Studia Stacjonarne I Stopnia In ynierskie C. Przedmioty kierunkowe

Studia Stacjonarne I Stopnia Inżynierskie
C. Przedmioty kierunkowe
Kierunek/Profil dyplomowania
Tytuł przedmiotu:
Semestr - wymiar godzin; punkty:
ZIP/Wszystkie profile
Metrologia w procesach wytwarzania
makroelementów
IV – W E 2 (4 pkt.); V – L3; (3 pkt.)
WYKŁADY: Struktura procesu wytwarzania. Obieg informacji pomiarowych w typowych
procesach wytwarzania. Struktura zadań metrologicznych w zakładach produkcyjnych.
Związki między parametrami procesu produkcyjnego a parametrami geometrycznymi
wyrobu.
Metrologia wielkości geometrycznych jako czynnik dominujący w pomiarach.
Wzorce długości i przemieszczeń: kresowe, końcowe, przyrostowe, kodowe, falowe.
Odtwarzalność wzorców. Hierarchiczny układ wzorców i sprawdzań dla przyrządów
pomiarowych. Spójność pomiarowa i praktyczne aspekty jej zachowania w pomiarach.
Klasyfikacja wyposażenia do pomiarów wielkości geometrycznych. Przyrządy suwmiarkowe,
mikrometryczne, układy czujnikowe. Przyrządy do pomiarów wymiarów wewnętrznych
(średnicówki i inne). Długościomierze i wysokościomierze cyfrowe wspomagane
komputerowo. Urządzenia do pomiarów optycznych (mikroskopy, projektory, kamery CCD).
Zjawisko interferencji światła. Interferometry laserowe. Systemy nadążne w pomiarach
urządzeń przemysłowych i robotów. Maszyny pomiarowe 1-osiowe. Wstęp do pomiarów
wielowspółrzędnościowych. Maszyny współrzędnościowe wspomagane komputerowo.
Sterowanie CNC maszynami współrzędnościowymi. Pomiary fotogrametryczne w produkcji
potokowej. Fotogrametria statyczna i dynamiczna. Typowe błędy w pomiarach długości i
kąta. Wpływ sił i nacisków pomiarowych. Wpływ temperatury i gradientów termicznych na
pomiary cech geometrycznych. Błędy związane z postulatem Abbego (błędy 1-ego i 2-ego
rzędu).
Urządzenia do pomiaru kątów. Wzorce kątowe. Klasyfikacja odchyłek
geometrycznych. Kryteria
odniesienia dla oceny liczbowej odchyłek prostoliniowości,
płaskości, okrągłości, walcowości. Filtracja danych pomiarowych. Rodzaje filtrów. Filtry
analogowe i cyfrowe (Gaussa, Kalmana) w urządzeniach pomiarowych. Metody pomiaru
odchyłek prostoliniowości, płaskości, okrągłości, walcowości. Metoda odniesieniowa i
bezodniesieniowa w ocenie odchyłek okrągłości. Metoda klatki i spirali w ocenie odchyłek
walcowości. Urządzenia do identyfikacji odchyłek kształtu. Analiza składowych odchyłek
geometrycznych jako ważny element diagnozowania stanu procesu wytwarzania. Odchyłki
kierunku, położenia i bicia oraz stanowiska do ich pomiaru w warunkach produkcyjnych i w
Izbach Pomiarowych. Struktura geometryczna warstwy wierzchniej i jej znaczenie. Związki
między procesem wytwarzania a mikrogeometrią warstwy wierzchniej. Chropowatość i
falistość powierzchni. Główne składniki konstytuowania mikrogeometrii warstwy wierzchniej.
Parametry wysokościowe, częstotliwościowe oraz związane z kształtem chropowatości.
Krzywa udziału materiałowego. Parametry związane z tą krzywą. Metody pomiaru
chropowatości i falistości w warunkach laboratoryjnych i produkcyjnych. Urządzenia do
pomiaru chropowatości i falistości (profilometry). Metody pomiaru wybranych wielkości
elektrycznych,, mechanicznych, pneumatycznych, hydraulicznych. Wstęp do statystycznych
metod nadzorowania stanu procesu wytwarzania wykorzystujących dane pomiarowe.
Ekonomiczne aspekty pomiarów: koszty i ich charakterystyka. Optymalizacja doboru
przyrządów pomiarowych. Nadzorowanie wyposażenia pomiarowego w produkcji.
Planowanie kontroli i pomiarów w procesach wytwórczych. Organizacja stanowisk
metrologicznych w procesach wytwarzania. Wymagania ogólne dla Izb Pomiarowych.
LABORATORIA:
Dokumentacja metrologiczna części maszyn. Racjonalny dobór
wyposażenia do pomiarów. Ustawianie i regulacja cyfrowych przyrządów pomiarowych do
pomiaru cech wymiarowych i geometrycznych. Programowanie pomiaru elementów
maszynowych wysokościomierzem cyfrowym wspomaganym komputerowo. Dokładne
pomiary pośrednie kątów. Optyczne pomiary małych elementów o skomplikowanych
kształtach (maszyna optyczna ZKM z oprogramowaniem) Pomiary geometrii przedmiotów z
zastosowaniem analizy obrazu. Pomiary fotogrametryczne wspomagane komputerowo.
Zintegrowane pomiary przemieszczenia, prędkości i przyśpieszenia metodą interferometrii
laserowej ze wspomaganiem komputerowym (Renishaw-Gold) Wyznaczanie odchyłek
prostoliniowości, okrągłości i walcowości na skomputeryzowanych stanowiskach. Pomiary
parametrów chropowatości powierzchni na stanowisku stacjonarnym (Talysurf4 z
oprogramowaniem) Wyznaczanie krzywej udziału materiałowego. Pomiarowa identyfikacja
odchyłek kształtu (urządzenie Talycenta z oprogramowaniem) Pomiary współrzędnościowe z
wykorzystaniem maszyny PMM CNC i oprogramowania Quindos.Wyznaczanie parametrów
dokładnościowych robota za pomocą systemu nadążnego Laser-Tracker. Opracowanie
planów kontrolnych i procedur pomiarowych dla produkcji seryjnej i jednostkowej.
Kwalifikacja zdolności metrologicznej wg MSA. Pomiary sił i momentów. Pomiary napięcia
prądui rezystancji. Pomiary prędkości i natężenia przepływu w układzie hydraulicznym.
Osoba odpowiedzialna za przedmiot:
Dr hab.inż. Jerzy Sładek, prof. PK
Jednostka organizacyjna:
Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji
Produkcji (M-6)