laboratorium skaningowej mikroskopii elektronowej (l-4)
Transkrypt
laboratorium skaningowej mikroskopii elektronowej (l-4)
LABORATORIUM SKANINGOWEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L-4) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik laboratorium: doc. dr hab. inż. Marek Faryna ([email protected]) Wykonujący badania: dr Elżbieta Bielańska dr inż. Anna Rakowska dr inż. Anna Sypień dr Joanna Wojewoda-Budka mgr inż. Anna Janus Adres: Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk, ul. Reymonta 25, 30-059 Kraków tel: (12) 637 42 00, fax: (12) 637 21 92, e-mail: [email protected], http://www.imim-pan.krakow.pl Laboratorium posiada dwa mikroskopy elektronowe: 1. Skaningowy mikroskop elektronowy FEI E-SEM XL30 wyposażony w spektrometr dyspersji energii promieni X EDAX GEMINI 4000 Charakterystyka mikroskopu: punktowa zdolność rozdzielcza: 3.5 nm 30 kV, 30 nm przy 1kV; - zakres zmian napięcia przyspieszającego: od 200 V do 30 kV; - zakres powiększeń: od 10x do 500.000x dla WD = 10 mm - zakres zmian ciśnienia gazu: od 0 do 20 Torr; detekcja elektronów wtórnych oraz wstecznie rozproszonych (w systemie COMPO i TOPO). 21 Przeznaczony jest do obrazowania powierzchni próbek znajdujących się w środowisku kontrolowanej próżni. Charakterystyka spektrometru: Spektrometr EDXS Genesis 4000 firmy EDAX, wyposażony w detektor Si(Li) z okienkiem SUTW o zdolności rozdzielczej ≤133; detekcja wszystkich pierwiastków od boru wzwyż. System EDAX kontroluje wiązkę elektronową w mikroskopie E-SEM XL30 celem akwizycji obrazów i map prom. rtg. poprzez własny generator skanowania. EDXS – linescan EDXS – analiza elementu chłodnicy Zestaw E-SEM+EDXS przeznaczony jest do elementarnej analizy jakościowej i ilościowej w mikroobszarach zarówno dielektryków i materiałów organicznych, jak również próbek przewodzących. 2. Skaningowy mikroskop elektronowy PHILIPS XL30 oraz spektrometr dyspersji energii promieni X LINK ISIS, Oxford Instrument. 22 Skaningowy mikroskop elektronowy XL30 firmy Philips Electron Optics jest urządzeniem przeznaczonym do badań morfologii powierzchni ciał stałych. Punktowa zdolność rozdzielcza wynosi odpowiednio: 3.5 nm przy napięciu przyspieszającym wiązkę elektronową 30 kV i 30 nm przy 1 kV. Zakres zmian napięcia przyspieszające: od 0.2 do 30 kV. Zakres powiększeń: od 10x do 400.000x. Mikroskop umożliwia detekcję niskoenergetycznych elektronów wtórnych oraz wysokoenergetycznych elektronów wstecznie rozproszonych (w systemie COMPO i TOPO). Software jest w pełni kompatybilny z programami aplikacyjnymi Microsoft Windows. Stolik goniometryczny o zakresie przesuwu osi: X = 50 mm, Y = 50 mm, rotacji 360oC, pochyle: –15o + 80 i zakresie pracy wzdłuż osi Z (FWD – Free Working Distance) od 4 do 37 mm. o Mikroskop wyposażony jest w spektrometr dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego LINK firmy Oxford Instruments, o energetycznej zdolności rozdzielczej 138 eV, którego zasadniczym elementem jest detektor Si(Li) Pentafet z okienkiem Super Ultra Thin Window, szczególnie przydatnym do analizy pierwiastków lekkich. Oprogramowanie spektrometru również pracuje w systemie Microsoft Windows. Zestaw SEM - EDXS umożliwia analizę jakościową i ilościową w mikroobszarach, z pierwiastkami lekkimi włącznie od boru poczynając; do dyspozycji pozostaje analiza punktowa, liniowa (tzw. linescan) i powierzchniowa (tzw. mapping). Przygotowanie próbek do badań Laboratorium wykonuje badania na próbkach dostarczonych przez Klienta. W trakcie uzgadniania warunków wykonania zamówienia Klient zostaje poinformowany o wymaganiach dotyczących próbek, sposobu ich przygotowania do badań. Wymiary próbek wynoszą max: D (średnica) = 50 mm, Z (wysokość) = 35 mm. Masa próbek nie powinna przekraczać 250 g. Próbki umieszcza się na powierzchni specjalnie do tego celu przygotowanych podstawek przyklejając do podłoża klejem węglowym albo węglową taśmą przewodzącą. Zainteresowanych współpracą z Laboratorium L-4 uprzejmie prosimy jest o kontakt z Kierownikiem Laboratorium L-4: doc. dr hab. inż. Marek Faryna tel: (0-12) 637 42 00 wew. 257 e-mail: [email protected] 23 Przykłady badań prowadzonych skaningowym mikroskopie elektronowym PHILIPS XL30 Obraz powierzchni krzemu porowatego, elektrony wtórne, pow. 16.000x Pierwiastek Al Kα Ti Kα Ni Kα Cu Kα Zr Lα Ag Lα Razem: %.wag. %.at. 1.1 17.7 17.8 11.7 31.2 20.5 100.0 2.8 25.9 21.2 12.9 23.9 13.3 100.0 Analiza jakościowa i ilościowa po korekcji ZAF eutektyki w stopie TiZrAgCuNi. Przykłady zdolności rozdzielczej Przykłady obrazów SE 60 000x 382 000x 24 Przykłady obrazów BSE 25