zespół krystalografii stosowanej (sl1.3)

ZZE
ES
SP
PÓ
ÓŁŁ K
KR
RY
YS
STTA
ALLO
OG
GR
RA
AFFIIII S
STTO
OS
SO
OW
WA
AN
NE
EJJ ((S
SLL11..33))
Ś
ŚR
RO
OD
DO
OW
WIIS
SK
KO
OW
WE
E LLA
AB
BO
OR
RA
ATTO
OR
RIIU
UM
M
B
BA
AD
DA
AŃ
Ń R
RE
EN
NTTG
GE
EN
NO
OW
WS
SK
KIIC
CH
H II E
ELLE
EK
KTTR
RO
ON
NO
OM
MIIK
KR
RO
OS
SK
KO
OP
PO
OW
WY
YC
CH
H ((S
SLL11))
Badania strukturalnych własności materiałów nowoczesnej technologii
metodami dyfrakcji rentgenowskiej
Prace doktorskie w ramach Studium Doktoranckiego wykonywane w Zespole SL1.3 wykorzystują
nowoczesne metody eksperymentalne i teoretyczne, słuŜące określaniu struktury krystalicznej i
struktury defektowej róŜnorodnych materiałów: monokryształów, układów warstwowych,
nanokryształów i innych. Struktura krystaliczna i struktura defektowa badane są w funkcji
parametrów technologicznych, temperatury, ciśnienia i składu materiału. W badaniach uŜywane są
trzy nowoczesne dyfraktometry firmy Philips/Panalytical oraz linie pomiarowe pierścieni
synchrotronowych w Hamburgu (Niemcy), Lund (Szwecja) i innych. Prace wykonywane są w
ramach szerokiej współpracy międzynarodowej.
Określenie struktury materiałów jest moŜliwe dzięki zjawisku wzmocnienia dyfrakcyjnego fal
elektromagnetycznych o długości zbliŜonej do rozmiarów atomów. Fale takie, czyli
promieniowanie rentgenowskie) ugięte na badanym obiekcie (polikrystalicznym lub
monokrystalicznym) analizowane są pod względem kierunku i natęŜenia, co pozwala określić
własności strukturalne tego obiektu. W nowoczesnej technologii istotne jest określanie własności
strukturalnych, gdyŜ są one jednym czynników decydujących o własnościach fizycznych materiału.
Dlatego pierwszym krokiem w badaniu materiału jest określenie jego struktury.
Tematyka pracy w Zespole SL1.3 obejmuje badanie własności strukturalnych róŜnorodnych
materiałów w funkcji składu chemicznego oraz parametrów takich jak temperatura czy ciśnienie. W
badaniach wykorzystywana jest nowoczesna, słuŜąca do badań metodami dyfrakcji rentgenowskiej,
istnieje teŜ moŜliwość prowadzenia badań metodami komplementarnymi takimi jak dyfrakcja i
mikroskopia elektronowa. Przedmiotem badań są głównie materiały wytwarzane w laboratoriach
Instytutu Fizyki, w tym półprzewodnikowe materiały niskowymiarowe róŜnego rodzaju. Praca w
naszej grupie ma głównie charakter doświadczalny, jednak jest tu równieŜ pole działania dla metod
teoretycznych i ich rozwijania. Doktoranci włączani są bezpośrednio do prowadzonych przez
Zespół prac naukowych, dzięki czemu praktycznie zapoznają się z róŜnymi metodami badań
struktury.
Proponowana tematyka prac doktorskich obejmuje np.:
- określanie struktury półprzewodnikowych i tlenkowych roztworów stałych (tzw. kryształach
mieszanych),
- określanie struktury materiałów półprzewodnikowych o obniŜonej wymiarowości,
- określanie własności elastycznych (rozszerzalność termiczna, ściśliwość) materiałów
półprzewodnikowych i tlenkowych,
- badanie przejść fazowych,
- określanie struktury defektowej materiałów monokrystalicznych i warstwowych.
• Od kandydatów na studia doktoranckie wymagamy znajomości podstaw fizyki ciała stałego,
zaangaŜowania w pracę badawczą, posługiwania się językiem angielskim.
• Kandydaci, którzy zostaną przyjęci, otrzymają stypendium zgodnie z regułami
Międzynarodowego Studium Doktoranckiego IFPAN obowiązującymi w IFPAN (stypendium
1550 zł oraz dodatek mieszkaniowy dla osób spoza Warszawy).
Kandydaci z kraju i z zagranicy zainteresowani studiami doktoranckimi w laboratorium Zespołu
Krystalografii Stosowanej proszeni są o bezpośredni kontakt.
Wojciech Paszkowicz (prof. IFPAN, dr hab.)
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk
Al. Lotników 32/46, Warszawa
e-mail [email protected]
tel: +48-22-8436601 ext. 3301, +48-228436034
Dyfraktometr X'Pert: próbka
ustawiona w pozycji wysokiego
kąta dyfrakcji (laboratorium
IFPAN).
Ustawianie pomiaru
w temperaturze 4 K (laboratorium
synchrotronowe ESRF, Grenoble)
Proces ściskania kryształu między
kowadłami diamentowymi
(laboratorium synchrotronowe
MAXlab, Lund)