Arkusz Informacji Technicznej

Projekt: Centrum Badań Przedklinicznych i Technologii (akronim CePT)
realizowany jest w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka lata 2007 – 2013, Priorytet 2 Infrastruktura strefy B+R, Działanie 2.2 Wsparcie tworzenia wspólnej infrastruktury
badawczej jednostek naukowych
______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
Załącznik nr 2
ZP/PN/04/2012
Arkusz Informacji Technicznej
Przedmiot oferty:
Dyfraktometr rentgenowski (XRD) z możliwością wykonania pomiarów typu SAXS
Dyfraktometr przeznaczony jest do badań strukturalnych materiałów o zastosowaniach biomedycznych (polimery,
ceramika, metale).
Nazwa aparatu:
......................................................................
Producent:
......................................................................
Rok produkcji:
......................................................................
UWAGA !
Wszystkie parametry podane w rubryce “Warunki wymagane” są parametrami, których niespełnienie spowoduje odrzucenie oferty. Brak wpisu
w rubryce „Wartość oferowana” zostanie potraktowany jako niespełnienie wymagań parametrycznych.
Zamawiający zastrzega sobie prawo do sprawdzenia wiarygodności podanych przez Wykonawcę parametrów technicznych we wszystkich
dostępnych źródłach w tym również zwrócenie się o złożenie dodatkowych wyjaśnień przez Wykonawcę lub producenta.
Lp.
NAZWA PARAMETRU LUB
FUNKCJA POMIAROWA
1.
Generator
2.
Goniometr
WARUNKI WYMAGANE
WARTOŚĆ OFEROWANA
zasilanie 220-230V/50Hz
moc - minimum 3.0kW
napięcie 20-50kV (regulowane z krokiem 1kV)
natężenie prądu 5-60mA (regulowane z krokiem 1 mA)
obudowa
przeciwradiacyjna
spełniająca
normy
europejskie w zakresie promieniowania jonizującego
poniżej 1 Sv/h w odległości 10 cm od obudowy
pionowy w konfiguracji /
promień goniometru 280 mm
str. 1
3.
Optyka wiązki pierwotnej
4.
Lampy rentgenowskie
5.
Stolik próbki i akcesoria
wyposażony w silniki krokowe z optycznymi
enkoderami
powtarzalność ustawienia co najmniej +/- 0.0001
pomiar z krokiem co najmniej 0.0001
automatyczny czujnik kolizji oraz kontroli konfliktu
elementów błędnie zainstalowanych
oprogramowanie z funkcją sprawdzania poprawności
konfiguracji w czasie rzeczywistym
optyka wiązki pierwotnej z kompletem szczelin
elementy układu automatycznie rozpoznawane w czasie
rzeczywistym
optyka umożliwiająca prowadzenie badań w geometrii
transmisyjnej i odbiciowej
szczeliny Sollera o odpowiedniej dywergencji
zestaw szczelin i kolimatorów umożliwiających
prowadzenie badań SAXS w geometrii transmisyjnej
oraz mikrodyfrakcji
zwierciadło Goebla ogniskujące wiązkę
uniwersalne zwierciadło Goebla przystosowane do
promieniowania Cu
lampa RTG ceramiczna z anodą Cu o mocy co najmniej
2 kW z ogniskiem LFF, z filtrem Ni promieniowania
Kβ; wymagana jest możliwość zmiany ogniska z
liniowego na punktowe i odwrotnie bez konieczności
ponownego justowania oraz wyjmowania lampy z
obudowy
dodatkowo jedna lampa Cu – z dostawą na żądanie,
lampa zintegrowana z systemem plug & play
uchwyty do pomiarów w geometrii transmisyjnej i
odbiciowej
stolik do pomiarów w kapilarze i do pomiarów SAXS
akcesoria do pomiarów SAXS, umożliwiające przebieg
wiązki promieniowania w atmosferze helu
kompaktowy stolik XYZ – o niezależnych przesuwach
co najmniej 25 mm w każdym z kierunków, wszystkie
przesuwy sterowane z poziomu oprogramowania
str. 2
6.
Optyka wtórna
7.
Detektor
8.
System sterujący oraz
oprogramowanie
stolik obrotowy
komora temperaturowa umożliwiająca pomiary w
zakresie temperatur, co najmniej od 100 C do +300 C,
wyposażona w kontroler temperatury, sterowany
komputerowo
kompaktowe koło Eulera, z następującymi osiami
sterowanymi komputerowo o parametrach: obrót chi
(zakres min. 5
95 ), obrót fi (zakres min. 0
360 ); translacja z (zakres min. 2 mm) - sterowana
manualnie
układ
laserowy do pozycjonowania miejsca
pomiarowego w próbce
zbiornik na ciekły azot o objętości min. 10 litrów
automatyczne rozpoznawanie elementów układu
układ szczelin antyrozproszeniowych
beznarzędziowa zmiana optyki, niewymagająca
ponownego justowania
szczeliny Sollera o odpowiedniej dywergencji oraz
szczelina typu „long” Soller
szybki detektor półprzewodnikowy typu PSD, z
możliwością pracy liniowej i punktowej; co najmniej
190 pasków, powierzchnia aktywna detektora co
najmniej 230 mm2; gwarancja producenta, że oferowany
detektor nie posiada martwych pasków
detektor powierzchniowy 2-D, oparty na technologii
MikroGap, średnica aktywna detektora min. 130 mm,
4 000 000 kanałów, szumy: < 0.0005 zliczeń na s/mm2;
gwarancja producenta, że powierzchnia oferowanego
detektora jest bez martwych obszarów
komputer sterujący pracą dyfraktometru z systemem
operacyjnym MS Windows 7
oprogramowanie sterujące aparatem
oprogramowanie do jakościowej i ilościowej analizy
danych – minimum 3 stanowiska; oprogramowanie ma
umożliwiać analizę fazową dla geometrii transmisyjnej
oraz odbiciowej z udokładnieniem metodą Rietvelda, w
str. 3
9.
Układ chłodzenia
10.
Wymagania dodatkowe
11.
Gwarancja
tym określanie stopnia krystaliczności badanych
materiałów, analizę tekstury, analizę dyfraktogramów w
zakresie SAXS, badania mikrodyfrakcji
drukarka laserowa, czarno-biała, format A4
zamknięty zewnętrzny układ chłodzenia woda/woda o
mocy chłodniczej min. 5kW
instrukcje użytkowania dyfraktometru i urządzenia
chłodzącego w języku polskim lub angielskim
co najmniej 5-dniowy instruktaż dla 2 osób w zakresie
podstawowej i zaawansowanej obsługi dyfraktometru
w siedzibie Zamawiającego lub u Producenta
czas reakcji serwisu w okresie gwarancyjnym w ciągu
maks. 2 dni roboczych od daty zgłoszenia awarii
czas wykonania naprawy gwarancyjnej w ciągu maks.
14 dni roboczych od dnia zgłoszenia awarii lub w ciągu
maks. 30 dni w przypadku konieczności sprowadzenia
podzespołów
gwarancja dla dyfraktometru i urządzenia chłodzącego minimum 24 miesięcy
gwarancja dostępu do części zamiennych i serwisu
dyfraktometru i urządzenia chłodzącego przez okres
minimum 10 lat
(pieczęć Wykonawcy/Wykonawców)
..................................., dn. .................... 2012 r
………………………………………………………………
(czytelny podpis imieniem i nazwiskiem lub
pieczęć imienna i podpis upoważnionego przedstawiciela wykonawcy)
str. 4