morfologia frontu krystalizacji siluminu eutektycznego
Transkrypt
morfologia frontu krystalizacji siluminu eutektycznego
-41Solid itioation of Metais and Al ł oys , No.28, 1996 Krzepmęcie Metali i Sropó w. Nr 28, 1996 PAN- Oddzw l Katowice: PL. ISSN 0208-9386 MORFOLOGIA FRONTU KRYSTALIZACJI SILUMINU EUTEKTYCZNEGO GUZIK Edward, KOPYCIŃSKI Dariusz Wydział Odlewnictwa Akademii Górniczo- Hutniczej , Reymonta 23 , 30-059 KRAKÓW, POLSKA STRESZCZENIE W ramach badań własnych zaprezentowano kształt frontu krystalizacji eutektyki nieregularnej Al - Si, w którym uwzględniono zasadniczą rolę fazy ścianowej , jako fazy wiodącej w procesie krystalizacji tego rodzaju eutektyki. Założony i opisany odpowiednią funkcją kształt nieizotermicznego frontu krystalizacji eutektyki, umożliwia obliczenie charakterystycznego zagłębienia w fazie nieścianowej (np . w a (Al)) oraz wielkości wyprzedzenia jej przez fazę ścianową np . Si. Eksperymentalną weryfikację założonego kształtu frontu krystalizacji eutektyki nieregularnej , przeprowadzono w oparciu o wyniki badań kierunkowej krystalizacji i obserwacji zamrożonego kształtu frontu eutektyki stopu Al - Si. ABSTRACT In the part comprising the autor' s own investigations of a shape of the solid - liquid interface irregular eutectic Al - Si, has been presented. The model takes into consideration the esential role o f the faceted phase as the leading phase in the crystallization of such eutectic kind . The proposed shape of the crystallization front, characterized by a suitable function as well as applying the non-isothermal solid - liquid interface for modelling purposes allows calculation of the characteristic depression in the nonfaceted phase (e. g. a (Al)) and the protrusio n of the leading phase Si. For the experimental verification of the elaborated shape o f the solid - liquid in terface the results o f the unidirectional crystallization front o f the eutectic under question as well as observations of the "freezed" crystallization of the eutectic in the Al - S i alloys were utilized . 1. WPROWADZENIE Eutektyka, ustala zasadniczo strukturę tak ważnych stopów odlewniczych jak; silumin czy żeliw o , a także jest wykorzystywana do otrzymywania zorientowanej struktury (technika kierunkowej krystalizacji), a odlewy o takiej strukturze nazywa się niekiedy kompozytarni in situ lub eutektycznymi kompozytarni odlewanymi. Procesy, zachodzące na płaszczyźnie rozdziału ; ciecz- fazy eutektyczne, zwanej frontem krystalizacji, prowadzą do powstawania różnych rodzajów eutektyki, w tym tak ważnych jak: eutektyki typu ścianowo - nieścianowej (nieregularnej) bądź nieścianowo - nieścianowej (regularnej). Schematy kształtu frontu krystalizacji eutektyki regularnej i nieregularnej oraz sposób rozgałęziania się płytki krzemu pokazano schematycznie na rys. l [1 , 2]. W pierwszym przypadku, front w przybliżeniu płaski, jest utworzony z wielepłytkowej struktury, złożonej z naprzemianległych płytek faz a i p (rys. l a), w drugim natomiast obserwuje się charakterystyczne zagłębienie w fazie nieścianowej a oraz zjawisko rozgałęziania się fazy ścianowej (3' (np . płytka grafitu bądź krzemu) (rys. l b.). Jest to spowodowane nietrwałością - 42- a) til~ /2 ./ ,tl. 0: ~ C} 4; b) (112]A A (112]8 B A kierunek wzrostu f3 Rys. l. Schemat ksztahu frontu krystalizacji eutektyki regułamej (a) i nieregularnej (b) faza ścianowa [l] oraz sposobu rozgałęzienia płytki krzemu (c) [2] P' frontu krystalizacji takiej eutektyki; odgałęzienia wzrastają w swoich kierunkach krystalograficznych, które są na ogół niezgodne z kierunkiem przepływu ciepła w odlewie. W modelowaniu wzrostu eutektyki, zakłada się określone kształty frontu krystalizacji, które według chronologii ich przedstawiania (od roku 1966) zestawiono na rys. 2 [3-7] . W wielu przypadkach, przyjęta do rozważań morfolog1a frontu krystalizacji, wyraźnie odbiega od warunków rzeczywistych krystalizacji stopu, a pionierskie prace z tego zakresu zostały wykonane przez Jacksona i Hunta (J-H) [3]. Model ten (rys. 2 a), jak i późniejsze opracowania, określają z zadowalającą dokładnością parametr geometryczny eutektyki regularnej , tj . odległość międzypłytkową A (np w stopach Al - Cu, Pb - Sn), natomiast w przypadku eutektyki nieregularnej (występującej np . w stopachFe-C bądź Al- Si) obserwuje się duże różnice w wynikach obliczonych i doświadczalnych tego parametru. Dopiero w roku 1974 [4], zaproponowano w modelu wzrostu eutektyki nieregularnej niewielkie zagłębienia w fazie nieścianowej a (rys. 2 b.), które dopiero w latach 80 -tych wykorzystano w pełni na całej dłu gości tej fazy (rys. 2 c,d,e .). Opracowane dotychczas modele, aczkolwiek dają pewien obraz ksztahowania się struktury nieregularnej, wykorzystują jednak zasadnicze uproszczenie, nie uwzględniają bowiem wyprzedzenia jednej fazy przez drugą. W proponowanym modelu własnym (rys. 2f.), uwzględniono obok charakterystycznego zagłębienia, długość l o którą zostaje wyprzedzona faza a przez fazę (3 . Takie założenia ksztahu frontu krystalizacji, umożliwia kolejne udoskonalanie prawa wzrostu eutektyki nieregularnej i jest najbardziej zbliżone do warunków rzeczywistych . Badanie wzrostu tego rodzaju eutektyki ma szczególną wagę, gdyż występuje ona w jednym z bardziej rozpowszechnionych stopów odlewniczych, tj . Al- Si . KSZTAŁT FRONTU KRYSTALIZACJI EUTEKTYKI Al- Si W modelowaniu wzrostu eutektyki nieregulamej , należy przyjąć odpowiedni ksztah frontu krystalizacji, charakteryzujący się wyprzedzeniem jednej fazy przez drugą, oraz zagłębieniem w fazie nieścianowej (np. w (a)Al). Założono uproszczony kształt frontu krystalizacji (rys 3 ) 2. - 43- Y d) a) b) f) c) X Y Rys. 2. Schemat kształtu frontu krystalizacji eutektyki przyjęty w modelowaniu wzrostu eutektyki przez różnych autorów a- [3], b- [4), c- [5], d- [6], e- [7], f- w niniejszej pracy fazy a. i 13 w oparciu o przesłanki teoretyczne wskazujące na wyprzedzenia fazy ścianowej 13 i charakterystycznego zagłębienia w fazie nieścianowej a. oraz wyniki fragmentarycznych obserwacji zamrożonego frontu krystalizacji eutektyki stopów technicznych; Fe - C t Al - Si [4,7-12]. Do opisu, tak przyjętego kształtu frontu krystalizacji w obszarze faz a. i 13 zastosowano funkcję parzystą dla obszaru pary płytek konieczność uwzględnienia dwukwadratową, (l) warunków brzegowych można wyznaczyć funkcję JJ(x) i j 2(x) oraz wzrostu eutektyki v i gradient temperatury w cieczy na froncie krystalizacji G, można napisać następujący warunek nieizotermiczności [7) : Dla określonych przyjmując prędkość -44- Rys . 3. Uproszczony schemat frontu krystalizacji eutektyki nieregularnej wraz z oznaczeniem charakterystycznych wielkości l l s. o -S P -fSp [~T"(x) + ~~ (x) + G/ (x))dx =S-a f[~T"(x) + ~~ (x) + Gj (x) ]dx =~T o 1 2 (2) Składowe ogólnego przechłodzenia LJT, związane z procesem dyfuzji składniki LJTc 1 frontu krystalizacji LJTr przyjęto zgodnie z teorią J- H [3]. Po uwzględnieniu tych składowych oraz postaci funkcji j(x), można wyznaczyć z (2) ogólne wyrażenia na ~T: krzywizną '-'AT, = - m ( ~ C +B 0 + 'AvCoPa.) + 2fo. sin0 o. + ( - Gtan0 o. Afo. o. o. "' r D r '). . 1' 5 Ja. Ja - ~TP _ - ( - m P ~C., +B 0 + f...vC 0 PpJ / pD + 8Gz) 15 2fp sin0 p ( 8G/ Gtan0 pA/pJ + -+------'--'/ pf... 15 1,5 (3) (4) podobnego warunku nieizotermiczności jak (2), lecz w odniesieniu do osi z faz i porównaniu jego rozwiązania z wyrażeniami (3) i (4), możemy wyznaczyć na froncie krystalizacji eutektyki ,charakterystyczną wielkość wyprzedzenia /-patrz na rys. 3 ) Przy założeniu każdej (5) Do weryfikacji obliczonego parametru /, wykorzystano wyniki badań przeprowadzonych kierunkowej krystalizacji stopu eutektycznego Al-Si . Metoda ta umożliwia świadome sterowanie procesem krystalizacji, przy znajomości takich parametrów jak: prędkość wzrostu v (w pierwszym przybliżeniu utożsamia się z prędkością przemieszczania frontu krystalizacji) oraz gradient temperatury w cieczy na froncie krystalizacji G. Ponadto technika ta, pozwala na dobre odwzorowanie (metoda "zamrażania próbek") ksztahu frontu krystalizacji . Szczegóły przeprowadzenia kierunkowej krystalizacji stopu eutektycznego Al - Si metodą Bridgmana metodą - 45 - a) a) a) b) b) Rys . 4. Struktura i kształt frontu krystalizacji ukierunkowanego siluminu eutektycznego Traw. a) v = 5.55 · 10 -s cm/s, b) v = 8.33 · lO 4 cm/s -46- frontu krystaliziicji podano w pracy [ 11, 12], natomiast stałe do obliczania zależności (5) zestawiono w tablicy l [13] . Na rysunku 4, pokazano dla przykładu utrwalony ksztah frontu krystalizacji eutektyki Al - Si, gdzie wyraźnie uchwycono wyprzedzenie krzemu względem roztworu a(Al). Niekiedy obserwuje się także charakterystyczne zagłębienie w fazie nieścianowej, tj. w a(Al). Wyniki analizy metalograficznej ilościowej odległości międzypłytkowej eutektyki Ą i obliczonego wyprzedzenia krzemu na froncie krystalizacji eutektyki Al - Si l (wg. zależności (S)) w zależności od prędkości wzrostu v, przedstawiono na rys. S. Wyniki doświadczalne zależności Ą = f(v), opracowano metodą statystyczną, uzyskując równanie regresji w postaci ogólnego zapisu prawa wzrostu eutektyki (współczynnik korelacji R = 0.9S) : oraz technikę zamrażam a materiałowe A. = l. 64 · l o- 5 · v- o.s, cm (6) Statystyczną weryfikację równama (6) przeprowadzono przy wykorzystaniu testu F (S nedegora-Fishera, tzw. reguła czterokrotności) i wykazano, że model ten jest poprawny. Tablica l. Zestawienie parametrów materiałowych stopu eutektycznego Al- Si [13] Parametr Stężenie Si w punkcie eutektycznym Oznaczenie Jednostka C eut %wag Krzem 12.7 [12 .6] Stężenie Co Temperatura przemiany eutektycznej T. Współczynnik kierunkowy linii likwidus m; %wag 98.2 c S77.2 o K%wag. 1S .7 19.0 [17.S] s 0·10'5 Współczynnik dyfuzji krzemu w cieczy D cm 2 l s [43·10- 5] 3 0·10' 5 3.2·10' 5 Długość kapilarna Ułamek objętości Kąt Si w eutektyce styku [; Kern 1.7·1o·s f; - o 127 0; de g. 6S [8S] Stała materiałowa stopu p - 8,9·10' 3 Stała materiałowa stopu 1t - 7 63·10'2 -47- Oznaczenie w tabeli : l = 2:--2 • sin(mifJ, 00 7r. n= l [7] (111r) Z analizy przebiegu krzywych pokazanych na rys. 5 wynika, iż w obu przypadkach, w miarę zwiększania prędkości wzrostu v uzyskuje się zmniejszenie wartości omawianych parametrów. Ustalono, iż w procesie kształtowania struktury frontu krystalizacji eutektyki Al - Si, wyrażonej wyprzedzeniem l, pierwszoplanową rolę odgrywają następujące czynniki kapilarny (kąt styku 0 -patrz oznaczenie na rys. 3) oraz dyfuzyjny (współczynnik dyfuzji D). Inne parametry materiałowe tego stopu, jak długość kapilarna r i współczynnik kierunkowy linii likwidus m wywiera mniej istotny wpływ na omawiany parametr l. 1 E-02 A= 1.64·10-5 ·v--DS 1E-03 ~ ~ 1 E-04 1E-05 1E-04 Prędkość Rys. 5. 1E-03 1E-02 wzrostu v, cm/s Wpływ prędkości wzrostu v na odległość międzypłytkową wyprzedzenie krzemu l względem fazy a( A!) Ą eutektyki Al - Si oraz -48- Reasumując wyniki badań można stwierdzić, iż zastosowana do opisu kształtu frontu eutektyki funkcja parzysta dwukwadratowa oraz przyjęty warunek nieizotermiczności, umożliwiają wyznaczenie wielkości wyprzedzenia fazy ścianowej przez fazę wiodącą ścianową - krzemu. Kształt frontu krystalizacji, wynikający z proponowanego modelu jest bardzo zbliżony do rzeczywistego kształtu, co wynika z obserwacji zamrożonego frontu krystalizacji eutektyki Al - Si. krystalizacji Zastosowane w tekście oznaczenia: f- ułamek objętości fazy w eutektyce, r =aT/L - długość kapilarna, m - współczynnik kierunkowy linii likwidus, C0 - stężenie składnika, D - współczynnik dyfuzji składnika, 0 - kąt styku, cr - napięcie powierzchniowe granicy międzyfazowej ciecz - faza Si, T - temperatura równowagi, L - ciepło topnienia fazy, rr· i P - stałe materiałowe stopu Al - Si, zestawiono w pracy [13]. LITERATURA l. Kurz W ., Trivedi R. : Solidification microstructures; recent developtrnents and future directions Acta Metali. Mater. v. 38, 1990, s. 1 2. Shamazzoha M. Hogan LM , Berry l L Effects of modifYing agents on crystallography and growth ofsilicon phase in Al - Si casting alloys . Trans . Am. Foundrym. Soc. v. 101 , 1993, S. 999 3. Jackson KA , Hunt lD . Lamellar and rod eutectic growth . Trans . Metali . Soc. ATh1E, v. 23 6, 1966, s. 1129 4. Sato T , Sayama Y : Completely and partially cooperative growth of eutectics. l Cryst Growth, V. 22, 1974, S . 259 5. Owadano T , Kishitake K , Fujii M , Miyamoto K : Morfology of unidirectional solidification front and undercooling in eutectic Fe- C - Si grey cast irons . Brit Fundrym. v. 7, 1980, S. 302 6. Fisher D .l , Kurz W. A theory of branching limited growth of irregular eutectics. Acta Metali v. 28 , 1980, s. 777 7. Magnin P. , Kurz W .: An analytical model ofirregular eutectic growth and its application to Fe-C ActaMetall. v. 35 , 1987, s. 1119 8. Davies V. L : Mechanism o f crystalization in binary eutectic. l Inst Metals, v. 95 , 1964/65 , s. 1O 9. Fraś E. : Directional crystallization ofgraphite eutectic. Zesz. Nauk . AGH, Metali.- Odlewn. t2, 1976, s. 103 lO .Kurz W , Fisher DJ: Dendrite growth in eutectic alloys the coupled zone. Int Met Reviews, v. 244, 1979, s. 177 11.Guzik E. , Kopyciński D . Struktura kompozytu Al- Si. I Intern . Conf. Faculty ofFoundry Eng . Kraków VI, 1995 , s. 173 12 Guzik E. : Model wzrostu eutektyki nieregularnej na przykładzie eutektyki grafitowej w stopachFe-C Rozprawy- Monografie, Zesz. Nauk. AGH, nr 15, 1994, s. l - 87 13. Guzik E, Kopyciński D . Analysis of growth of oriented eutectic Al- S i. Arch . Hutnictwa 2, 1996, s. 88