ETD 4918

OPISY KURSÓW
•
Kod kursu:
ETD 4918
•
Nazwa kursu:
Niezawodność w elektronice i fotonice
•
Język wykładowy:
polski
Forma kursu
Wykład
Tygodniowa
liczba godzin
ZZU *
Semestralna
15
liczba godzin
ZZU*
Forma
Kolokwium
zaliczenia
Punkty ECTS
3
Liczba godzin
60
CNPS
Ćwiczenia
Laboratorium
Projekt
Seminarium
•
Poziom kursu (podstawowy/zaawansowany): studia II stopnia niestacjonarne
(zaoczne), podstawowy
•
Wymagania wstępne:
•
Imię, nazwisko i tytuł/ stopień prowadzącego: Teodor Gotszalk, dr hab. inŜ.
•
Imiona i nazwiska oraz tytuły/stopnie członków zespołu dydaktycznego:
•
Rok: ......II...... Semestr:...........4.............
•
Typ kursu (obowiązkowy/wybieralny): obowiązkowy
•
Cele zajęć (efekty kształcenia):
•
Forma nauczania (tradycyjna/zdalna): tradycyjna
• Krótki opis zawartości całego kursu: Przedmiotem kursu jest prezentacja
podstawowych modeli, charakterystyk i procedur związanych z metodami zapewnienia
niezawodnej pracy systemów technicznych stosowanych w elektronice i fotonice.
•
Wykład (podać z dokładnością do 2 godzin):
Zawartość tematyczna poszczególnych godzin wykładowych
Liczba godzin
2
1. Jakość a niezawodność, podstawowe definicje i modele niezawodności,
niezawodność a gotowość operacyjna.
2
2. Systemy naprawialne i nienaprawialne, modele rozkładów trwałości.
1
3. Funkcja niezawodności, intensywność uszkodzeń, krzywa „wannowa”.
1
4. Rozkłady Weibulla i Eyringa.
2
5. Analiza i diagnostyka uszkodzeń, statystyka ekstremów.
2
6. Modele „fizycznego przyśpieszenia”, relacje stres-trwałość.
2
7. Analiza drzewa uszkodzeń, blokowe diagramy niezawodności.
2
8. Niezawodność i diagnostyka systemów i nanosystemów.
9. Akwizycja i analiza danych z badań niezawodności
1
1
•
Ćwiczenia - zawartość tematyczna:
•
Seminarium - zawartość tematyczna:
•
Laboratorium - zawartość tematyczna:
•
Projekt - zawartość tematyczna:
• Literatura podstawowa:
1. Alyson Wilson, Nikolaos Limnios, Sallie Keller-Mc-Nulty, Yvonne Armijo, Modern
Statistical and Mathematical Methods in Raliability, World Scientific, New Jersey 2005.
2. NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods,
http://www.itl.nist.gov/div898/handbook/, date
3. http://www.weibull.com/
•
Literatura uzupełniająca:
•
Warunki zaliczenia:
* - w zaleŜności od systemu studiów
2
DESCRIPTION OF THE COURSES
•
Course code:
ETD 4918
•
Course title:
Reliability in electronics and photonics
•
Language of the lecturer:
Course form
Lecture
Number
of hours/week*
Number
15
of hours/semester*
Form of the course Colloquium
completion
ECTS credits
3
Total
Student’s
60
Workload
Polish
Classes
Laboratory
Project
Seminar
•
Level of the course (basic/advanced): second cycle studies, mode of study; part-time
extramural studies, basic
•
Prerequisites:
•
Name, first name and degree of the lecturer/supervisor: Teodor Gotszalk, PhD, DSc
•
Names, first names and degrees of the team’s members:
•
Year:......II.......... Semester:........4..............
•
Type of the course (obligatory/optional): obligatory
•
Aims of the course (effects of the course):
•
Form of the teaching (traditional/e-learning): traditional
• Course description: The goal of the course is presentation of essential models,
methods of characterizations, and procedures linked with reliability assurance of technical
systems in electronics and photonics.
•
Lecture:
Particular lectures contents
1. Quality versus reliability, basic terms and models used for reliability
evaluation, relationship between availability and reliability.
2. Repairable and non-repairable systems, lifetime distribution models.
3. Reliability function, failure rate ,”bathtub” curve.
4. Characteristics of the Weibull and Eyring distributions.
5. Failure modes analysis and diagnostics, extreme value distribution.
6. Models of “physical acceleration”, life-stress relationships.
7. Fault tree analysis, reliability block diagrams
8. System and nanosystem reliability and diagnostics
9. Reliability data collection and analysis
•
Classes – the contents:
•
Seminars – the contents:
Number of hours
2
2
1
1
2
2
2
2
1
3
•
Laboratory – the contents:
•
Project – the contents:
•
Basic literature:
1. Alyson Wilson, Nikolaos Limnios, Sallie Keller-Mc-Nulty, Yvonne Armijo, Modern
Statistical and Mathematical Methods in Raliability, World Scientific, New Jersey 2005.
2. NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods,
http://www.itl.nist.gov/div898/handbook/, date
3. http://www.weibull.com/
•
Additional literature:
•
Conditions of the course acceptance/credition:
* - depending on a system of studies
4