XAN 220 PL - ITA Polska

KARTA KATALOGOWA
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej
do szybkich i nieniszczących analiz składu
i grubości powłok stopów złota i srebra.
Właściwości
FISCHERSCOPE ® X-RAY XAN® 200 jest spektrometrem fluorescencji rentgenowskiej
zoptymalizowanym pod kątem nieniszczących analiz biżuterii, monet i metali
szlachetnych.
W szczególności jest przystosowany do analiz składu i grubości powłok metali
szlachetnych i ich stopów. W trakcie pojedynczego pomiaru możliwa jest jednoczesna
analiza do 24 pierwiastków w zakresie od chloru (17) do uranu (92).
Typowe zastosowania:
- biżuteria, metale szlachetne i stopy dentystyczne
- żółte i białe złoto
- platyna i srebro
- rod
- stopy oraz powłoki (również powłoki wielowarstwowe)
Ponadprzeciętna precyzja i długoterminowa stabilność są cechami
charakterystycznymi wszystkich systemów FSICHERSCOPE X-RAY. Potrzeba re-kalibracji
urządzenia została drastycznie zredukowana, oszczędzając tym samym pieniądze oraz
czas.
Cechy
XAN® 220 zaprojektowano jako kompaktowe urządzenie przyjazne użytkownikowi
Pozycjonowanie próbki jest szybkie i proste. Zarówno lampa rentgenowska jak i
detektor półprzewodnikowy umieszczone są w podstawie urządzenia, w efekcie
pomiar prowadzony jest od spodu próbki położonej na przeźroczystym okienku.
Zintegrowany wideo-mikroskop z zoomem oraz nicią pajęczą ułatwia pozycjonowanie
próbki i umożliwia precyzyjny wybór miejsca pomiaru.
Cała obsługa, obliczanie wyników jak i ich przejrzysta prezentacja odbywa się na
komputerze klasy PC, z wykorzystaniem przyjaznego użytkownikowi oprogramowania
WinFTM®.
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 spełnia wymagania DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568.
Specyfikacja techniczna
Wykorzystanie
Urządzenie pomiarowe wykorzystujące metodę EDXRF do analiz składu metali
szlachetnych i ich stopów oraz grubości powłok.
Zakres pierwiastków
Od chloru Cl (17) do uranu U (92) – do 24 pierwiastków jednocześnie
Powtarzalność
≤ 0,5 ‰ dla złota, przy czasie pomiaru 60 sek.
Typ
Urządzenie nabiurkowe z otwieraną od góry komorą
Kierunek pomiaru
Od dołu do góry
Źródło promieniowania
Lampa rentgenowska
Micro-focus wolframową anodą i okienkiem berylowym
Wysokie napięcie
Regulowane w trzech krokach: 10kV, 30kV, 50kV
Kolimator
Ø 1 mm, opcja Ø 2 mm
Plamka pomiarowa
Średnica kolimatora plus 200um, dla odległości pomiarowej MD=0mm
Detektor
Lampa rentgenowska
Micro-focus wolframową anodą i okienkiem berylowym
Rozdzielczość (fwhm for Mn-Kα)
≤ 160 eV
Odległość pomiarowa
Od 0 do 10 mm
Kompensacja zmiany odległości pomiarowej opatentowaną metodą DCM dla łatwości
pomiarów przy zmiennej odległości pomiarowej. Dla specyficznych aplikacji mogą być
konieczne dodatkowe kalibracje.
Ułożenie próbki
Pozycjonowanie próbki
Powiększenie
Ręczne
Wysokiej rozdzielczości kamera CCD monitorująca położenie próbki wzdłuż wiązki
pierwotnej
Nić pajęcza z kalibrowaną skalą pokazująca realną wielkość plamki pomiarowej oraz
wskaźnik laserowy
Sterowalne podświetlenie LED mierzonej lokalizacji
Cyfrowe 1x, 2x, 3x, 4x
Stolik pomiarowy
Typ
Możliwa do wykorzystania wielkość stolika
Maksymalna waga próbki
Maksymalna wysokość próbki
Nieruchomy stolik pomiarowy
310 x 320mm
2kg
90mm
Parametry elektryczne
Zasilanie
AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz
Moc
Max. 120 W, nie uwzględniając komputera
Klasa ochrony
IP40
Wymiary
Wymiary zewnętrzne
Szerokość x głębokość x wysokość [mm]: 403 x 588 x 365 mm
Masa
Ok. 45 kg
Warunki środowiskowe
Temperatura pracy
10 °C – 40 °C
Temperatura przechowywania
0 °C – 50 °C
Wilgotność
≤ 95 %, nieskraplająca
Jednostka obliczeniowa
Komputer
Windows®-PC
Oprogramowanie
Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER
Certyfikaty
Dopuszczenie CE
EN 61010
Normy X-RAY
DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Dopuszczenie
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)
Zamówienie
FISCHERSCOPE X-RAY XAN220
604-771
Specjalne modyfikacje i dane techniczne na życzenie.