Problemy pomiaru charakterystyki spektralnej optycznej krotnicy

2011
Problemy pomiaru charakterystyki spektralnej
optycznej krotnicy przeplotowej UDWDM
Jan Lamperski
Streszczenie— W prezentowanej pracy przedstawiono metodę
pomiaru właściwości optycznych przeplotowych krotnic
światłowodowych przeznaczonych dla systemów z ultra gęstym
(3.125 GHz) zwielokrotnieniem falowym.
Słowa kluczowe — Zwielokrotnienie falowe, optyczne krotmice
przeplotowe.
I. WSTĘP
W
E współczesnych systemach światłowodowych pasywne
elementy optyczne odgrywają znaczącą rolę. Wśród
nich na szczególną uwagę zasługują przyrządy optyczne,
których charakterystyki zależą od długości fali. Komponenty
tego typu są niezbędne do realizacji sieci fotonicznych z
zastosowaniem multipleksji falowej.
Pomiary spektralne filtrów optycznych, krotnic falowych
oraz
optycznych
krotnic
transferowych
najczęściej
realizowane są z wykorzystaniem analizatorów widma stosując
jako źródło światła przestrajalne lasery lub szerokopasmowe
źródła ASE.
Podjęte badania miały na celu opracowanie metodyki
pomiaru oryginalnych konstrukcji optycznych krotnic
przeplotowych przeznaczonych do systemów z ultra gęstym
zwielokrotnieniem falowym.
Komercyjnie dostępne krotnice przeplotowe posiadają
zwykle odstępy międzykanałowe wynoszące 50 lub 25 GHz.
Pomiar właściwości spektralnych takich elementów może być
zrealizowany za pomocą standardowych systemów
pomiarowych.
Na Rys. 1 – 2 przedstawiono charakterystyki przykładowej
krotnicy.
Pomiary
wykonano
analizatorem
widma
wykorzystując szerokopasmowe źródło ASE.
Rys. 1. Charakterystyka krotnicy (dolna krzywa) oraz widmo źródła ASE
(krzywa górna).
Rys. 2. Szczegóły charakterystyki spektralnej krotnicy.
II. POMIAR KROTNIC PRZEPLOTOWYCH DLA SYSTEMÓW
UDWDM
Jan
Lamperski,
Katedra
Systemów
Telekomunikacyjnych
i
Optoelektroniki, Politechnika Poznańska, ul. Polanka 3, 60-965 Poznań,
(Tel.: +48-61-6653809; e-mail: [email protected]).
Rozdzielczość klasycznych analizatorów widma nie jest
wystarczająca do realizacji pomiarów krotnic przeznaczonych
dla systemów, w których odstępy pomiędzy optycznymi
częstotliwościami nośnymi wynoszą kilka GHz (Rys. 3). W
związku z tym do pomiarów wykorzystano własną konstrukcję
analizatora widma wysokiej rozdzielczości wykorzystującego
przestrajalny elaton Fabry-Perot (Rys. 4).
Rys. 3.
Rezultaty próby pomiaru krotnicy UDWDM klasycznym
analizatorem widma.
Rys. 6. Charakterystyka krotnicy w szerokim zakresie częstotliwości.
Rys. 4. Głowica pomiarowa analizatora Fabry-Perot..
Dla systemów UDWDM zaproponowano zastosowanie
krotnic, których konstrukcja bazuje na konfiguracji MachaZehndera (Rys. 5).
Rys. 6. Fragment charakterystyki krotnicy ograniczony filtrem optycznym.
W drugim przypadku liczba obserwowanych pików
pomiarowych ograniczona była wąskopasmowym filtrem
Bragga.
III. WNIOSKI
Rys. 5. Krotnica przeplotowa w konfiguracji interferometru Mach-Zehndera.
Charakterystyczna częstotliwość przeplotu tego typu
krotnicy zależy od różnicy czasu propagacji (różnicy długości
włókien) gałęzi górnej i dolnej.
Wyniki
pomiarów
charakterystyk
spektralnych
światłowodowej krotnicy M-Z pokazano na Rys. 6-7.
Uzyskane wyniki potwierdzają możliwość pomiaru i
precyzyjnego zestrojenia budowanych krotnic przeplotowych
przeznaczonych do zastosowania w systemach UDWDM.
LITERATURA
[1]
K. Perlicki, Pomiary w optycznych systemach telekomunikacyjnych, WKŁ,
2002.