ćwiczenie nr 82 interferencyjny pomiar kształtu powierzchni
Transkrypt
ćwiczenie nr 82 interferencyjny pomiar kształtu powierzchni
* ĆWICZENIE NR 82 INTERFERENCYJNY POMIAR KSZTAŁTU POWIERZCHNI I. 1. 2. 3. 4. II. Zestaw przyrządów Interferometr Fizeau z kopiarką (1-14) Transformator oświetlacza 220V/6V regulowany (15) Dławik lampy spektralnej (16) Próbki Cel ćwiczenia Zapoznanie się ze zjawiskiem interferencji, z prążkami równej grubości, z budową interferometru Fizeau, z zastosowaniem interferencji do pomiaru małych deformacji powierzchni, w nabraniu doświadczenia z praktycznym pomiarem kształtu powierzchni. 1. Budowa interferometru i jego charakterystyka Schemat budowy interferometru i jego wygląd przedstawiony jest na załączonych rysunkach. Interferometr składa się z dwóch układów: interferometru Fizeau (elementy 1-11) i kopiarki (10-14), która umożliwia narysowanie prążków interferencyjnych na kartce papieru. Prążki interferencyjne rysujemy ołówkiem, przeciągając pojedynczą linię wzdłuż środka ciemnych prążków. Rysujemy bardzo ostrożnie, by nie poruszyć cokolwiek w interferometrze. Pamiętaj, że wszelkie niewielkie drgania mogą zepsuć Twoje ustawienie prążków. Pamiętaj także, że wyrysowany obraz jest powiększony. Tak więc do wyliczeń należy niektóre wielkości pomnożyć przez odwrotność powiększenia tj. przez 0,886 . Do wielkości tych należą takie wielkości jak: średnica prążków i ich cięciwa. Ale nie muszą one dotyczyć strzałek t i odległości międzyprążkowych s , ponieważ obie te wielkości w naszych wzorach występują jednocześnie w liczniku i mianowniku. Interferometr pracuje z lampą sodową więc λ = 589,3 nm. 2. Justowanie interferometru i rejestracja interferogramu Po włączeniu lampy sodowej 1, poprzez dławik 16, założeniu papieru do rysowania 12, włączeniu oświetlenia przez transformator regulowany 15, na stolik interferometru 5 kładziemy badaną próbkę 4 tak by była zwrócona badaną powierzchnią do góry. Ustawiamy wysokość stolika pokrętłem 6 tak by szczelina między sprawdzianem 3 a badaną powierzchnią próbki wynosiła około 0,2 mm. Pamiętaj, że lampa sodowa daje dublet linii i kontrast prążków zależy od tej odległości i przy pewnych odległościach prążki mogą być niewidoczne. Pamiętaj także, próbka nie powinna dotykać sprawdzianu, to może być przyczyną, że nie uda ci się ustawić prążków interferencyjnych w sposób optymalny. Śrubami 7, bardzo 1 * delikatnie, regulujemy pochylenie badanej powierzchni tak by powierzchnia była „równoległa” do sprawdzianu. Kontrolujemy to ustawienie patrząc na próbkę na wprost i z boku, ustawiając jednocześnie oko na poziomie badanej powierzchni. Teraz okularem 11 regulujemy ostrość widzenia kartki papieru (i prążków). Korygujemy ewentualne złe ustawienia próbki przesuwając ją. W okularze powinniśmy widzieć badaną powierzchnię (jasne koło) na tle sprawdzianu (nieco większe także jasne koło). Powinniśmy zobaczyć także prążki interferencyjne na tle badanej powierzchni. Jeżeli ich nie ma należy poprawiać poprzednie justowania, aż je zobaczymy. Oświetlenie papieru regulujemy tak, by był widoczny jednocześnie ołówek i prążki interferencyjne. Prążki mogą być bardzo gęste. Optymalne ustawienie prążków interferencyjnych polega na tym, żeby je maksymalnie rozszerzyć (7), tzn. żeby odległość mięzyprążkowa była jak największa i wybrać ustawienie odpowiadające optymalnej analizie interferogramu. Najpierw więc należy sprawdzić czy nie uda się otrzymać prążków kołowych lub eliptycznych, jeżeli nie to dopiero potem kilku wygiętych prążków (rejestrujemy tu dwa systemy prążków wzajemnie prostopadłych), a na końcu zaś będziemy analizować bardzo skomplikowane ich kształty, ponieważ taka analiza jest najbardziej pracochłonna. Pamiętajmy także, że z obrazu narysowanych prążków nie ustalimy gdzie mamy wypukłość a gdzie wklęsłość badanej powierzchni. Dlatego podczas ustawiania prążków optymalnych musimy obserwować co dzieje się z prążkami. Dla wybranego wycinka interferogramu obserwujemy kierunek przesuwania się prążków i odległość miedzyprążkową. Jeżeli gęstość prążków rośnie (odległość międzyprążkowa maleje) to prążki przesuwają się do krawędzi klina powietrznego, dla wybranego obszaru interferogramu. I to właśnie powinniśmy zaznaczyć na interferogramie, decyduje to o numeracji prążków (ich rzędzie). Jeżeli na interferogramie widać miejscowe deformacje prążków lub ich uskoki, które występują w lokalnych wyraźnie widocznych obszarach, to prążki ustawiamy tak by były prostopadłe do rowu lub uskoku badanej powierzchni. Rejestrujemy interferogramy dla wskazanych nam przez prowadzącego powierzchni. Interferogramy opisujemy numerami próbek i ewentualnie powierzchni. Dokładniejsze szczegóły opisane mamy w skrypcie „Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki”, część IV, ćwiczenie 82. 1. 2. III. Analiza interferogramów (przeprowadzana w domu) Prążki interferencyjne są kołowe lub eliptyczne. Korzystamy ze wzoru 82.6 . Dla kilku kombinacji wybranych prążków wyliczamy promienie krzywizny powierzchni, podając jednocześnie nr powierzchni i czy powierzchnia jest wypukła czy wklęsła. Dla prążków eliptycznych opisane wyżej wyliczenia dotyczą dwóch głównych osi elipsy. Prążki są wygięte i tworzą łuki. Korzystamy ze wzoru 82.10 . Dla kilku prążków wyliczamy promienie krzywizn badanej powierzchni. Postępujemy w podobny sposób dla ustawień prążków w kierunku „prostopadłym” do poprzednich. Pamiętajmy by wybór 2 * punktów A i B na rys. 82.5 był taki by strzałka t była możliwie duża (ewentualnych zakrzywień prążków na brzegach próbki położenia punktów A i B powinny unikać). 3. Prążki tworzą miejscowe wygięcia lub uskoki. Mamy do czynienia z rysami (nasypami) lub uskokami. Wyliczenia dotyczą tylko lokalnych deformacji. Korzystamy ze wzoru 82.7 . Wyliczamy wysokość lub głębokość rowu lub uskoku w kilku jego miejscach. 4. Prążki tworzą skomplikowane kształty. Rysujemy kilka np. 5 równoległych linii skanowania i na każdej z nich wyliczamy w stałych (dla danego interferogramu) odległościach wielkości deformacji ze wzoru 82.7 . Rysujemy te deformacje na wykresie h = f(x). Wartość zerowa x-a wyznaczana jest dla punktów na liniach skanowania, przez prostą prostopadłą do linii skanowania np. przechodzącą przez punkt najbardziej wysunięty na lewo. Zaś h wyliczamy dla bieżącego punktu x w stosunku do punktu dla x = 0. Jeżeli h dla wszystkich linii skanowania zawiera wyraźne pochylenie badanej próbki tj. klin powietrzny, to ten klin możemy odjąć od wyliczonych h. Odejmowane hklina powinno dotyczyć całej powierzchni płaskiej, tak to robią profesjonalne oprogramowania, uwzględniające odległości między liniami skanowania (rys.82.8). W naszym przypadku wystarczy że odejmiemy średnią wartość klina dla wszystkich linii skanowania, zakładając że kliny dla każdej linii skanowania wyznaczamy w stosunku do skrajnych krawędziowych punktów. Tak skorygowaną funkcje hsk = f(x) przedstawiamy na wykresie dla wszystkich linii skanowania. Uwaga. Każdy interferogram i wyliczone wyniki muszą zawierać numer badanej powierzchni i określenie czy powierzchnia jest wklęsła czy wypukła, prążkom zaś należy przyporządkować właściwą numerację (rzędy). Należy oszacować dokładności pomiarów. 3 * IV. Schemat układu Interferometr FIZEAU z kopiarką 1 – Lampa spektralna (Na) 2 – Płytka dzieląca 3 – Sprawdzian (kondensor) 4 – Próbka, której powierzchnię bada się 5 – Stolik podnoszony 6 – Regulacja podnoszenia stolika 7 – Śruby pochylające sprawdzian płaski 8 – Zwierciadło 9 – Obiektyw interferometru 10 – Płytka dzieląca 11 – Okular 12 – Stolik z papierem, na którym rysuje się interferogram 13 – Układ pryzmatów „PORRO 2” 14 – Obiektyw kopiarki 15 – Transformator regulowany 16 – Dławik 4 5 V. Przebieg ćwiczenia 1. Wyznaczyć powiększenie układu 2. Narysować na interferometrze osie próbki 3. Ustawić sprawdzian tak, by prążki interferencyjne możliwie optymalnie określały kształt powierzchni 4. Narysować prążki interferencyjne 5. Punkty 2 – 4 powtórzyć dla kilku próbek wskazanych przez prowadzącego zajęcia 6. Wyznaczyć klin wskazanej próbki VI. Dane do obliczeń 1. λNa = 589,3 nm 2. ∆λNa = 0,3 nm Należy przeprowadzić dyskusję błędów mierzonych wielkości. Należy przyjąć, że dokładność wyznaczenia środka prążka interferencyjnego wynosi 0,1 odległości międzyprążkowej (λ/2) tj. 0,05 λ . 6