docSPECYFIKACJA TECHNICZNA
download 
Reklamacja Transkrypt
SPECYFIKACJA TECHNICZNA
FORMULARZ OFERTOWY W związku z ogłoszeniem przetargu nieograniczonego pn. „Zakup, dostawa oraz instalacja spektrometru ramanowskiego z mikroskopem optycznym oraz skaningowego mikroskopu sił atomowych (AFM) dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli ”. 1. NAZWA I ADRES WYKONAWCY: …………………………………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………………………………… …………………………………………………………………………………………………… NIP wykonawcy: ……………………………….................................................………… Numer telefonu:........................................... Numer faksu............................................. Adres e-mail:…………………...............................………………………………………… Nazwa banku i numer konta bankowego Wykonawcy …………………………………………………………………………………………………… wartość oferty wynosi (netto) ....................................................................................................... słownie: .......................................................................................................................................... podatek VAT .....% w kwocie: ......................................................................................................... łączna cena (brutto): ...................................................................................................................... słownie:........................................................................................................................................... 2. Oświadczam/y że: 1. Na urządzenia stanowiące wyposażenie Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli oraz na wszystkie jego podzespoły udzielamy gwarancji na okres1.............miesięcy licząc od daty odbioru końcowego. 2. Oferowana powyżej cena brutto zawiera koszty transportu, załadunku i rozładunku oraz instalacji i uruchomienia u Zamawiającego. Powyższa cena zawiera koszty związane z dostarczeniem wszystkich elementów wymienionych w Specyfikacji Technicznej. 3. Oświadczamy, że oferowane urządzenie oraz wszystkie podzespoły wyposażenia Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli spełnia wszystkie minimalne wymagania zdefiniowane w Specyfikacji Technicznej. 1 Minimum 24 miesiące. 4. Oświadczamy, że serwis będzie realizowany przez producenta lub autoryzowanego partnera serwisowego producenta. 5. Zapoznaliśmy się ze specyfikacją istotnych warunków zamówienia wraz z jej załącznikami (formularz ofertowy, wzór umowy, specyfikacja techniczna, wzory załączników) i nie wnosimy do niej zastrzeżeń oraz zdobyliśmy konieczne informacje do przygotowania oferty. 6. Uważam/y się za związanego/związanych niniejszą ofertą na okres 60 dni od terminu składania ofert. 7. Przedmiot zamówienia zamierzam/y wykonać a) sami, b) przy pomocy podwykonawców* .................................................................................... …......................................................................................................................................... 8. Spełniam/y warunki określone w art. 22 ust. 1 ustawy z dnia 29.01.2004 – Prawo zamówień publicznych oraz w otrzymanej od zamawiającego specyfikacji istotnych warunków zamówienia. 9. Nie podlegam/y wykluczeniu z ubiegania się o udzielenie zamówienia publicznego na podstawie art. 24 ust.1 ustawy z dnia 29.01.2004 - Prawo zamówień publicznych. 10. Oświadczam/y że całość zadania zamierzam/y wykonać zgodnie z specyfikacja techniczną, udostępnioną przez zamawiającego na stronie internetowej, w kwocie zaoferowanej w niniejszym formularzu ofertowy. 11. Ofertę składam/y na kolejno ponumerowanych stronach .................. (liczba stron). 3. Załącznikami do niniejszego formularza, stanowiącymi integralną część oferty są: a) .................................................................... b) .................................................................... c) .................................................................... d) .................................................................... e) .................................................................... f) ..................................................................... g) .................................................................... h) .................................................................... i) ..................................................................... j) ..................................................................... k) .................................................................... l) ............................................................... ................................................... (własnoręczny podpis osoby upoważnionej do reprezentowania Wykonawcy) • należy określić zakres zamówienia planowany do realizacji przez podwykonawców PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE 1.2.1. PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE – SPEKTORMETR RAMANOWSKI. Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru Wielkość parametru oferowanego urządzenia1 Spektrometr ze wzbudzaniem światłem laserowym o długości fal λ=325nm, λ=532nm, λ=785nm i λ=1064nm 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 1 podwójny tor detekcyjny z jednostopniowym przejściem wiązki, o ogniskowej max. 250 mm rozmiar plamki lasera Płynna regulacja plamki lasera 1-300 µm z całkowicie zoptymalizowaną (zależnie od obiektywu i drogą wiązki laserowej. długości fali) Zmotoryzowany zestaw neutralnych filtrów szarych do zakres mocy regulacji poziomu mocy od 0.00001% do 100% promieniowania lasera wzbudzającego. Zestaw wymiennych zmotoryzowanych soczewek montowanych kinematycznie, niezbędnych do optymalizacji TAK zdolności rozdzielczej spektrometru w zakresie UV, VIS i NIR Automatyczny system zmiany filtrów odcinających TAK Rayleigha. Zestaw krawędziowych filtrów służących do odcięcia linii dolny limit rejestracji widma Rayleigha fal λ=532nm, dla każdego z nich 50 cm-1 λ=785nm Krawędziowy filtr służących do dolny limit rejestracji widma odcięcia linii Rayleigha fali dla każd. z nich 250 cm-1 λ=325nm Spektrograf wyposażony w podwójny tor detekcyjny Dostawca ma obowiązek wypełnić wszystkie pola kolumny. Brak spełnienia któregokolwiek z wymaganych parametrów lub brak wpisu informującego o oferowanych parametrach powoduje odrzucenie oferty Lp. 8. 9. 10. 11. 12. 13. 14. Nazwa parametru Wielkość parametru Wielkość parametru oferowanego urządzenia Krawędziowy filtr służących do dolny limit rejestracji widma odcięcia linii Rayleigha fali dla każdego z nich 70 cm-1 λ=1064nm Stolik do zamocowania kompletu siatek dyspersyjnych z TAK elektroniczną kontrolą położenia ilość linii/ mm dla siatek dyspersyjnych Holograficzne siatki dyspersyj3600 linii/mm, ne montowane na zmotoryzo1800 linii/mm, wanym stoliku 1200 linii/mm , 830 linii/mm Detektor CCD z matrycą o • zakres roboczy detekzwiększonej grubości warstwy tora: 200 -1000 nm światłoczułej oraz zwiększonej • minimalny wymiar maczułości w zakresie UV i VIS. trycy: 1024 x 256pikseChłodzenie termoelektryczne li (moduł Peltiera), bez konieczności chłodzenia wodą lub cie- • temperatura chłodzenia : –700 C kłym azotem. • zakres spektralny: 0.6 Detektor liniowy typu InGaAs, do 1.7 µm o minimalnym rozmiarze 512 x • minimalny wymiar ma1 pikseli, rozmiar piksela min: trycy: 512 x 1 pikseli 25x500 µm , szybkości reje• temperatura chłodzenia stracji min. 170 widm/s, chło: –900 C dzony termoelektrycznie bez konieczności chłodzenia cie- • wydajność kwantowa: 85% kłym azotem. System pomiarów konfokalnych z możliwością ciągłego strojenia, ze zmotoryzowaną szczeliną oraz automatyczną optymalizacją sygnału. Automatyczna zmiana trybu pracy pomiar konfokalny/ standardowy. System detekcji umożliwiający płynny pomiar z wysoką rozdzielczością w rozszerzonym zakresie spektralnym bez „zszywania ” widm z kolejnych zakresów spektralnych. Zmieniająca się zdolność rozdzielcza kontrolowana przez CCD, wysoka czułość detektora. TAK Zakres spektralny : a) dla λ=532nm: 50 - 4100 cm-1 b) dla λ=785nm: 50 - 3200 cm-1 Rozdzielczość spektralna dla 532 nm: ≤ 0.5 cm-1 Lp. 15. 16. 17. 18. 19. Nazwa parametru Wielkość parametru Automatyczna regulacja i optymalizacja mocy wiązki laserowej padającej na próbkę Automatyczna zmiana i regulacji średnicy wiązki przechodzącej przez szczelinę kołową modułu teleskopowego („beam expander”) Automatyczna regulacja parametrów systemu przy użyciu wewnętrznej próbki referencyjnej. Kalibracja osi częstości oraz korekcja intensywności przy użyciu wbudowanego źródła światła białego oraz lampy neonowej Automatyczne przełączanie między obrazem w świetle białym a pomiarem w świetle lasera. Wielkość parametru oferowanego urządzenia TAK TAK TAK TAK TAK Obrazowanie ramanowskie 20. Spektrometr ramanowski musi zapewniać możliwość obrazowania/mapowania ramanowskiego: • punktową, • liniową, • szybkie obrazowanie typu streamline lub linescan wraz z pakietem do analizy chemometrycznej • szybkie obrazowanie punktowe w trybie wysokiej rozdzielczości < 300 nm TAK Mikroskop (Specjalnie przystosowany konfokalny mikroskop optyczny klasy Research Grade zintegrowany ze spektrometrem Ramana, zawierający jak wyszczególniono niżej) 21. Osłonę mikroskopu z automatyczną blokadą emisji lasera zgodną z I klasą bezpieczeństwa TAK Lp. 22. 23. 24. 25. 26. 27. 28. 29. Nazwa parametru Wielkość parametru Iluminację światłem odbitym TAK Głowicę trójobiektywową - binokular + kolorowa kamera video TAK Powiększenia obiektywów: x5, x20, x50, x100 Powiększenia obiektywów: • x20, NA 0.40, WD Dwa obiektywy z długą ogniskową 12.00, • x50, NA 0.50, WD 10.60, Powiększenie obiektywu: Obiektyw UV X40 • Minimalny krok w osiach XY/Z : 0.1/ 0.2 Zmotoryzowany stolik µm (dla obiektywu mikroskopowy XYZ z x100) aktywnymi funkcjami mapowania punktowego i • Rozdzielczość lateralliniowego oraz obrazowania na XY: ≤ 1µm (dla objętościowego 3D. Mikroskop obiektywu x100) musi posiadać funkcję • Rozdzielczość konfoautofocus do automatycznego kalna w osi Z: badania próbek chropowatych. < 2.5µm Cztery obiektywy ze standardową ogniskową Joystick do pozycjonowania próbki oraz oprogramowanie sterujące do stolika i mapowania. TAK Wyposażenie do ogniskowania liniowego ( line focus accessory) TAK Lasery 30. 31. 32. 33. Laser He-Cd pracujący na linii 325nm Laser Nd:YAG 532nm , chłodzony powietrzem Laser diodowy o linii 785 nm, z filtrem plazmowym i integralnym systemem chłodzenia powietrzem Laser Nd:YAG pracujący na linii 1064nm Moc wyjściowa lasera (CW): 25 mW Moc wyjściowa lasera (CW): 20 mW Moc wyjściowa lasera (CW): 300 mW Moc wyjściowa lasera (CW): 100 mW Wielkość parametru oferowanego urządzenia Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru Wyposażenie dodatkowe 34. Spektrometr musi być wyposażony w sondę światłowodową dla długości fali 758nm, z integralnym filtrem Rayleigh’a do min. 150 cm-1, wyposażona w światłowód o długości min. 2m sprzężony ze spektrometrem. 35. Stół optyczny z pasywną wibroizolacją. 36. Stanowisko robocze zawierające: biurko i fotele pracownicze zgodne w wymogami BHP. 37. Zintegrowany system komputerowy i zintegrowane oprogramowanie do sterowania układem AFM/RAMAN, akwizycji danych i ich przetwarzania 38. 39. Komputer do sterowania systemem zalecane przez producenta. Monitor 22’ 40. Laserowa drukarka kolorowa z opcją druku duplex 41. Oprogramowanie komputerowe z programem umożliwiającym sterowanie systemem, akwizycję i obróbkę danych pomiarowych. Wymagana licencja wielostanowiskowa 42. Oprogramowanie biurowe typu Office lub równoważne z licencja 2 stanowiskowa. 43. Biblioteki widm ramana. TAK Wymiary minimalne blatu: 2x1.5x0,2 m TAK TAK 2 szt. 4 szt. 1 szt. TAK TAK Min. 8060 widm Wielkość parametru oferowanego urządzenia Lp. 44. 45. 46. Nazwa parametru Wielkość parametru Sprzężenie z AFM Spektrometr ramanowski musi być zintegrowany z mikroskopem AFM (specyfikacja tech- Sprzężenie optyczne w niczna niżej) na poziomie mesymetrii off-axis dla chanicznym, optycznym oraz optymalizacji pomiarów programowym umożliwiającym typu TERS automatyczne wykonywanie mapowania Raman/AFM Układ sprzężenia optycznego dla AFM powinien być wyposażony w: • elastyczne ramię próbkowania do bezpośredniego ogniskowania lasera ramanowskiego na sondzie, • ramię musi być zamonTAK towane na zmotoryzowanym stoliku umożliwiającym przesuw w kierunkach x,y,z. poprzez interfejs trackball, kamerę wideo zamontowaną na końcu ramienia, dla ogniskowania lasera na ostrzu. Opcje Dostarczona aparatura musi spełniać warunki dalszej rozbudowy o: Dolny zakres pomiarowy: • przestrajalny filtr umożli10 cm -1 wiający pomiary niskoczę(zależnie od próbki) stotliwościowe, • zestaw do analizy polaryzacyjnej. Wielkość parametru oferowanego urządzenia 1.2.2. PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE – SKANINGOWY MIKROSKOP SIŁ ATOMOWYCH AFM Lp. Nazwa Opis Wielkość parametru oferowanego urządzenia1 Tryby pomiarowe AFM 1. 2. 3 4 1 - Kontaktowy AFM, - Pół-kontaktowy AFM, - Bezkontaktowy AFM, - Obrazowania fazowego, - Mikroskopia prądów tunelowych (STM), - Krzywe siła – odległość, Układ skanowania Układ skanowania z nieruchomą sondą oraz ruchomą próbką we wszystkich trzech osiach. TAK (Inne typy układów skanowania nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego) Pole skanowania Parametry skanera. Pole skanowania z rozXY: co najmniej dzielczością, pozwalającą na uzyskanie obra90 x 90 µm zu periodyczności struktury atomowej na mice w trybie kontaktowym AFM. Zakres skanowaSkaner musi być wyposażony w układ sprzęnia Z: co najmniej żenia zwrotnego pracujący w zamkniętej pętli 7,5 µm sprzężenia zwrotnego Głowica SPM Głowica SPM: • z możliwością manualnego ustawiania położenia próbki w zakresie co najmniej 5 x 5 mm, • wyposażona w układ zmotoryzowanego zbliżania sondy do próbki z regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki) realizowaną poprzez oprogramowanie, • możliwość pracy we wszystkich trybach AFM oraz STM bez konieczności zmiany głowicy skanującej oraz skanera • umożliwia wymianę sondy pomiarowej bez zdejmowania głowicy z mikroskopu. TAK Dostawca ma obowiązek wypełnić wszystkie pola kolumny. Brak spełnienia któregokolwiek z wymaganych parametrów lub brak wpisu informującego o oferowanych parametrach powoduje odrzucenie oferty Lp. 5 Wielkość parametru oferowanego urządzenia Głowica integrująca AFM i spektrometr ramanowski Głowica wyposażona w : • układ zmotoryzowanego zbliżania sondy do próbki z regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki) realizowaną poprzez opro- Zakres ustawiania gramowanie, położenia próbki: • detekcja położenia sondy odbywa się w 5 X 5 mm oparciu o laser pracujący w zakresie widma podczerwieni, aby nie zakłócać działania spektrometru ramanowskiego Rozmiar próbek: • umożliwia akwizycje widm ramanowskich nie mniejszy niż na próbkach nieprzeźroczystych w ukła45 x 45 om o wydzie z oświetlaniem ostrza pomiarowego sokości nie mniejAFM od „boku” szej niż 18 mm Nazwa • 6 7 Opis umożliwia wymianę sondy pomiarowej bez zdejmowania głowicy z mikroskopu. Zintegrowany układ optyczny z kamerą CCD: • rozdzielczość układu optycznego co najmniej 2 µm, • funkcje powiększenia oraz regulacji natężenia oświetlenia kontrolowane poprzez oprogramowanie mikroskopu. Oprogramowanie integrujące AFM i spektrometr ramanowski Oprogramowanie umożliwiające integrację spektrometru ramanowskiego z mikroskopem AFM, w sposób umożliwiający zebranie widm TAK ramanowskich z wybranych punktów lub przeprowadzenie tzw. mapingu – czyli zebranie macierzy widm z zadanego obszaru Kontroler Rozdzielczość: co najmniej 20 bitów dla każdej osi skanowania, Kontroler sterujący pomiarem AFM. 8 Komunikacja pomiędzy kontrolerem mikroskopu, a komputerem sterującym poprzez port USB 2.0. Możliwość rejestracji obrazów z rozdzielczością: co najmniej 1024 x 1024 punktów dla co najmniej ośmiu kanałów danych jednocześnie. Lp. 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 1 6 1 7 1 8 1 9 Nazwa Opis Wielkość parametru oferowanego urządzenia Sondy pomiarowe Sondy do pracy w trybie kontaktowym 50 szt. Sondy do pracy w trybie pół-kontaktowym i 50 szt. bezkontaktowym Sondy do pracy w trybie mikroskopu tunelo50 szt. wego Sonda do nanoindentacji 1 szt. Oprogramowanie mikroskopu AFM Umożliwiające wykonanie pomiaru, obróbkę, opracowanie oraz prezentację danych pomiaTAK rowych Pracujące pod kontrolą systemu zainstalowaTAK nego na komputerze sterującym Umożliwiające wyświetlanie 16 kanałów daTAK nych Dające możliwość jednoczesnego wyświetlania danych „ do przodu” i „do tyłu” dla jednego TAK kanału Opcje (tryby pomiarowe, o które można rozbudować mikroskop w przyszłości) Mikroskopia pojemnościowa dC/dV (mikroskopy pozwalające na pomiary w trybie wyTAK łącznie dC/dZ nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego), Pomiar temperatury oraz przewodnictwa temperaturowego. Rozdzielczość obrazowania w TAK tym trybie powinna wynosić co najmniej 100 nm Możliwość prowadzenia badań w powietrzu i w cieczach w temperaturach z zakresu od TAK temperatury pokojowej do temperatury 60° 1.2.3. WYMAGANIA DODATKOWE Lp. 1. 1 Nazwa Opis Wymagane przeszkolenie co najmniej 3 użytkowników w czasie instalacji systemu włączając przynajmniej 2 dni szkolenia w zakresie obsługi spektrometru ramanowskiego oraz 3 dni w zakresie obsługi AFM TAK Wielkość parametru oferowanego urządzenia1 Dostawca ma obowiązek wypełnić wszystkie pola kolumny. Brak spełnienia któregokolwiek z wymaganych parametrów lub brak wpisu informującego o oferowanych parametrach powoduje odrzucenie oferty Lp. 2. 3. 4. 5. Nazwa Wymagane dodatkowe szkolenie aplikacyjne w wymiarze 3 dni w terminie uzgodnionym z Zamawiającym w jednym z czołowych laboratoriów badawczych. Podręczniki użytkownika w formie drukowanej w języku polskim (preferowany) lub angielskim i na CD opisujące działanie spektrometru, rejestrację widm, oprogramowanie. Maksymalny czas oczekiwania na usunięcie uszkodzenia w okresie gwarancji wynosi 21 dni roboczych od czasu zgłoszenia awarii, a w okresie pogwarancyjnym 30 dni. Okres gwarancji będzie automatycznie przedłużany o czas trwania zgłoszonych awarii aparatury Okres pełnej gwarancji zarówno na całe urządzenie jak i wszystkie jego podzespoły Opis Wielkość parametru oferowanego urządzenia TAK TAK TAK minimum 12 miesięcy 2. PARAMETRY TRANSPORTOWO – INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badanie detalu dostarczonego przez zamawiającego . 3. TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: – od …......... 2013 roku do …............. 2013 r.
