Wskaźnik niezawodności dla 469 implantów dwóch systemów o

Wskaźnik niezawodności dla 469 implantów dwóch systemów o
zredukowanej średnicy w okresie 7,75 lat
V.E. Karapetian, M. Roels, J. Neugebauer, J.E. Zöller
Interdyscyplinarna Poradnia Chirurgii Jamy Ustnej i Implantologii/ Uniwersytet w Kolonii
Abstrakt
Implanty o zmniejszonej średnicy mogą być stosowane, gdy zmniejszona jest szerokość kości, ale jej
wymiar pionowy jest wystarczający do uzupełniania ubytków pojedynczych zębów ze zmniejszonym
wymiarem mezjalno-dystalnym, jak na przykład uzupełnianie przednich i bocznych siekaczy w szczęce
i żuchwie. Celem niniejszego badania było porównanie rokowania wąskich implantów (o średnicy 2,8
- 3,8 mm) dwóch systemów (XIVE® i templant®).
Cel badania
Celem niniejszego badania było porównanie rokowania wąskich implantów (o średnicy 2,8 - 3,8mm)
ze standardowymi implantami (o średnicy >3,8mm).
Metoda i Materiał
W ciągu 93 miesięcy u 108 pacjentów wszczepiono 469 wąskich implantów, jako oparcie dla
częściowych protez stałych i koron pojedynczych zębów. Dostarczono odpowiednie dane kliniczne i
radiologiczne. Całkowita liczba 355 implantów XIVE® została poddana obserwacji. Oceniono 144
implanty templant® w celu analizy ich niezawodności. Skumulowany wskaźnik niezawodności i
odsetek powodzenia zostały wyliczone z zastosowaniem tablicy stworzonej przy pomocy zebranych
danych klinicznych i radiologicznych.
Ryc. 1: Odsłonięcie implantu w rejonie zęba 21
Ryc.2: Wspornik implantu w rejonie zęba 21
Ryc. 3: Implant ICX-templant®
Ryc. 4: Etap końcowy z koroną Cerec®
Wyniki
Wszczepienie 5 z 355 implantów Xive® (1,4%) nie powiodło się. Podobnie stało się w przypadku 2 ze
144 implantów templant® (1,8%), (tabela 1+2). Skumulowany wskaźnik niezawodności i odsetek
powodzenia zostały wyliczone z zastosowaniem tablicy stworzonej przy pomocy zebranych danych
klinicznych i radiologicznych. Dla implantów Xive® skumulowany wskaźnik niezawodności wyniósł
98,6%. Dla implantów templant® skumulowany wskaźnik niezawodności wyniósł 98,2%.
Skumulowany wskaźnik niezawodności i odsetek powodzenia dwóch badanych systemów implantów
o małej średnicy nie różniły się istotnie statystycznie (P > 0,05).
Templant® (n=114)
N=114
%
112
98,2
2
1,8
poluzowanie
2
1,8
Xive® (n=355)
n=355
%
350
98,6
5
1,4
3
2
0,8
0,6
in situ
eksplantowane
Przyczyny utraty implantów
in situ
eksplantowane
Przyczyny utraty implantów
poluzowanie
zapalenie tkanek okołowszczepowych (Periimplantitis)
Wnioski
Niniejsze wyniki świadczą o tym, iż nie ma różnicy między wąskimi implantami a implantami o
standardowej średnicy pod względem osseointegracji. Istotną zaletą wydaje się być fakt, iż
stosowanie implantów o zmniejszonej średnicy u pacjentów z kością o niewielkiej szerokości pozwala
stomatologowi zrezygnować z bocznej augmentacji.
Piśmiennictwo
1. Christensen G.J.: The 'mini'-implant has arrived. 2006 Mar;137(3):387-90.
2. De Wijs, F.L., Van Dongen, R.C., De Lange, G.L., et al.,Front tooth replacement with Tubingen
implants. J Oral Rehabil 1994 (1): 11-26.
3. Froum, S., Emtiaz, S., Bloom, M.J., et al., The use of transitional implants for immediate fixed
temporary prostheses in cases of implant restorations. Pract Periodontics Aesthet Dent 1998 (6):
737-767
4. Romeo E., Lops D., Amorfini L., Chiapasco M., Ghisolfi M., Vogle G.: Clinical andradiographic
evaluation of small-diameter (3.3-mm) implants followed for 1-7 years: a longitudinal study. 2006
Apr;17(2):139-48.