SPECYFIKACJA TECHNICZNA

FORMULARZ OFERTOWY
W związku z ogłoszeniem przetargu nieograniczonego pn. „Zakup, dostawa i
montaż spektrometru fotoelektronów XPS dla Laboratorium Międzyuczelnianego
w Stalowej Woli ”.
1. NAZWA I ADRES WYKONAWCY:
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
NIP wykonawcy: ……………………………….................................................…………
Numer telefonu:........................................... Numer faksu.............................................
Adres e-mail:…………………...............................…………………………………………
Nazwa banku i numer konta bankowego Wykonawcy
……………………………………………………………………………………………………
wartość oferty wynosi (netto) .......................................................................................................
słownie: ..........................................................................................................................................
podatek VAT .....% w kwocie: .........................................................................................................
łączna cena (brutto): ......................................................................................................................
słownie:...........................................................................................................................................
2. Oświadczam/y że:
1. Na urządzenia stanowiące wyposażenie Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej
Woli oraz na wszystkie jego podzespoły udzielamy gwarancji na okres1.............miesięcy
licząc od daty odbioru końcowego.
2. Oferowana powyżej cena brutto zawiera koszty transportu, załadunku i rozładunku oraz
instalacji i uruchomienia u Zamawiającego. Powyższa cena zawiera koszty związane z dostarczeniem wszystkich elementów wymienionych w Specyfikacji Technicznej.
3. Oświadczamy, że oferowane urządzenie oraz wszystkie podzespoły wyposażenia Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli spełnia wszystkie minimalne wymagania zdefiniowane w Specyfikacji Technicznej.
1
Minimum 24 miesiące.
4. Oświadczamy, że serwis będzie realizowany przez producenta lub autoryzowanego
partnera serwisowego producenta.
5. Zapoznaliśmy się ze specyfikacją istotnych warunków zamówienia wraz z jej załącznikami
(formularz ofertowy, wzór umowy, specyfikacja techniczna, wzory załączników) i nie wnosimy do niej zastrzeżeń oraz zdobyliśmy konieczne informacje do przygotowania oferty.
6. Uważam/y się za związanego/związanych niniejszą ofertą na okres 60 dni od terminu składania ofert.
7. Przedmiot zamówienia zamierzam/y wykonać
a) sami,
b) przy pomocy podwykonawców* ....................................................................................
….........................................................................................................................................
Spełniam/y warunki określone w art. 22 ust. 1 ustawy z dnia 29.01.2004 – Prawo zamówień publicznych oraz w otrzymanej od zamawiającego specyfikacji istotnych warunków
zamówienia.
8.
9.
Nie podlegam/y wykluczeniu z ubiegania się o udzielenie zamówienia publicznego na
podstawie art. 24 ust.1 ustawy z dnia 29.01.2004 - Prawo zamówień publicznych.
10.
Oświadczam/y że całość zadania zamierzam/y wykonać zgodnie z specyfikacja techniczną, udostępnioną przez zamawiającego na stronie internetowej, w kwocie zaoferowanej w niniejszym formularzu ofertowy.
11.
Ofertę składam/y na kolejno ponumerowanych stronach .................. (liczba stron).
3. Załącznikami do niniejszego formularza, stanowiącymi integralną część oferty są:
a) ....................................................................
b) ....................................................................
c) ....................................................................
d) ....................................................................
e) ....................................................................
f) .....................................................................
g) ....................................................................
h) ....................................................................
i) .....................................................................
j) .....................................................................
k) ....................................................................
l) ...............................................................
...................................................
(własnoręczny podpis osoby upoważnionej
do reprezentowania Wykonawcy)
•
należy określić zakres zamówienia planowany do realizacji przez podwykonawców
PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE
1.2.1. PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE
Lp
Nazwa parametru
Wielkość
parametru
Wielkość parametru oferowanego urządzenia1
Komora Analizy
1.
Pojedynczy element precyzyjnie obrobiony ze stopu Ni-Fe
tak aby połączyć optymalne ekranowanie pola
magnetycznego oraz precyzje poszczególnych
komponentów. Gwarantowane ciśnienie bazowe w
komorze analizy po wygrzaniu i schłodzeniu 5 x 10-9 mbar
lub lepsze dla analiz powierzchni w warunkach ultra
wysokiej próżni (UHV). Komora analizy powinna być
wyposażona w : pompę turbomolekularne z suchą pompą
wstępną typu scroll oraz pompę tytanowosublimacyjną
(TSP). Pompa TSP powinna posiadać 3 fillamenty.
Kontrola TSP powinna umożliwić następujące opcje : autodegas(automatyczne odgazowanie), czasowe rozpylanie
(operator programuje sekwencję rozpylania z
poszczególnych fillamentów podczas eksperymentu) oraz
tryb w którym jest ona wyłączona podczas akwizycji
danych.
Powinien być w pełni zautomatyzowany i mający co
najmniej 4 osie ruchu, X, Y, Z oraz ciągły obrót azymutalny
próbki. Uchwyt próbki i konfiguracja systemu powinna
2.
umożliwić analizę obszaru co najmniej 60 mm x 60 mm.
Maksymalna grubość próbki to co najmniej 20 mm. Stolik
umożliwiający pomiary ARXPS.
TAK
TAK
Szybka Śluza (FEAL)
1
Dostawca ma obowiązek wypełnić wszystkie pola kolumny. Brak spełnienia któregokolwiek z wymaganych parametrów lub brak wpisu informującego o oferowanych parametrach powoduje odrzucenie oferty
Lp
Nazwa parametru
Wielkość
parametru
Komora ta powinna być wykonana z aluminium i pompowana za pomocą pompy turbomolekularną popartego suchą
pompą próżni wstępnej. FEAL powinien być podłączony do
komory za pomocą automatycznego zaworu o niskiej wartości wibracji podczas otwierania i zamykania zaworu.
Przeniesienie uchwytu próbki do komory analizy powinno
być w pełni zautomatyzowane i zintegrowane z oprogramowaniem sterującym spektrometru do zachowania warunków
3.
próżni UHV.
Kombinacyjne głowice próżniowe powinny być dostarczane
i wykorzystane do pomiaru ciśnienia w komorze, jak również wykorzystywane do sterowania i kontroli automatycznego przenoszenia próbki poprzez system operacyjny.
Niegazującą próbka musi zostać przeniesiona z FEAl do
komory analitycznej w czasie nie dłuższym niż 10 minut od
rozpoczęcia pompowania.
Monochromator wiązki rentgenowskiej
TAK
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
Lp
Nazwa parametru
Monochromator promieniowania rentgenowskiego jest to
konieczny do uzyskania wysokiej rozdzielczości energii
XPS. Urządzenie musi mieć doskonałą rozdzielczość energii do analizy stanu chemicznego i gwarantowaną rozdzielczość szerokości połówkowej dla maksymalnej wysokości
piku (FWHM) energii na Ag 3d5 / 2 : 0,50 eV lub lepiej. W
celu uniknięcia uszkodzenia obszarów próbki które nie są
analizowane plamka promieniowania rentgenowskiego powinna posiadać możliwość zmiany rozmiaru w przedziale
co najmniej w zakresie od 30μm do 400μm. Zmiana rozmiaru plamki powinna być możliwa w krokach 5 μm od najmniejszego do największego. Monochromator nie musi
mieć okna, przez które promienie X przechodzą przed do4. tarciem do próbki. Takie okno będzie zmniejszyć czułość
urządzenia. Monochromator powinny zawierać urządzenia
tłumienia elektronów do zmniejszenia liczby niechcianych
wysokoenergetycznych elektronów padających na powierzchnię badanej próbki.. Goniometr kryształu kwarcowego monochromatora powinien być zmotoryzowany w
celu automatycznego lub zdalnego dostrojenia plamki promieniowanie rentgenowskiego (X-ray). Aby zminimalizować
uszkodzenia próbki wywołane promieniowaniem rentgenowski duża plamka promieniowania rentgenowskiego powinna mieć moc mniejszą niż 40 watów. Elektronika sterowania i oprogramowanie monochromatora powinno zawierać funkcję automatycznego odgazowania i procedury kondycjonowania fillamentów.
Wielkość
parametru
TAK
Kompensacja ładunku
System powinien zapewnić doskonałą kompensację efektu
gromadzenia się ładunku w próbkach nieprzewodzących
nawet podczas analizy małych powierzchni. System oparty
na połączeniu niskich energii jonów i elektronów jest wymagany. Jony i elektrony powinny być wytwarzane z jednego
5. źródła. Pojedynczy tryb pracy powinien zapewnić optymalną neutralizację dla wszystkich próbek i rodzajów eksperymentu. System powinien zawierać automatyczną obsługę
gazu Ar. System operacyjny spektrometru powinien zawierać funkcję automatycznego odgazowania i procedury kondycjonowania fillamentów.
TAK
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
Lp
Nazwa parametru
Wielkość
parametru
Działo jonowe
Działo jonowe o wysokiej wydajności może pracować zarówno w trybie klastra jak i pojedynczych atomów. W trybie
monoatomowym, działo jonowe musi oferować wysoką wydajność od 200 eV do 4 keV. W trybie klastra działo jonowe
musi zaoferować napięcia przyspieszania od 2 keV do 8
keV i średnie rozmiary klastra do 2000 atomów, pozwalając na uzyskanie energii o wartości 1 eV na atom i powyżej
- odpowiedniej dla profilowania głębokościowego polimerów.
6.
System operacyjny musi kontrolować wszystkie parametry
działa jonowego i obsługę gazu, w tym zmianę trybów z
monatomowego na tryb klastra jonów. System powinien posiadać apertury i urządzenia pomiarowe w celu wsparcia
automatycznych procedur kalibracji działa jonowego . Apertury te muszą być zamontowane na stałe w komorze analizy i dostępne dla użytkownika. Oprogramowanie działa jonowego powinno zawierać funkcję automatycznego odgazowania i procedury kondycjonowania fillamentów.
TAK
Badania XPS małego obszaru
Wymagana rozdzielczość powierzchniowa 30 µm lub lep7. sza. Tryb ten musi umożliwiać zbieranie map chemicznych
przy wykorzystaniu ruchu stacji lub w inny sposób.
Analizator elektronów
TAK
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
Lp
Nazwa parametru
Powinien być sferyczny i wyposażony w wielokanałowy
detektor z co najmniej 128 kanałami wysokiej czułości XPS.
Detektor powinien posiadać równolegle opcję akwizycji do
szybkiego zbierania danych tzw. 'Snapshot' . Ze względu
na potrzebę dużej czułości przy wysokiej rozdzielczości
przestrzennej, urządzenie powinno posiadać duży kąt
akceptacji (> 60 °) promieniowania rentgenowskiego, oraz
co najmniej następujące wydajność XPS dla
monochromatyczn-ego promieniowania rentgenowskiego:
8.
1.0EV (FWHM) srebro, 3d5 / 2 o wysokości piku 2000000
cps - mierzona po usunięciu tła za pomocą interpolacji
liniowej dla promieniami promieniowanie X 400 µm na
poziomym wzorze srebra.
1.0EV (FWHM) srebro, 3d5 / 2 o wysokości piku 200000
cps mierzona po usunięciu tła za pomocą interpolacji liniowej dla promieniami promieniowanie X 30 µm na poziomym wzorze srebra
Zarówno wielkość plamki i czułość powinna być określona
w pozycji próbki normalnej, równolegle do osi transferu.
9. Specyfikacje powinny być wykazane przy użyciu mocy anody zalecanej do rutynowych analiz w każdym rozmiar
plamki.
Układ sterowania systemu
Wielkość
parametru
TAK
TAK
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
Lp
Nazwa parametru
Wielkość
parametru
Sterowanie komputerowe: system operacyjny musi być w
stanie kontrolować i automatycznie zapisywać parametry
plamki promieniowania rentgenowskiego, wszystkie ustawienia obiektywu analizatora i transferu, wszystkie ustawienia działa elektronowego typu „flood gun” oraz wszystkie
ustawienia działa jonowego. System operacyjny musi mieć
pełną kontrolę stacji próbki dla :wykonania wielopunktowych analiz, profilowania głębokościowego azymutalnego i
kompucentrycznego, skanów linowych oraz map. Rutyno10. we procedury tj. : pomiar rozmiaru punktowego, kalibracja
działa jonowego i kondycjonowanie fillamentów - powinny
być włączone do pełnej automatycznej kalibracji spektrometru rentgenowskiego. Aby uzupełnić te procedury, stanowisko indeksowanych standardów (Cu, Ag, Au) musi być
dostępne w każdej chwili w komorze analitycznej. Procedury powinny mieć zdolność do dostosowania i przygotowania
próbek standardowych przed pobraniem danych. Spektrometr powinien posiadać układ chłodzenia z zamkniętym
obiegiem wodnym.
TAK
Rozmiary systemu
Aby zmniejszyć obrys systemu spektrometru, systemy
próżniowe oraz wszystkie jednostki elektroniki i pompy
próżniowe powinny być zawarte w ciągu szaf systemowych. Podzespoły elektroniki powinny być zaprojektowane
w sposób modułowy łatwy do wymiany. Wszystkie tablice
elektroniczne powinny być montowane w obudowach, chłodzone wentylatorem i odpowiednio osłonięte. Aby zmniej11. szyć zakłócenia szumu sieciowego wszystkie płyty elektroniczne powinny być zasilane z zasilaczy 24V DC / 48V zasilaczy. Osłona wykorzystywana do wygrzewania systemu
powinny być zintegrowane w obudowie systemu bez potrzeby instalowania dodatkowych osłon termicznych.
Wszystkie przewody podłączone do głównej części układu
powinny być tak skonstruowane, aby podczas wygrzewania w temperaturze (> 120 ° C) mogły pozostać na miejscu.
System operacyjny spektrometru
TAK
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
Lp
Nazwa parametru
System operacyjny spektrometru kompatybilny z Windows
7 ™. System ten powinien zawierać kompleksowy pakiet
akwizycji danych i oprogramowania do przetwarzania, w
tym profilowania głębokościowego XPS, skanów liniowy
12. oraz map. System operacyjny spektrometru powinien
obejmować procedury do automatycznego zbierania danych i raportowania. Proste wklejenie danych, tabel, wykresów i zdjęć z systemu w aplikacje pakietu office musi być
umożliwiony.
Wielkość
parametru
TAK
Komputer
Powinien zawierać system oprogramowanie : system operacyjny, oraz system operacyjny spektrometru XPS. Powinien on zawierać kartę sieciową do łatwego tworzenia sieci,
13. zdalną kontrolę XPS oraz transferu pliku dany XPS. Dodatkowa Licencja typu off line system operacyjnego spektrometru XPS musi być dostarczona.
Podgląd próbki i kalibracja
TAK
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
Lp
Nazwa parametru
Poprawna kalibracja położenia próbki jest bardzo istotna
dla badań XPS małego obszaru . Narzędzie do nawigacji
próbki powinno obsługiwać kilka widoków kamery do ułatwienia wszelkich operacji nawigacyjnych.
Aby spełnić ten wymóg, przykładowe następujące widoki są
wymagane :
• pełny widok obszaru nośnika próbki - do przesuwania
próbki.
• powiększony obraz próbki dający w widok bezpośrednio
próbkę z akwizycją w czasie rzeczywistym. Ten widok powinien mieć maksymalne pole widzenia 6.0mm x 4.5mm.
Zastosowana kamera powinna posiadać opcję powiększe14. nia cyfrowego x8.
• kamera mikroskopowa o większym powiększeniu do dokładnego ustawienia wysokości próbki.
Powinno być możliwe, precyzyjne ustawienie pomiędzy
wszystkimi trzema widokami z kamer.
Wszystkie wyjścia kamera CCD powinny posiadać bezpośredni kanał do oprogramowania spektrometru umożliwiając bezpośrednie włączenie danych z kamer do raportów.
Dla najlepszego obrazu próbki kontrast dla wszystkich typów próbek oświetlenie jej obu strony jak i oświetlenie osiowe powinno być zapewnione. Oprogramowanie spektrometr powinno zapewnić pełną kontrolę poziomu oświetlenia
z obu źródeł.
Kalibracja i justowanie
Dane XPS oraz jego precyzja i dokładność jest zależna od
jakości i częstotliwości kalibracji spektrometru oraz jego
ustawień. Z tego powodu oprogramowanie w wygony dla
użytkownika sposób powinno kontrolować zautomatyzowane procedury. Aby to umożliwić, urządzenie musi zawierać
stałe wyposażenie komory analizy w postaci standardów i
przysłon, a także oprogramowanie do pozyskania i przetworzenia danych.
15. Instrument powinien oferować autokalibrację dla następujących funkcji:
• liniowość skali Energii
• Funkcja transmisji
• X-ray : kalibracji plamki
• Tryby działa jonowego : tuning i justowanie
• Flood gun : justowanie
• optymalizację obiektywu elektronów spektroskopu
• optymalizację detektora
Wielkość
parametru
TAK
TAK
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
Lp
Nazwa parametru
Wielkość
parametru
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
Automatyzacja
Możliwość włączenia automatycznych funkcji dla obsługi
próbek, kontroli próżni i akwizycji danych umożliwiających
pracę spektrometru w środowisku wielu użytkowników wraz
z innymi technikami analitycznymi.
Aby spełnić te wymagania, spektrometr powinien obejmować następujące funkcje:
16.
• Automatyczne przeniesienie próbki.
• Automatyczna kontrola próżni i wpuszczania gazu.
• Automatyczna regulacja wysokości próbki.
• Automatyczne akwizycja oraz skanowanie całego spectrum jak i wysokiej rozdzielczości wąskiego zakresu widma.
• Automatyczna interpretacja danych i kwantyfikacji
TAK
• Automatyczne raportowanie danych.
AKCESORIA
17. Zestaw do skanowania próbek 3D
Zestaw do przygotowania próbek: Liofilizator, Chłodziarka,
Eksykator, Mikrotom, Wibratom, Dejonizator, Myjka, Mie18.
szadło, Wytrząsarka z akc., Suszarka, Wagoszuszarka, Komora laminarna, Ph-metr, Przecinarka do próbek
TAK
TAK
1.2.2. WYMAGANIA DODATKOWE
Lp.
Nazwa parametru
Wielkość
parametru
Wielkość parametru oferowanego urządzenia1
Wymagania dodatkowe
1
Dostawca ma obowiązek wypełnić wszystkie pola kolumny. Brak spełnienia któregokolwiek z wymaganych parametrów lub brak wpisu informującego o oferowanych parametrach powoduje odrzucenie oferty
Lp.
1.
2.
3.
4.
Nazwa parametru
Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu,
urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w
miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym
przez obie strony (dla min. 2 osób)
Szkolenie (min. 4 dni) aplikacyjne w zakresie
zaawansowanej obsługi systemu XPS i użytkowania
oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w
terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2
osób)
Szkolenie w zakresie obsługi spektrometru w
certyfikowanym laboratorium producenta (min. 5 dni)
Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku
polskim lub angielskim
5.
Zestaw części zużywalnych
6.
Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 48 godzin2
7.
Okres bezpłatnej obsługi serwisowej.
8.
Okres pełnej gwarancji zarówno na całe urządzenie jak
i wszystkie jego podzespoły
Wielkość
parametru
Wielkość parametru oferowanego urządzenia
TAK
TAK
TAK
TAK
Minimum na 2
lata
TAK
minimum 24
miesiące
minimum 12
miesięcy
2. PARAMETRY TRANSPORTOWO – INSTALACYJNE
Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone analizy i wykazanie wyspecyfikowanych parametrów.
3. TERMIN WYKONANIA
Czas realizacji dostawy urządzenia: – od …......... 2013 roku do …............. 2013 r.
2
Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta
do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych