w wymogami BHP.
.
3
Zintegrowany system komputerowy i zintegrowane
7
oprogramowanie do sterowania układem AFM/RAMAN,
.
akwizycji danych i ich przetwarzania
3
8 Komputer do sterowania systemem zalecane przez
. producenta.
3
9
Monitor 22’
.
4
0
Laserowa drukarka kolorowa z opcją druku duplex
.
4
Oprogramowanie komputerowe z programem umożliwiają1
cym sterowanie systemem, akwizycję i obróbkę danych po.
miarowych. Wymagana licencja wielostanowiskowa
4
2 Oprogramowanie biurowe typu Office lub równoważne z li. cencja 2 stanowiskowa.
4
3
Biblioteki widm ramana.
.
Sprzężenie z AFM
4 Spektrometr ramanowski musi być zintegrowany z mikro4 skopem AFM (specyfikacja techniczna niżej) na poziomie
. mechanicznym, optycznym oraz programowym umożliwiającym automatyczne wykonywanie mapowania Raman/AFM
TAK
Wymiary minimalne
blatu: 2x1.5x0,2 m
TAK
TAK
2 szt.
4 szt.
1 szt.
TAK
TAK
Min. 8060 widm
Sprzężenie optyczne w
symetrii off-axis dla
optymalizacji pomiarów
typu TERS
Lp.
Nazwa parametru
4
5
.
4
6
.
Układ sprzężenia optycznego dla AFM powinien być wyposażony w:
• elastyczne ramię próbkowania do bezpośredniego
ogniskowania lasera ramanowskiego na sondzie,
• ramię musi być zamontowane na zmotoryzowanym
stoliku umożliwiającym przesuw w kierunkach x,y,z.
poprzez interfejs trackball,
• kamerę wideo zamontowaną na końcu ramienia, dla
ogniskowania lasera na ostrzu.
Opcje
Dostarczona aparatura musi spełniać warunki dalszej rozbudowy o:
• przestrajalny filtr umożliwiający pomiary niskoczęstotliwościowe,
• zestaw do analizy polaryzacyjnej.
Wielkość parametru
TAK
Dolny zakres pomiarowy: 10 cm -1
(zależnie od próbki)
1.2.2. PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE – SKANINGOWY MIKROSKOP SIŁ ATOMOWYCH AFM
Lp.
Nazwa
1
.
2
.
Opis
Tryby pomiarowe AFM
- Kontaktowy AFM,
- Pół-kontaktowy AFM,
- Bezkontaktowy AFM,
- Obrazowania fazowego,
- Mikroskopia prądów tunelowych (STM),
- Krzywe siła – odległość,
Układ skanowania
Układ skanowania z nieruchomą sondą oraz ruchomą próbką we wszystkich trzech osiach. (Inne typy układów skanowania nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego)
TAK
TAK
Pole skanowania XY: co
Parametry skanera. Pole skanowania z rozdzielczością, ponajmniej 90 x 90 µm
3 zwalającą na uzyskanie obrazu periodyczności struktury
. atomowej na mice w trybie kontaktowym AFM.
Zakres skanowania Z:
Skaner musi być wyposażony w układ sprzężenia zwrotneco najmniej 7,5 µm
go pracujący w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego
Głowica SPM
Głowica SPM:
• z możliwością manualnego ustawiania położenia próbki
w zakresie co najmniej 5 x 5 mm,
• wyposażona w układ zmotoryzowanego zbliżania sondy
do próbki z regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki)
4
realizowaną poprzez oprogramowanie,
.
• możliwość pracy we wszystkich trybach AFM oraz STM
bez konieczności zmiany głowicy skanującej oraz
skanera
• umożliwia
wymianę
sondy
pomiarowej
bez
zdejmowania głowicy z mikroskopu.
Głowica integrująca AFM i spektrometr ramanowski
TAK
Lp.
Nazwa
Opis
Głowica wyposażona w :
• układ zmotoryzowanego zbliżania sondy do próbki z
regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki) realizowaną Zakres ustawiania
poprzez oprogramowanie,
położenia próbki: 5 X 5
• detekcja położenia sondy odbywa się w oparciu o laser mm
5
pracujący w zakresie widma podczerwieni, aby nie
.
zakłócać działania spektrometru ramanowskiego
Rozmiar próbek: nie
• umożliwia akwizycje widm ramanowskich na próbkach
mniejszy niż 45 x 45 om
nieprzeźroczystych w układzie z oświetlaniem ostrza
o wysokości nie mniejpomiarowego AFM od „boku”
szej niż 18 mm
• umożliwia wymianę sondy pomiarowej bez
zdejmowania głowicy z mikroskopu.
Zintegrowany układ optyczny z kamerą CCD:
• rozdzielczość układu optycznego co najmniej 2 µm,
6
. • funkcje powiększenia oraz regulacji natężenia
oświetlenia kontrolowane poprzez oprogramowanie
mikroskopu.
7
.
8
.
TAK
Oprogramowanie integrujące AFM i spektrometr ramanowski
Oprogramowanie umożliwiające integrację spektrometru ramanowskiego z mikroskopem AFM, w sposób umożliwiający zebranie widm ramanowskich z wybranych punktów lub
TAK
przeprowadzenie tzw. mapingu – czyli zebranie macierzy
widm z zadanego obszaru
Kontroler
Rozdzielczość: co najmniej 20 bitów dla każdej osi skanowania,
Kontroler sterujący pomiarem AFM.
Komunikacja pomiędzy kontrolerem mikroskopu, a
Możliwość rejestracji
komputerem sterującym poprzez port USB 2.0.
obrazów z rozdzielczością: co najmniej 1024
x 1024 punktów dla co
najmniej ośmiu kanałów
danych jednocześnie.
Sondy pomiarowe
9
. Sondy do pracy w trybie kontaktowym
1
0 Sondy do pracy w trybie pół-kontaktowym i bezkontakto. wym
1
1
Sondy do pracy w trybie mikroskopu tunelowego
.
1
2
Sonda do nanoindentacji
.
Oprogramowanie mikroskopu AFM
50 szt.
50 szt.
50 szt.
1 szt.
Lp.
Nazwa
1
3 Umożliwiające wykonanie pomiaru, obróbkę, opracowanie
. oraz prezentację danych pomiarowych
1
4 Pracujące pod kontrolą systemu zainstalowanego na kom. puterze sterującym
1
5
Umożliwiające wyświetlanie 16 kanałów danych
.
1
6 Dające możliwość jednoczesnego wyświetlania danych „ do
. przodu” i „do tyłu” dla jednego kanału
Opis
TAK
TAK
TAK
TAK
Opcje
(tryby pomiarowe, o które można rozbudować mikroskop w przyszłości)
1
Mikroskopia pojemnościowa dC/dV (mikroskopy pozwalają7
ce na pomiary w trybie wyłącznie dC/dZ nie będą brane pod
.
uwagę przez Zamawiającego),
TAK
1
Pomiar temperatury oraz przewodnictwa temperaturowego.
8
Rozdzielczość obrazowania w tym trybie powinna wynosić
.
co najmniej 100 nm
TAK
1
Możliwość prowadzenia badań w powietrzu i w cieczach w
9
temperaturach z zakresu od temperatury pokojowej do tem.
peratury 60°
TAK
1.2.3. WYMAGANIA DODATKOWE
Lp.
Nazwa
Wymagane przeszkolenie co najmniej 3 użytkowników w
1
czasie instalacji systemu włączając przynajmniej 2 dni
.
szkolenia w zakresie obsługi spektrometru ramanowskiego
oraz 3 dni w zakresie obsługi AFM
2 Wymagane dodatkowe szkolenie aplikacyjne w wymiarze 3
. dni w terminie uzgodnionym z Zamawiającym w jednym z
czołowych laboratoriów badawczych.
3 Podręczniki użytkownika w formie drukowanej w języku pol. skim (preferowany) lub angielskim i na CD opisujące działanie spektrometru, rejestrację widm, oprogramowanie.
Maksymalny czas oczekiwania na usunięcie uszkodzenia w
4 okresie gwarancji wynosi 21 dni roboczych od czasu zgło. szenia awarii, a w okresie pogwarancyjnym 30 dni. Okres
gwarancji będzie automatycznie przedłużany o czas trwania
zgłoszonych awarii aparatury
5
Okres pełnej gwarancji zarówno na całe urządzenie jak
.
i wszystkie jego podzespoły
Opis
TAK
TAK
TAK
TAK
minimum 12 miesięcy
2. PARAMETRY TRANSPORTOWO – INSTALACYJNE
Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badanie detalu dostarczonego przez zamawiającego.
3. TERMIN WYKONANIA
Czas realizacji dostawy urządzenia:
– do 14 tygodni od dnia podpisania umowy